[發明專利]檢測電路的方法

有效

• 申請號: 201210233304.3
• 申請日: 2012-07-06
• 公開（公告）號: CN103323467A
• 公開（公告）日: 2013-09-25
• 發明（設計）人: 鄭智杰;呂尚杰;黃國唐
• 申請（專利權）人: 財團法人工業技術研究院
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 陳小雯

1.一種檢測電路的方法，其步驟包含有：

提供一分組給一產線；

于該產線中定位該分組；

經定位的分組進行檢出，并產生一檢出結果；以及

輸出該檢出結果。

2.如權利要求1所述的檢測電路的方法，其中該分組為多個，該多個分組通過一平行委派的方法，以提供給多個產線中的其一產線，該平行委派的方法的步驟包含有：

判斷是否具有一待測影像，若有，于一待測影像串流中擷取一待測影像，該待測影像為一電路影像；

提供一參考影像，該參考影像是由一參考影像串流中所擷取；

產生一分組，該分組具有該待測影像、該參考影像與一檢測參數；以及

計算各產線的工作負荷量，若該產線的工作負荷量低于一設定值，提供該分組給該產線。

3.如權利要求2所述的檢測電路的方法，其中該設定值為一常數，或者為該產線的工作負荷量低于其余各產線的工作負荷量。

4.如權利要求2所述的檢測電路的方法，其中若多個分組欲進入該產線，該多個分組是以一鏈結方式傳遞至該產線，該產線檢出該分組，再輸出該檢測結果。

5.如權利要求2所述的檢測電路的方法，其中該分組于定位前需要一定位前處理，該定位前處理的步驟包含有：

輸入該待測影像，由所提供的分組中取得該待測影像；

水平投影該待測影像；

計算一水平標準差，由該水平投影的待測影像中計算出該水平標準差，該水平標準差為一第一值；

垂直投影該待測影像；

統計一異色區域，由該垂直投影的待測影像中統計出一白色區域與一黑色區域；

計算一垂直標準差，由該垂直投影的待測影像中計算出該垂直標準差，該垂直標準差為一第二值；

該白色區域是否大于一第一閾值，若是，該待測影像為一全白影像，進行一參考定位；若否，進行一該黑色區域是否大于一第二閾值；

該黑色區域是否大于一第二閾值，若是，該待測影像為一全黑影像，進行該參考定位；若否，進行該第一值是否小于一第一參數；

該第一值是否小于一第一參數，若是，該待測影像為一水平線條，進行該參考定位；若否，進行該第二值是否小于一第二參數；

該第二值是否小于一第二參數，若是，該待測影像為一垂直線條，進行該參考定位；若否，進行該第一值是否等于該第二值；以及

該第一值與第二值的絕對差值是否小于第三參數，若是，該待測影像為一斜線條，進行該參考定位；若否，進行該定位。

6.如權利要求5所述的檢測電路的方法，其中該定位的方式為一幾何定位或一圖樣比對的其中一者，若該定位成功，進行該檢出，若該定位失敗，進行該參考定位。

7.如權利要求5所述的檢測電路的方法，其中該第一閾值、該第二閾值、該第一參數、該第二參數與該第三參數為一常數。

8.如權利要求7所述的檢測電路的方法，其中該第一閾值與該第二閾值介于90%至100%之間，該第一參數與該第二參數介于5至25之間，該第三參數介于0至20之間。

9.如權利要求5所述的檢測電路的方法，其中該參考定位的步驟具有：

提供一參考位置表，其行列數大于該待測影像的行列數，該參考位置表中的對應各待測影像的位置具有一數據儲存結構，以儲存該待測影像的定位狀況與定位結果；以及

提供一列表總合，其具有一數據儲存結構，以儲存該待測影像的某一列nState的總合、定位進度與定位平均值。

10.如權利要求9所述的檢測電路的方法，其中該定位狀況具有一定位結果座標，其能夠供一定位狀態填入。

11.如權利要求9所述的檢測電路的方法，其中該總合為該列定位成功張數，該定位成功的待測影像的定位結果座標能以一直線擬合法，而得出一趨勢直線，該趨勢直線供一定位失敗的待測影像內插，以得該位置的定位結果座標。

12.如權利要求11所述的檢測電路的方法，其中該趨勢直線具有一X方向與一Y方向的座標。

13.如權利要求2所述的檢測電路的方法，其中該檢出的方式為一重迭法，該重迭法是將該待測影像的中心為一定位點，該參考影像對準該定位點。

14.如權利要求13所述的檢測電路的方法，其中該參考影像四邊較該待測影像具有一范圍的像素。