[發(fā)明專利]一種晶體硅表面織構(gòu)方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210233533.5 | 申請(qǐng)日: | 2012-07-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102751384A | 公開(公告)日: | 2012-10-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬立云;彭壽;崔介東;王蕓 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蚌埠玻璃工業(yè)設(shè)計(jì)研究院;中國(guó)建材國(guó)際工程集團(tuán)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L31/18 | 分類號(hào): | H01L31/18;H01L31/0236;C30B33/10 |
| 代理公司: | 安徽省蚌埠博源專利商標(biāo)事務(wù)所 34113 | 代理人: | 倪波 |
| 地址: | 233010 安徽*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 晶體 表面 方法 | ||
1.一種晶體硅表面織構(gòu)方法,其特征在于,采用濃度為4~8wt.%?的四乙基氫氧化銨水溶液作為腐蝕劑,所述方法包括以下步驟:
A、腐蝕液的配制
以電阻率>18MW的去離子水和濃度為25wt.%的四乙基氫氧化銨為原料,配制濃度為4~8wt.%的四乙基氫氧化銨水溶液作為腐蝕液;
B、使用帶磁力攪拌器的恒溫水浴鍋?zhàn)鳛榭棙?gòu)裝置,將上述配制好的腐蝕液放入燒杯內(nèi),加熱升溫至70~77℃,將表面預(yù)處理后的單晶硅片放入腐蝕液中腐蝕,腐蝕過(guò)程中,通過(guò)攪拌磁子保持腐蝕液溫度恒定和濃度均勻,腐蝕完成的單晶硅片用去離子水清洗。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶體硅表面織構(gòu)方法,其特征在于,所述表面預(yù)處理是指,先將單晶硅片在丙酮中進(jìn)行去油脂處理,然后采用20wt.%的NaOH水溶液在75℃條件下腐蝕10min,去除硅片表面的損傷層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶體硅表面織構(gòu)方法,其特征在于,腐蝕時(shí)間為36~40分鐘。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過(guò)這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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