[發明專利]一種用于龍芯服務器主板的內存電壓的測試方法

在審

• 申請號: 201210252083.4
• 申請日: 2012-07-20
• 公開（公告）號: CN102880534A
• 公開（公告）日: 2013-01-16
• 發明（設計）人: 鄧建廷;劉小亮;李華
• 申請（專利權）人: 曙光信息產業（北京）有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京安博達知識產權代理有限公司 11271
• 代理人: 徐國文

1.一種用于龍芯服務器主板的內存電壓的測試方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟：

測試前

（1）將至少一個的內存電源轉接卡插入龍芯服務器主板；

（2）將相鄰的兩個所述內存電源轉接卡通過轉接卡互聯線連接；

（3）將示波器的探頭與所述內存電源轉接卡連接；

（4）將電子負載儀通過負載線與所述內存電源轉接卡連接；

測試中

（5）對所述示波器校準；

（6）所述龍芯服務器主板上電，調節所述電子負載儀電流，對內存電壓進行靜態電流測試；

（7）調節所述電子負載儀負載大小、頻率和電流變化率SR，對內存電壓進行動態電流測試；

測試后

（8）所述示波器、所述龍芯服務器主板和所述電子負載儀斷電。

2.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述內存電壓包括內存電壓VDDQ和內存電壓VTT。

3.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，步驟（6）中對所述內存電壓VDDQ進行靜態電流測試包括如下步驟：

（6-1）設定所述電子負載儀的最小電流值，并加載；

（6-2）將所述電子負載儀的電流值從小到大連續調節，直至得到計算的TDC電流值；

（6-3）所述示波器記錄電壓和紋波大小；

（6-4）繼續增大所述電子負載儀電流值，直至所計算得到的PEAK值；

（6-5）減小所述電子負載儀電流值。

4.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，步驟（6）中所述內存電壓VTT進行靜態電流測試包括如下步驟：

（6-a）設定所述電子負載儀的負電流輸入端最小電流值，并加載；

（6-b）將所述電子負載儀的電流值從小到大調節；

（6-c）所述示波器記錄內存電壓（VTT）電壓大小和紋波。

5.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，步驟（7）所述動態電流測試包括如下步驟：

（7-1）設定所述電子負載儀的最小頻率值和電流變化率SR，并加載；

（7-2）保持所述電流變化率SR不變，將所述電子負載儀的頻率值從小到大調節；

（7-3）所述示波器記錄電壓和紋波大小。

6.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，根據所述服務器主板所配置的內存規格和類型，結合內存廠商提供的內存規格說明書，記錄單條內存電壓VDDQ所需TDC電流值A1，PEAK電流值A2；記錄單條內存電壓VTT所需TDC電流值A3，PEAK電流值A4；記錄服務器主板CPU內存控制器所需內存電壓VDDQ的TDC電流大小A5，PEAK電流值為A6；

設服務器主板配置N條內存條，則測試指標計算公式如下：

TDC=(A1+A3)*N+A5；

PEAK=(A2+A4)*N+A6。

7.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，當所述內存電源轉接卡為兩個以上時，步驟（3）所述示波器的探頭設置兩組，分別與最外側的所述內存電源轉接卡連接。

8.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，步驟（3）所述探頭為差分探頭。

9.如權利要求8所述的測試方法，其特征在于，所述差分探頭采用Tektronix?P6247。

10.如權利要求3所述的測試方法，其特征在于，步驟（6-1）所述最小電流值為4A；步驟（6-a）所述最小電流值為-2.9A。

11.如權利要求5所述的測試方法，其特征在于，步驟（7-2）中測試所述內存電壓VDDQ時，電子負載儀的頻率值從1K-10K-50K-100K依次調節；測試所述內存電壓VTT時，電子負載儀的頻率值從1K-10K-50K-100K-400K依次調節。