[發明專利]靜電保護結構有效
| 申請號: | 201210253787.3 | 申請日: | 2012-07-20 |
| 公開(公告)號: | CN103579218A | 公開(公告)日: | 2014-02-12 |
| 發明(設計)人: | 王邦麟;蘇慶 | 申請(專利權)人: | 上海華虹NEC電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/02 | 分類號: | H01L27/02 |
| 代理公司: | 上海浦一知識產權代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁紀鐵 |
| 地址: | 201206 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 靜電 保護 結構 | ||
1.一種靜電保護結構,其特征是,包括:一N+/P阱二極管和一多晶硅二極管;
所述N+/P阱二極管其P阱通過P+擴散區連接地電位,其N+擴散區通過金屬連線與所述多晶硅二極管的一矩形P+擴散區相連;
所述多晶硅二極管包括:形成在P-多晶硅襯底上的兩個P+擴散區和兩個N+擴散區;所述P+擴散區分列于所述N+擴散區兩側,其中一P+擴散區為矩形,另一P+擴散區呈由靠近N+擴散區向遠離N+擴散區方向寬度逐漸增加的階梯形結構;所述N+擴散區在靠近階梯形P+擴散區的一側形成與階梯形P+擴散區相對應的階梯形結構;所述N+擴散區通過金屬連線并連后接電源電位,所述階梯形P+擴散區通過金屬連線接輸出/入端口。
2.如權利要求1所述的靜電保護結構,其特征是:所述多晶硅二極管具有一中心剖線(b-b),所述階梯形P+擴散區沿中心剖線(b-b)呈對稱分布。
3.一種靜電保護結構,其特征是,包括:一P+/N阱二極管和一多晶硅二極管;
所述P+/N阱二極管其N阱通過N+擴散區連接電源電位,其P+擴散區通過金屬連線與所述多晶硅二極管的一矩形N+擴散區相連;
所述多晶硅二極管包括:形成在N-多晶硅襯底上的兩個P+擴散區和兩個N+擴散區;所述N+擴散區分列于所述P+擴散區兩側,其中一N+擴散區為矩形,另一N+擴散區呈由靠近P+擴散區向遠離P+擴散區方向寬度逐漸增加的階梯形結構;所述P+擴散區在靠近階梯形N+擴散區的一側形成與階梯形N+擴散區相對應的階梯形結構;所述P+擴散區通過金屬連線并連后接地電位,所述階梯形N+擴散區通過金屬連線接輸出/入端口。
4.如權利要求3所述的靜電保護結構,其特征是:所述多晶硅二極管具有一中心剖線(c-c),所述階梯形N+擴散區沿所述中心剖線(c-c)呈對稱分布。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





