[發(fā)明專利]阻抗測試裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210233409.9
• 申請日: 2012-07-06
• 公開（公告）號: CN103529297A
• 公開（公告）日: 2014-01-22
• 發(fā)明（設計）人: 白云;李計朝;童松林
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種阻抗測試裝置，用于測試一電路組件的等效阻抗，其特征在于，所述阻抗測試裝置包括：

恒壓源，用于提供一恒定的輸出電壓；

負載提供電路，用于提供一負載電阻，所述負載電阻與所述電路組件串聯于所述恒壓源與地之間；

電壓檢測電路，用于檢測所述負載電阻兩端的電壓；

主控制器，電性連接至所述電壓檢測電路及負載提供電路，所述主控制器用于接收電壓檢測電路輸出的所述負載電阻兩端的電壓值，并根據所述負載電阻兩端的電壓值、所述負載電阻的阻值以及所述輸出電壓的值計算所述電路組件的等效阻抗值。

2.如權利要求1所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述負載提供電路還用于在主控制器的控制下，根據所述電路組件的等效阻抗值響應改變所述負載電阻的阻值，以使所述負載電阻的阻值與所述等效阻抗的阻值相當。

3.如權利要求2所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述負載提供電路包括多個呈并聯連接關系的負載選通單元，每一個所述負載選通單元包括一負載電阻，多個所述負載選通單元的負載電阻具有不同的阻值，所述主控制器選擇性地選通其中一路負載選通單元，以將被選通的負載選通單元的負載電阻串聯至所述電路組件。

4.如權利要求3所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述負載提供電路還包括供電源每一所述負載選通單元還包括繼電器以及三極管，所述繼電器包括兩個控制端以及兩個連接端，兩個控制端之間連接有電感線圈，其中一個所述控制端電性連接至所述供電電源，另一個控制端電性連接至所述三極管的集電極，其中一個連接端電性連接至所述電路組件，另一個連接端通過所述負載電阻電性連接至所述恒壓源的輸出端；所述三極管的基極電性連接至所述主控制器，發(fā)射極接地。

5.如權利要求1所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述恒壓源包括輸入電源、電壓轉換芯片、輸出電容以及輸出電感，所述電壓轉換芯片用于將所述輸入電源提供的電壓轉換為所述輸入電壓，并依次經由所述輸出電容及輸出電感輸出。

6.如權利要求1所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述阻抗測試裝置還包括開關電路，所述開關電路電性連接至所述負載提供電路及恒壓源之間，所述主控制器通過控制所述開關電路的開啟與關閉來相應控制所述恒壓源是否提供所述輸入電壓至與所述負載提供電路與電路組件。

7.如權利要求6所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述開關電路包括第一金屬氧化物半導體場效應晶體管以及第二金屬氧化物半導體場效應晶體管，所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的柵極電性連接至所述主控制器，源極接地，漏極電性連接至所述第二金屬氧化物半導體場效應晶體管；所述第二金屬氧化物半導體場效應晶體管的漏極電性連接至所述恒壓源的輸出端，所述第二金屬氧化物半導體場效應晶體管的源極電性連接至所述負載電阻。

8.如權利要求1所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述電壓檢測電路包括第一運算放大器、第二運算放大器、差值放大器以及增益設置電阻，所述第一運算放大器以及第二運算放大器的同相輸入端分別電性連接至所述負載電阻的兩端，所述第一運算放大器以及第二運算放大器的反相輸入端通過所述增益設置電阻連接于一起；所述第一運算放大器及第二運算放大器的輸出端分別電性連接至差值放大器的反相輸入端以及同相輸入端，所述差值放大器的輸出端電性連接至所述主控制器，所述主控制器根據從所述差值放大器接收到的電壓以及整個電壓檢測電路的放大倍數計算出所述負載電阻兩端的電壓大小。

9.如權利要求1所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述阻抗測試裝置還包括報警控制電路，當所述主控制器獲得的所述負載電阻兩端的電壓大小與所述輸入電壓相等時，主控制器控制所述報警控制電路報警。

10.如權利要求1所述的阻抗測試裝置，其特征在于：所述阻抗測試裝置還包括電流檢測電路，所述電流檢測電路用于檢測所述負載電阻以及電路組件上流過的電流，并輸出至所述主控制器，所述主控制器根據所述負載電阻兩端的電流大小、所述恒流源輸出的所述輸入電壓的大小以及所述負載電阻的阻值計算所述電路組件的等效阻抗值，所述主控制器還用于取根據負載電阻兩端電壓計算出的等效阻抗值以及根據負載電阻上的電流計算出的等效阻抗值的平均值，作為所述電路組件的等效阻抗的最終值。