[發明專利]基于片上系統或系統級封裝的內建自測試系統

無效

• 申請號: 201210253425.4
• 申請日: 2012-07-20
• 公開（公告）號: CN102768336A
• 公開（公告）日: 2012-11-07
• 發明（設計）人: 朱洪宇;李慧云;徐國卿
• 申請（專利權）人: 中國科學院深圳先進技術研究院
• 主分類號: G01R31/3181
• 分類號: G01R31/3181;G01R31/3183
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

1.一種基于片上系統或系統級封裝的內建自測試系統，其特征在于，包括：

波形發生器，用于生成測試用電壓激勵信號；

波形控制器，與所述波形發生器相連接，用于接收并處理所述測試用電壓激勵信號，輸出波形參數可控的數字激勵信號；

數模轉換器，與所述波形控制器耦接，用于接收所述數字量激勵信號并將所述數字量激勵信號轉換為模擬量激勵信號；

待測模數轉換器，與所述數模轉換器耦接，用于將所述模擬量激勵信號轉換為數字序列并將所述數字序列輸送至所述波形控制器；以及

處理器，與所述波形控制器相連接，用于向所述波形控制器輸入控制所述數字量激勵信號波形參數的指令、通過所述波形控制器采集所述數字序列并轉換為直方圖數據進行保存。

2.根據權利要求1所述的基于片上系統或系統級封裝的內建自測試系統，其特征在于，所述波形發生器包括數字正弦波發生器與數字三角波發生器，所述數字正弦波發生器應用于測試所述待測模數轉換器的動態參數，所述數字三角波發生器應用于測試所述待測模數轉換器的靜態參數。

3.根據權利要求2所述的基于片上系統或系統級封裝的內建自測試系統，其特征在于，所述數字正弦波發生器為基于DDS的數字正弦波發生器。

4.根據權利要求1所述的基于片上系統或系統級封裝的內建自測試系統，其特征在于，所述波形參數為所述數字量激勵信號的波形頻率、初始相位與周期數。

5.根據權利要求1所述的基于片上系統或系統級封裝的內建自測試系統，其特征在于，還包括濾波器，所述濾波器分別與所述數模轉換器以及所述待測模數轉換器耦接，用于消除所述數模轉換器所產生的干擾信號。

6.根據權利要求1所述的基于片上系統或系統級封裝的內建自測試系統，其特征在于，還包括放大器，所述放大器的輸入端與所述數模轉換器的輸出端相連，輸出端與所述待測模數轉換器的輸入端耦接，用于調整所述模擬量激勵信號的幅值。

7.根據權利要求1所述的基于片上系統或系統級封裝的內建自測試系統，其特征在于，還包括數字復用器與模擬復用器，所述數字復用器連接于所述波形控制器及所述數模轉換器之間，用于在測試時將所述數字量激勵信號傳送至數模轉換器；所述模擬復用器連接于所述數模轉換器與所述待測模數轉換器之間，用于在測試時將所述模擬量激勵信號傳送至待測模數轉換器。

8.根據權利要求7所述的基于片上系統或系統級封裝的內建自測試系統，其特征在于，所述數字復用器還用于在非測試時將模擬量輸入信號傳送至待測模數轉換器，所述數字復用器還用于在非測試時將輸入的數字量中間信號傳送至數模轉換器，所述模擬量輸入信號經所述待檢測模數轉換器轉換成所述數字量中間信號。

9.根據權利要求1所述的基于片上系統或系統級封裝的內建自測試系統，其特征在于，還包括存儲器，所述存儲器與所述處理器相連，用于存儲理論靜態參數值與理論動態參數值。