[發明專利]一種蜂窩夾層結構的粘接界面的金相檢測方法無效
| 申請號： | 201210254267.4 | 申請日： | 2012-07-20 |
| 公開（公告）號： | CN102928433A | 公開（公告）日： | 2013-02-13 |
| 發明（設計）人： | 范金娟;侯學勤;王占彬;劉含洋 | 申請（專利權）人： | 中國航空工業集團公司北京航空材料研究院 |
| 主分類號： | G01N21/88 | 分類號： | G01N21/88;G01N1/32;G01N1/06 |
| 代理公司： | 中國航空專利中心 11008 | 代理人： | 陳宏林 |
| 地址： | 100095*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 蜂窩 夾層 結構 接界 金相 檢測 方法 | ||
1.一種蜂窩夾層結構的粘接界面的金相檢測方法，其特征在于：該方法的步驟是：
(1)在蜂窩夾層結構件上切取試樣(6)，試樣(6)切取垂直于蒙皮(1)的方向，即平行于蜂窩壁(2)，切取試樣(6)的位置和數量應滿足以下條件：
1．1厚度尺寸無變化的平板蜂窩夾層結構，分別在中間和邊緣切取至少兩個試樣(6)；
1．2厚度尺寸變化的蜂窩夾層結構，分別在厚試最大和最小處切取至少兩個試樣(6)；
1．3蒙皮厚度變化的蜂窩夾層結構，在蒙皮厚度變化位置切取至少兩個試樣(6)；
1．4蜂窩拼接制成的蜂窩夾層結構，在蜂窩拼接位置切取至少兩個試樣(6)；
1．5曲面蜂窩夾層結構，在弧形曲率拐點的位置切取試樣(6)，每個位置至少切取兩個；
(2)磨制金相試樣或冷鑲嵌后磨制金相試樣；
(2)在光學顯微鏡下，測量蜂窩壁(2)進入膠粘劑(3)的深度D、膠粘劑(3)在蜂窩壁(2)表面爬升的高度H、膠粘劑與蜂窩壁(2)的粘接界面(4)的長度L；
蜂窩壁(2)進入膠粘劑(3)的深度D是指蜂窩壁(2)埋入膠粘劑表面(5)以下的長度，膠粘劑表面(5)是膠粘劑(3)不與蜂窩壁(2)膠接處在固化后形成的界面；
膠粘劑(3)在蜂窩壁(2)表面爬升的高度H是指膠粘劑與蜂窩壁(2)的粘接界面(4)的最高點與膠粘劑表面(5)之間的長度；
膠粘劑與蜂窩壁(2)的粘接界面(4)的長度L是指蜂窩壁(2)兩側所有的蜂窩壁(2)進入膠粘劑(3)的深度D和膠粘劑(3)在蜂窩壁(2)表面爬升的高度H的和。
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