[發明專利]圖像顯示裝置的制造方法以及光學顯示組件的制造方法

有效

• 申請號: 201210245784.5
• 申請日: 2010-04-01
• 公開（公告）號: CN102809842A
• 公開（公告）日: 2012-12-05
• 發明（設計）人: 中園拓矢;梅本清司;瀧田智仁;島江文人;矢野祐樹;大澤曜彰
• 申請（專利權）人: 日東電工株式會社
• 主分類號: G02F1/1333
• 分類號: G02F1/1333;G02F1/1335;B32B37/00;B32B41/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 雒運樸

本申請是分案申請，其母案申請的申請號：201080002197.2，申請日：2010.4.1，發明名稱：光學膜輥狀卷料。

技術領域

本發明涉及將包括偏振元件的光學膜的長條片卷繞而成的在缺陷部位或者缺陷周邊部位形成有標記的輥狀卷料。進一步而言，本發明涉及將該輥狀卷料貼合到液晶單元等光學顯示組件而制造液晶顯示裝置等圖像顯示裝置的方法。

背景技術

近年來，對于在液晶顯示裝置等圖像顯示裝置中使用的偏光板等光學膜而言，隨著液晶電視等的大畫面化，對于顯示特性要求有所加強，對于光學的缺陷的要求變得嚴格。針對該要求，采用利用人工目視或自動檢查裝置對光學的缺陷進行檢測從而去除該缺陷的方法。另外，當檢測到缺陷時，若通過對其位置信息進行記錄從而將包含缺陷的部分從向光學顯示組件的貼合中去除，則能夠抑制光學膜所帶來的缺陷混入到作為最終制品的圖像顯示裝置，因此能夠減少光學膜的損失、降低進行從包含缺陷的不合格品的光學顯示組件剝離光學膜的再加工處理的比率，從而能夠有利于提高成品率、降低成本。

當檢測到缺陷時，作為對其位置信息進行記錄的方法，提出了一般利用墨液等對缺陷部位進行標記而印字的方法(例如，專利文獻1)、將關于缺陷檢測結果的信息作為條形碼、文字信息而電碼化并向膜印字的方法(例如，專利文獻2)、或將向IC芯片等記錄媒體記錄的內容附加到光學膜制品上的方法(例如，專利文獻3)等。

另外，當如專利文獻1、2那樣向光學膜進行印字時，該印字部位會因構成標記的墨液等的厚度相應導致厚度增加(雖然厚度增加微小)。因此，當卷繞光學膜而形成輥狀卷料時，印字部位的厚度的差異即凹凸變形因卷繞向與該印字部位相接的部分轉印，這導致產生印痕等變形，從而存在原本為合格品的部分產生新的缺陷的問題。基于抑制這種因轉印而產生缺陷的觀點，提出了在光學膜的有效寬度外即不是貼合到液晶單元等光學顯示組件上的部分的寬度方向的端部進行印字的方法(例如，專利文獻4)。

另外，除了對于缺陷的要求之外，對于圖像顯示裝置的成本降低的要求也逐年提高。基于滿足該要求的觀點，提出了如下的制造方法(專利文獻5)，即，具備：從卷繞有長條的光學膜的輥狀卷料抽出光學膜進行供給的供給機構、沿輸送方向以規定間隔切斷光學膜的切斷機構、將被切斷的光學膜與光學顯示組件貼合的貼合機構，利用在連續的制造產線工序上配置上述各機構的生產線制造圖像顯示裝置(專利文獻5)。在這種構造中，由于能夠從光學膜的輥狀卷料直接切斷加工成希望的大小，并將被切斷的光學膜貼合到光學顯示組件上，因此將以往的技術中將片狀制品沖裁成規定大小的光學膜再將沖裁后的光學膜嚴密地捆包、并向面板加工廠商交貨的方式變為將輥狀卷料直接捆包交貨的方式，從而能夠有利于工時、工序構件的削減。

另外，在專利文獻5的制造方法中，若在利用切斷機構切斷光學膜之前檢查缺陷并且進行控制以不使包含缺陷的光學膜貼合到光學顯示組件，則能夠提高作為最終制品的圖像顯示裝置的成品率。

在上述專利文獻5中提出：在進行缺陷檢查時，暫時將臨時附著在光學膜上的脫模膜(隔膜)剝離后進行缺陷檢查，再次貼合隔膜。另外，通過事先進行缺陷檢查并將該缺陷信息如前述的專利文獻1～4所公開的那樣記錄到輥狀卷料上，從而能夠在不剝離隔膜的狀態下從光學膜的輥狀卷料直接切斷加工成希望的大小，并將被切斷的光學膜貼合到光學顯示組件上。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開平9-304295號公報

專利文獻2：日本專利第3974400號公報

專利文獻3：日本特開2008-32747號公報

專利文獻4：日本特開2005-62165號公報

專利文獻5：WO2008/047712號國際公開小冊子

如上述專利文獻5所述，在從光學膜的輥狀卷料直接切斷加工成希望的大小并將被切斷的光學膜貼合到光學顯示組件的制造方法中，為了使提供的光學膜的輥狀卷料適合與光學顯示組件貼合，一般將其事先切縫成與光學顯示組件的大小一致的規定寬度。因此，輥狀卷料的寬度方向的全部與光學顯示組件貼合，從而構成作為最終制品的圖像顯示裝置。因此，如專利文獻4所示，即使在對寬度方向的端部進行印字的情況下，由于最終制品包含該部分，所以無法消除產生因轉印導致的印痕等問題。