[發明專利]掃描測試方法及電路有效
| 申請號： | 201210249748.6 | 申請日： | 2012-07-18 |
| 公開（公告）號： | CN102749574A | 公開（公告）日： | 2012-10-24 |
| 發明（設計）人： | 陳嵐;馮燕 | 申請（專利權）人： | 中國科學院微電子研究所 |
| 主分類號： | G01R31/3185 | 分類號： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 王寶筠 |
| 地址： | 100029 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 掃描 測試 方法 電路 | ||
【權利要求書】：
1.一種掃描測試方法，對具有RAM的掃描鏈進行掃描測試，其特征在于，包括：
將RAM進行初始化，以使RAM處于預定值；
掃描鏈處于移位寄存器狀態，進行測試向量的輸入，并保持RAM預定值；
掃描鏈處于工作狀態，將激勵加載至掃描鏈的初級輸入端，捕獲掃描鏈的測試輸出值；
掃描鏈處于移位寄存器狀態，進行測試輸出值的輸出。
2.根據權利要求1所述的掃描測試方法，其特征在于，通過掃描使能信號控制RAM的工作狀態。
3.根據權利要求1所述的掃描測試方法，其特征在于，在獲得測試輸出值和進行測試輸出值的輸出之間，還包括：掃描鏈處于工作狀態，進行鏈首輸出，以對掃描鏈的第一個輸出端進行檢測。
4.根據權利要求1-3中任一項所述的掃描測試方法，其特征在于，掃描測試具有多個測試周期，第n個測試周期的測試向量的輸入與第n+1個測試周期的測試輸出值的輸出同時進行。
5.一種掃描測試電路，其特征在于，包括具有RAM的掃描鏈，以及
RAM預定值保持模塊，用于在進行測試向量的輸入時，保持RAM的預定值。
6.根據權利要求5所述的掃描測試電路，其特征在于，所述RAM預定值保持模塊包括第一與門，所述第一與門的一個輸入端接掃描鏈的時鐘信號，另一個輸入端接掃描使能信號，所述第一與門的輸出端接RAM的時鐘信號。
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