[發明專利]無源插件的測試方案和裝置

有效

• 申請號: 201210240151.5
• 申請日: 2012-07-11
• 公開（公告）號: CN102879720A
• 公開（公告）日: 2013-01-16
• 發明（設計）人: 李云漢;王敏哲;周坦立
• 申請（專利權）人: 臺灣積體電路制造股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京德恒律治知識產權代理有限公司 11409
• 代理人: 章社杲;孫征

1.一種裝置，包括：

探針卡，包括：

多個探針引腳；以及

交換網絡，連接至所述多個探針引腳，其中所述交換網絡被配置用于：

連接第一圖案中的所述多個探針引腳；以及

重新連接不同于所述第一圖案的第二圖案中的所述多個探針引腳。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中所述探針卡包括內置的有源電路；或者

其中所述探針卡進一步包括控制器/處理器，所述控制器/處理器電連接于所述交換網絡，并被配置用于控制所述交換網絡；或者

其中所述探針卡進一步包括控制器/處理器，所述控制器/處理器電連接于所述交換網絡，并被配置用于控制所述交換網絡，并且其中所述控制器/處理器進一步被配置用于：向所述多個探針引腳中的輸入引腳提供驅動圖案，從所述多個探針引腳中的輸出引腳重新獲得輸出圖案，以及比較所述輸出圖案與預期圖案；或者

其中所述探針卡進一步包括控制器/處理器，所述控制器/處理器電連接于所述交換網絡，并被配置用于控制所述交換網絡，并且其中所述探針卡包括殼體，其中所述交換網絡和所述控制器/處理器位于所述殼體中，并且其中所述多個探針引腳從所述殼體內部延伸至所述殼體外部；或者

其中所述探針卡包括殼體，其中所述多個探針引腳從所述殼體內部延伸至所述殼體外部，并且其中所述交換網絡位于所述殼體中，并且其中配置用于控制所述交換網絡的控制器/處理器位于所述殼體外部；或者

其中所述探針卡進一步包括輸入端/輸出端，用于接收信號進入所述探針卡內，并將信號輸出至所述探針卡的外部，并且其中所述交換網絡被配置用于：將所述輸入端/輸出端其中之一連接至所述多個探針引腳中的第一引腳，并且將所述輸入端/輸出端其中之一重新連接至所述多個探針引腳中的第二引腳，其中所述多個探針引腳的所述第一引腳和所述第二引腳是不同的引腳；或者

所述裝置進一步包括可編程存儲器，所述可編程存儲器被配置用于存儲測試圖案，所述測試圖案選自基本上由驅動圖案、預期圖案及其組合組成的組。

3.一種裝置，包括：

探針卡，包括：

多個探針引腳；

交換網絡，連接至所述多個探針引腳，其中所述交換網絡被配置用于改變所述多個探針引腳的連接；

可編程存儲器，電連接至所述交換網絡；以及

控制器/處理器，電連接至所述交換網絡和所述可編程存儲器。

4.根據權利要求3所述的裝置，其中所述控制器/處理器進一步被配置用于：

為所述多個探針引腳的輸入引腳提供存儲在所述可編程存儲器中的驅動圖案；

從所述多個探針引腳的輸出引腳重新獲得輸出圖案；以及

比較所述輸出圖案與存儲在所述可編程存儲器中的預期圖案。

5.根據權利要求3所述的裝置，其中所述交換網絡、所述可編程存儲器和所述控制器/處理器中的一種由專用集成電路(ASIC)形成；或者

其中所述交換網絡、所述可編程存儲器和所述控制器/處理器中的全部都由專用集成電路(ASIC)形成；或者

其中所述交換網絡、所述可編程存儲器和所述控制器/處理器中的一種由現場可編程門陣列(FPGA)形成；或者

其中所述交換網絡、所述可編程存儲器和所述控制器/處理器中的全部都由現場可編程門陣列(FPGA)形成。

6.一種方法，包括：

使探針卡的探針引腳接觸第一被測器件(DUT)的第一接觸焊盤；

將所述探針卡中的交換網絡配置成具有與所述探針引腳的第一連接；

使用配置有所述第一連接的所述探針引腳對所述第一DUT實施第一探測；

使所述探針卡的所述探針引腳接觸第二DUT的第二接觸焊盤，其中所述第二DUT的設計不同于所述第一DUT的設計；

重新配置所述交換網絡以具有不同于第一連接的第二連接；以及

使用配置有所述第二連接的所述探針引腳對所述第二DUT實施第二探測。

7.根據權利要求6所述的方法，其中以電的形式執行所述配置和重新配置的步驟。