[發明專利]電容漏電流測試電路

無效

• 申請號: 201210244956.7
• 申請日: 2012-07-16
• 公開（公告）號: CN103543367A
• 公開（公告）日: 2014-01-29
• 發明（設計）人: 白云;陳鵬;童松林
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01R19/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種測試電路，特別涉及一種用于測試電容漏電流的測試電路。

背景技術

隨著電子技術的不斷發展，電子設備對其內部元件的精度要求也越來越高。電容作為無源器件，在電路中具有儲能、濾波、去耦等作用，在很多電子產品中，電容都是必不可少的電子元件。漏電流是衡量電容絕緣質量的參數，目前對電容漏電流的測試是使用緊密裝置進行測試，這種測試裝置成本高而且操作困難。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種低成本、操作方便的電容漏電流測試電路，以對電容的漏電流進行測試。

一種電容漏電流測試電路，用于測試一待測電容的漏電流，所述電容漏電流測試電路包括一控制電路、一充電電路、一充放電切換電路、一第一運算放大電路、一顯示單元及一指令輸入單元，所述控制單元通過所述指令輸入單元接收測試指令并根據接收到的測試指令控制所述充電電路通過所述充放電切換電路對所述待測電容進行充電，所述充電電路偵測所述待測電容上的電壓并在所述待測電容的電壓到達飽和電壓時輸出一停止充電信號給所述控制電路以使其控制所述充電電路停止為所述待測電容充電，所述控制電路通過所述充放電切換電路控制所述待測電容進行漏電放電，所述第一運算放大電路偵測所述待測電容的漏電電壓并將其放大后輸出給所述控制電路以使其控制所述顯示單元進行顯示。

所述電容漏電流測試電路通過所述充電電路為所述待測電容充電，并在所述待測電容充滿時通過所述充放電切換電路控制所述待測電容進行漏電放電，并通過運算放大電路獲取所述待測電容漏電放電時的漏電電壓從而得到所述待測電容的漏電電流值。

附圖說明

圖1是本發明電容漏電流測試電路的較佳實施方式的方框圖。

圖2-圖6是圖1中電容漏電流測試電路的電路圖。

主要元件符號說明

待測電容100控制電路10充電電路20充放電切換電路30運算放大電路40指令輸入單元50顯示單元60單片機U1晶體振蕩器X1穩壓管Z1充電芯片U2電位器U3電感L1、L2場效應管Q1-Q6偵測電阻PR1、PR2可變電阻PCR電阻R00、R1-R20、R0電容C1-C19放大器U4-U8