[發明專利]微波測量線多頻率信號的測量方法有效
| 申請號: | 201210237864.6 | 申請日: | 2012-07-11 |
| 公開(公告)號: | CN102721863A | 公開(公告)日: | 2012-10-10 |
| 發明(設計)人: | 邵暉;何婷婷 | 申請(專利權)人: | 上海聚星儀器有限公司 |
| 主分類號: | G01R23/00 | 分類號: | G01R23/00;G01R23/16 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司 31200 | 代理人: | 張磊 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區張東*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 微波 測量 頻率 信號 測量方法 | ||
1.一種微波測量線多頻率信號的測量方法,其特征在于具體步驟如下:
(1):在測量線末端加負載或在測量線兩端輸入頻率相同的信號,在測量線中形成兩路頻率相同且傳輸方向相反的信號;
在波導、同軸或微帶形式的傳輸線內,當兩路頻率相同且傳輸方向相反的信號互相疊加,將形成駐波,對于任意一駐波場,用下式表示:
上式中為測量線中的場強分布函數,、為入射波和反射波場強幅值,、為入射波和反射波的相位,為入射波和反射波的相移常數,,,為波導波長;
設兩路信號幅度差為,=常數A;
則?????????????
假設信號發生器發射第一個、第二個……第n個頻率信號,分別為,……,測量線中場強分布函數為:
其中
其中:A1、A2?……An表示第一個、第二個……第n個常數,?
,,……,表示第一個、第二個……第n個入射波相位,
,,……,表示第一個、第二個……第n個發射波相位,
,,……,表示第一個、第二個……第n個入射波和反射波的相移常數;
(2):用探針檢測等間隔()各點電場強度,數學表示為用抽樣函數對進行連續采樣,抽樣N點,總長度為;
(3):對測量到的電場強度數據作離散傅里葉變換(DFT),得到頻譜圖,由于,可知測量線中各頻率波的波導波長;
根據離散傅里葉變換的線性性質,則
推導的離散傅里葉變換,可分兩步推導,第一步得到的離散時間傅里葉變換,得到連續周期結果,然后對DTFT截取一個周期并作采樣后即可得到的DFT結果;
對作傅里葉變換(FT),結果為:,其中;
對作FT,結果為,
,,
則????????????
通過對和卷積,得到的DTFT結果
對DTFT結果取一個周期(k=0),
對做?為周期的采樣,數學表示為
對作DFT的結果為,
最后對作DFT的結果為:
(4):通過波導波長,計算信號的各個頻率;
在測量線中,波導速率,其中,,和分別為自由空間的光速和波長,為電導率,其中空氣電導率為1,?為測量線截止波長,均為已知參數,則為已知參數;
第n個頻率信號的相移常數,從譜分布圖中得到,計算出;
由頻率、波長和速度公式,計算得到微波諧振器輸出各個頻率分量。
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