[發(fā)明專利]具有檢測(cè)器窗保護(hù)特征的X 射線分析裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210252223.8
• 申請(qǐng)日: 2012-07-19
• 公開（公告）號(hào): CN102890096A
• 公開（公告）日: 2013-01-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: M·德魯米
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 奧林巴斯NDT公司
• 主分類號(hào): G01N23/223
• 分類號(hào): G01N23/223
• 代理公司: 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇;張會(huì)華

1.一種輻射發(fā)射材料檢驗(yàn)裝置，其包括：

手持式裝置殼體；

輻射發(fā)射器，其位于所述裝置殼體中并且被構(gòu)造成朝向檢驗(yàn)對(duì)象發(fā)射輻射；

輻射檢測(cè)器，其被收納于由密封窗封閉的室并且被構(gòu)造成檢測(cè)所述檢驗(yàn)對(duì)象的輻射，所述檢驗(yàn)對(duì)象的輻射因所述檢驗(yàn)對(duì)象暴露于所述輻射發(fā)射器的輻射而引起；以及

保護(hù)蓋機(jī)構(gòu)，其安裝到所述檢驗(yàn)裝置并且被構(gòu)造成具有至少關(guān)閉位置和打開位置，在所述關(guān)閉位置，進(jìn)出所述密封窗的通路被覆蓋或遮擋，在所述打開位置，所述密封窗露出以允許輻射進(jìn)出的通路不受阻礙。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述保護(hù)蓋機(jī)構(gòu)包括能樞轉(zhuǎn)地安裝的蓋板和移動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述蓋板能在所述密封窗附近的樞軸上樞轉(zhuǎn)，所述移動(dòng)機(jī)構(gòu)被構(gòu)造成使所述蓋板在所述關(guān)閉位置和所述打開位置之間移動(dòng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述保護(hù)蓋機(jī)構(gòu)包括具有多個(gè)板的光圈機(jī)構(gòu)，所述多個(gè)板能在覆蓋所述密封窗的第一位置和使所述密封窗暴露于來自所述檢驗(yàn)對(duì)象的輻射的第二位置之間移動(dòng)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述保護(hù)蓋機(jī)構(gòu)包括具有多個(gè)板的風(fēng)扇式蓋，所述多個(gè)板被構(gòu)造成能在堆狀重疊狀態(tài)和展開狀態(tài)之間移動(dòng)，在所述堆狀重疊狀態(tài)，所述板彼此重疊以使所述密封窗露出；在所述展開狀態(tài)，所述板協(xié)作以覆蓋所述密封窗。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述保護(hù)蓋機(jī)構(gòu)包括能移動(dòng)地安裝到所述裝置殼體的前表面的蓋，以使所述蓋在所述打開位置和所述關(guān)閉位置之間移動(dòng)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述檢驗(yàn)裝置還包括碎片檢測(cè)器，所述碎片檢測(cè)器被構(gòu)造成檢測(cè)位于所述密封窗附近的碎片的存在。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述碎片檢測(cè)器包括安裝至密封膜的至少一個(gè)應(yīng)變傳感器，當(dāng)所述至少一個(gè)應(yīng)變傳感器感測(cè)到碎片使所述密封膜產(chǎn)生應(yīng)變時(shí)，所述至少一個(gè)應(yīng)變傳感器提供指示碎片的信號(hào)。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述碎片檢測(cè)器包括光檢測(cè)器，所述光檢測(cè)器檢測(cè)位于所述密封窗附近的碎片的存在。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述碎片檢測(cè)器包括磁接近傳感器。

10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述檢驗(yàn)裝置還包括用戶致動(dòng)的觸發(fā)開關(guān)，所述觸發(fā)開關(guān)被構(gòu)造成當(dāng)其被激活時(shí)使所述保護(hù)蓋機(jī)構(gòu)移動(dòng)到所述打開位置，以允許進(jìn)入測(cè)量模式。

11.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述檢驗(yàn)裝置還包括所述保護(hù)蓋機(jī)構(gòu)用的移動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述移動(dòng)機(jī)構(gòu)響應(yīng)于所述碎片檢測(cè)器以使所述保護(hù)蓋自動(dòng)移動(dòng)到所述關(guān)閉位置。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述移動(dòng)機(jī)構(gòu)包括施力元件，只要沒有為所述檢驗(yàn)裝置提供電力，所述施力元件就使所述保護(hù)蓋機(jī)構(gòu)返回到其關(guān)閉位置。

13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述移動(dòng)機(jī)構(gòu)是機(jī)械移動(dòng)器。

14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述移動(dòng)機(jī)構(gòu)包括纜線和滑輪系統(tǒng)。

15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述移動(dòng)機(jī)構(gòu)包括彈簧，所述彈簧的結(jié)構(gòu)位置使得其能夠使所述保護(hù)蓋機(jī)構(gòu)向所述關(guān)閉位置的移動(dòng)加速。

16.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述輻射發(fā)射器是X射線發(fā)射器，其中，所述輻射檢測(cè)器是硅漂移檢測(cè)器或PiN二極管檢測(cè)器。

17.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述檢驗(yàn)裝置包括手持式X射線熒光儀。

18.根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述保護(hù)蓋機(jī)構(gòu)被構(gòu)造成在檢測(cè)到所述碎片時(shí)自動(dòng)且立即返回所述關(guān)閉位置。

19.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述密封窗由薄的易破材料制成。

20.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述檢驗(yàn)裝置還包括處理控制器、顯示器和圖形用戶界面，所述圖形用戶界面被構(gòu)造成當(dāng)所述保護(hù)蓋處于打開位置時(shí)通知用戶。