[發明專利]帶電水沖洗清洗效率測量方法有效
| 申請號: | 201210253991.5 | 申請日: | 2012-07-20 |
| 公開(公告)號: | CN102749098A | 公開(公告)日: | 2012-10-24 |
| 發明(設計)人: | 黃松波;陳勉;蘇杏志;王建國;劉根才;金向朝;薛健;詹清華;林秀欽;廖一帆;袁仁超;岳浩;周杰 | 申請(專利權)人: | 廣東電網公司佛山供電局;武漢大學 |
| 主分類號: | G01D21/00 | 分類號: | G01D21/00 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 黃曉慶;王茹 |
| 地址: | 528000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 帶電 沖洗 清洗 效率 測量方法 | ||
1.一種帶電水沖洗清洗效率測量方法,其特征在于,包括步驟:
采用預設染污方法在待測絕緣子表面上進行染污;
采用帶電水沖洗設備對陰干后的所述染污后的待測絕緣子進行沖洗;
對沖洗后的所述染污后的待測絕緣子表面的殘余污穢進行測量;
根據所述殘余污穢確定帶電水沖洗效率。
2.根據權利要求1所述的帶電水沖洗清洗效率測量方法,其特征在于,所述待測絕緣子包括瓷或玻璃懸式絕緣子、支柱絕緣子及套管。
3.根據權利要求1所述的帶電水沖洗清洗效率測量方法,其特征在于,所述預設染污方法為固體層法,所述染污過程包括:
根據選定污穢等級對應的鹽密值、灰密值以及所述待測絕緣子的表面面積確定進行染污的染污成分的用量,所述染污成分包括氯化鈉與硅藻土、或者氯化鈉與高嶺土;
將所述用量的染污成分與相應量的蒸餾水、糊精攪拌均勻后,均勻涂刷在所述待測絕緣子的表面。
4.根據權利要求3所述的帶電水沖洗清洗效率測量方法,其特征在于,所述氯化鈉的稱量誤差在±1%以內,所述硅藻土的稱量誤差在±10%以內,所述蒸餾水的電導率小于10μs/cm,糊精的用量為1000mL水中加5-30g。
5.根據權利要求1所述的帶電水沖洗清洗效率測量方法,其特征在于,采用帶電水沖洗設備對陰干后的所述染污后的待測絕緣子進行沖洗包括步驟:
用帶電水沖洗設備在設定水柱壓力、設定水柱角度下將陰干后的所述染污后的待測絕緣子沖洗設定清洗時間,所述設定水柱壓力根據帶電水沖洗作業常用壓力確定,所述設定水柱角度為水柱與絕緣子軸心方向在待測絕緣子中部的銳角,所述設定清洗時間根據所述待測絕緣子的日常作業時間確定。
6.根據權利要求1所述的帶電水沖洗清洗效率測量方法,其特征在于,對沖洗后的所述染污后的待測絕緣子表面的殘余污穢進行測量包括步驟:
對所述殘余污穢進行采樣獲得采樣污穢;
將所述采樣污穢浸泡入設定體積的去離子水得到混合后污水,在所述混合后污水的體積電導率達到穩定后,測量達到穩定狀態后的混合后污水的體積電導率以及溫度值,并根據該體積電導率以及溫度值確定所述混合后污水在設定溫度下的體積電導率;
對所述混合后污水過濾烘干后稱重,獲得采樣污穢的污穢總重量;
根據所述設定溫度下的體積電導率、所述污穢總重量、所述待測絕緣子的絕緣體表面積確定所述待測絕緣子的殘余鹽密值、殘余灰密值;
根據所述殘余鹽密值、所述殘余灰密值、以及選定污穢等級對應的鹽密值、灰密值確定所述待測絕緣子的帶電水沖洗清洗效率,所述帶電水沖洗清洗效率包括鹽密清洗效率、灰密清洗效率。
7.根據權利要求6所述的帶電水沖洗清洗效率測量方法,其特征在于,對所述殘余污穢進行采樣獲得采樣污穢的步驟包括:用3~30mL濕潤劑濕潤采樣布后,用濕潤后的采樣布擦拭所述待測絕緣子每片表面的污穢。
8.根據權利要求6所述的帶電水沖洗清洗效率測量方法,其特征在于,采用下式確定所述設定溫度下的體積電導率:
σt=σθ[1-b(θ-t)]
式中,t表示所述設定溫度,σt表示所述設定溫度下的體積電導率,σθ表示所述混合后污水的體積電導率,θ表示所述混合后污水的溫度值,b為根據θ確定的因數。
9.根據權利要求8所述的帶電水沖洗清洗效率測量方法,其特征在于:
所述設定溫度為20攝氏度;
和/或
采用式b=-3.2×10-8θ3+1.032×10-5θ2-8.272×10-4θ+3.544×10-2確定所述因數b。
10.根據權利要求6所述的帶電水沖洗清洗效率測量方法,其特征在于:
對所述混合后污水過濾烘干后稱重獲得采樣污穢的污穢總重量的步驟包括:
將標準濾紙完全烘干后稱重獲得抽濾前濾紙重量;
取預設數量的烘干后的所述標準濾紙平放在布氏漏斗底部,使用抽濾設備將所述混合后污水抽濾到抽濾瓶中;
將所述布氏漏斗中的濾紙完全烘干后,測量烘干后的濾紙的指令,獲得抽濾后濾紙重量;
將所述抽濾后濾紙重量減去所述抽濾前濾紙重量獲得所述污穢總重量;
和/或
采用下式確定所述待測絕緣子的殘余鹽密值、殘余灰密值:
Sa=(5.7σ20)1.03
ESDDRn=Sa×V/A
NSDDRn=1000(Wf-Wi-Wb)/A
式中,ESDDRn表示所述待測絕緣子的殘余鹽密值,NSDDRn表示所述待測絕緣子的殘余灰密值,σ20表示所述混合后污水在20攝氏度下的體積電導率,V表示蒸餾水的體積,A表示所述待測絕緣子的絕緣體表面面積,Wf表示干燥條件下含污穢過濾紙、污穢專用采樣布的重量,Wi表示在干燥條件下過濾紙自身的重量,Wb表示在干燥條件下原采樣布的烘干重;
和/或
采用下式確定所述帶電水沖洗清洗效率:
式中,表示所述鹽密清洗效率,表示所述灰密清洗效率,ESDDn表示選定污穢等級對應的等值鹽密值,NSDDn表示所述選定污穢等級對應的灰密值。
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