[發明專利]包含具有基本正方形面的磁體的角度測量系統

有效

• 申請號: 201210247264.8
• 申請日: 2012-06-08
• 公開（公告）號: CN102818517A
• 公開（公告）日: 2012-12-12
• 發明（設計）人: J·W·斯特林
• 申請（專利權）人: 英飛凌科技股份有限公司
• 主分類號: G01B7/30
• 分類號: G01B7/30
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 王岳;劉春元

1.一種角度測量系統，包括：

軸，沿著軸線延伸并且被配置為圍繞軸線軸向旋轉；

磁體，包含每個為基本正方形的第一和第二表面，其中第一和第二表面分別包含第一和第二孔，并且其中第一和第二孔限定該軸延伸通過的磁體中的通孔的范圍。

2.如權利要求1的角度測量系統，其中第一和第二表面是具有圓角的正方形表面。

3.如權利要求2的角度測量系統，進一步包括：

角度傳感器，被配置為在軸旋轉時測量由磁體產生的時變磁場以確定軸的旋轉角度。

4.如權利要求3的角度測量系統，其中該角度傳感器被固定于與軸線隔開的位置。

5.如權利要求2的角度測量系統，其中第一表面具有圍繞該軸線橫向設置的周界，該周界包括：

以第一距離與軸線隔開的第一邊緣；

垂直于第一邊緣并且以第一距離與軸線隔開的第二邊緣；

在第一邊緣和第二邊緣之間并且以比第一距離更大的第二距離與軸線隔開的圓形段。

6.如權利要求5的角度測量系統，其中第一邊緣和第二邊緣在延伸的情況下將在第一表面之外的交點處相遇，并且其中該交點與軸線以比第二距離更大的第三距離隔開。

7.如權利要求6的角度測量系統，其中第二距離近似為第一距離加上第三距離的和的一半。

8.如權利要求1的角度測量系統，進一步包括：

角度傳感器，被配置為在軸旋轉時測量由磁體產生的時變磁場從而確定該軸的旋轉角度。

9.如權利要求8的角度測量系統，其中該角度傳感器被固定于與磁體的中心軸線隔開的位置。

10.如權利要求8的角度測量系統，其中該角度傳感器包含位于接近軸的磁體內周界和磁體外周界之間的磁體的第一表面上的感測區域。

11.如權利要求8的角度測量系統，其中該角度傳感器包括：

半導體芯片，包含被布置為確定磁場方向性的磁阻阻性傳感器布置。

12.如權利要求11的角度測量傳感器，其中該半導體芯片包括一對彼此正交布置的MR傳感器電橋。

13.如權利要求8的角度測量系統，其中該角度傳感器包括：

超薄的導電、非鐵磁層；以及

一對鐵磁層，夾在該導電、非鐵磁層的相對側周圍。

14.一種系統，包括：

軸，沿著軸線延伸；

磁體，具有基本正方形的具有圓角的相對表面，其中該磁體包含中心孔，該軸通過該中心孔并且該磁體通過該中心孔被安裝到該軸。

15.如權利要求14的系統，進一步包括：

角度傳感器，被定位成通過在軸旋轉時測量由磁體產生的時變磁場來確定軸的旋轉角度。

16.如權利要求14的系統，其中該軸適于圍繞軸線旋轉通過多于360度的絕對角度。

17.如權利要求14的系統，其中該軸限于圍繞軸線旋轉360度或者更小。

18.如權利要求15的系統，其中該角度傳感器包括：

半導體芯片，包含被布置為協同確定磁場方向性的磁阻阻性(MR)傳感器布置。

19.如權利要求18的系統，其中該半導體芯片包括一對彼此正交布置的MR傳感器電橋。

20.如權利要求15的系統，其中該角度傳感器包括：

超薄的導電、非鐵磁層；以及

一對鐵磁層，夾在該導電、非鐵磁層的相對側周圍。