[發(fā)明專利]用于分析具有填料顆粒的橡膠混合物的方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210249411.5 | 申請(qǐng)日: | 2012-07-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102954975A | 公開(公告)日: | 2013-03-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 伊藤和加奈;內(nèi)藤正登 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 住友橡膠工業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01N23/22 | 分類號(hào): | G01N23/22 |
| 代理公司: | 上海市華誠(chéng)律師事務(wù)所 31210 | 代理人: | 徐申民;杜娟 |
| 地址: | 日本國(guó)兵庫(kù)縣神戶*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 分析 具有 填料 顆粒 橡膠 混合物 方法 | ||
1.一種用于分析包含橡膠組分和填料顆粒的橡膠混合物的方法,其包括:
掃描透射電子顯微鏡STEM圖像獲取步驟,其中通過(guò)使用STEM獲得所述橡膠混合物的STEM圖像數(shù)據(jù);以及
解析步驟,用于解析所述STEM圖像或者基于所述STEM圖像原始數(shù)據(jù)的二次信息;
其中,在所述STEM圖像的獲得步驟中,所述掃描透射電子顯微鏡的焦點(diǎn)被設(shè)置在橡膠混合物試樣的厚度中心區(qū)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,
在所述STEM圖像獲取步驟中,所述橡膠混合物的試樣相對(duì)于所述掃描透射電子顯微鏡的中心軸傾斜,并且在橡膠混合物試樣的不同傾斜角度處取得STEM圖像,以及
所述解析步驟包括三維結(jié)構(gòu)重構(gòu)步驟,其中基于所述STEM圖像數(shù)據(jù),重構(gòu)所述橡膠混合物三維結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)集。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,
所述掃描透射電子顯微鏡的焦點(diǎn)被設(shè)置在所述橡膠混合物試樣基于視厚度的厚度中心區(qū)中,所述視厚度沿著貫穿橡膠混合物試樣的電子束軸的方向被測(cè)定。
4.如權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,
所述橡膠混合物的試樣的厚度為200至1500nm。
5.如權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,
在橡膠混合物試樣與用于掃描透射電子顯微鏡的透射電子的檢測(cè)器之間的距離為8至150cm。
6.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,
所述解析步驟還包括:
有限元模型生成步驟,其中,基于所述橡膠混合物的三維結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)集,生成所述橡膠混合物的有限元模型,使得所述有限元模型包括被分成有限數(shù)量個(gè)單元的橡膠組分區(qū)域、以及各自被分成有限數(shù)量個(gè)單元的填料顆粒區(qū)域;以及
模擬步驟,其中基于所述有限元模型,進(jìn)行所述橡膠混合物的變形模擬。
7.如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,
所述有限元模型生成步驟包括:
第一步驟,其中通過(guò)僅使用各自具有相同形狀的規(guī)則單元來(lái)設(shè)定所述橡膠混合物的第一有限元模型;
第二步驟,其中在所述第一有限元模型中至少部分地確定次分區(qū);以及
第三步驟,其中所述次分區(qū)中的各個(gè)單元被分割為兩個(gè)以上單元,以便生成所述橡膠混合物的有限元模型。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于住友橡膠工業(yè)株式會(huì)社,未經(jīng)住友橡膠工業(yè)株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210249411.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





