[發(fā)明專利]高分辨率方位電阻率雙側(cè)向測井儀及電阻率測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210232054.1 | 申請日: | 2012-07-05 |
| 公開(公告)號: | CN102767365A | 公開(公告)日: | 2012-11-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李智強;楊志強;王軍杰;楊鋮;楊艷軍;鞠成;黃毅;鄭俊祥;趙靈宣;季秀峰 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團公司第二十二研究所 |
| 主分類號: | E21B49/00 | 分類號: | E21B49/00;E21B47/00 |
| 代理公司: | 鄭州大通專利商標代理有限公司 41111 | 代理人: | 陳大通 |
| 地址: | 453003 河*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高分辨率 方位 電阻率 側(cè)向 測井 測量方法 | ||
1.一種高分辨率方位電阻率雙側(cè)向測井儀,含有電極系和測量電路,電極系通過導線與測量電路連接,其特征是:電極系含有參考電極N、回路電極B和鑲嵌在一根豎直設(shè)置的絕緣棒上的17個電極;該17個電極分別為電極A2、電極A1*、電極A1、電極M2、電極M1、電極A02、電極A0*、電極A01、電極M0、電極A01’、電極A0*'、電極A02’、電極M1’、電極M2’、電極A1’、電極A1*'、電極A2’,電極A2、電極A1*、電極A1、電極M2、電極M1、電極A02、電極A0*、電極A01、電極M0、電極A01’、電極A0*'、電極A02’、電極M1’、電極M2’、電極A1’、電極A1*'、電極A2’由上至下依次排列在絕緣棒上,電極A2和電極A2’、電極A1*和電極A1*'、電極A1和電極A1’、電極M2和電極M2’、電極M1和電極M1’、電極A02和電極A02’、電極A0*和電極A0*'、電極A01和電極A01’為八對同名電極,每對同名電極以電極M0為中心對稱設(shè)置,并且每對同名電極用導線短接在一起;電極M0為方位電極;絕緣棒、測量電路通過電纜懸掛在井眼中,參考電極N安裝在電纜上,參考電極N的位置靠近電纜懸掛絕緣棒和測量電路的一端,回路電極B置于地面;測量電路含有模式1輸出模塊、模式2輸出模塊、模式3輸出模塊、電流測量模塊、電壓測量模塊、壓差測量模塊和信號發(fā)生處理模塊;模式1輸出模塊的輸出信號從電極A1、電極A1’、電極A2和電極A2’流進,從回路電極B回流到模式1輸出模塊;模式2輸出模塊的輸出信號從電極A1和電極A1’流進,從電極A2和電極A2’回流到模式2輸出模塊;模式3輸出模塊的輸出信號從電極A01、電極A01’、電極A02和電極A02’流進,從電極A1、電極A1’、電極A2和電極A2’回流到模式3輸出模塊;電極A01、電極A01’、電極A02和電極A02’用導線短接在一起;電流測量模塊的輸入端與電極A02連接;電壓測量模塊的輸入端與參考電極N、電極M1、電極M1’連接;壓差測量模塊的輸入端與電極M0、電極M1、電極M1’、電極A0*和電極A0*'、電極M2和電極M2’連接;電流測量模塊、電壓測量模塊和壓差測量模塊的輸出端與信號發(fā)生處理模塊的輸入端連接,信號發(fā)生處理模塊的輸出端與模式1輸出模塊、模式2輸出模塊和模式3輸出模塊的輸入端連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高分辨率方位電阻率雙側(cè)向測井儀,其特征是:所述八對同名電極為八對同名電極環(huán),八對同名電極環(huán)的寬度各不相同,各對同名電極環(huán)之間的間隔寬度也不同,每對同名電極環(huán)中的兩個電極環(huán)的寬度相同。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高分辨率方位電阻率雙側(cè)向測井儀,其特征是:所述電極M0含有一個主電極環(huán)和P個相同的線圈,P個相同的線圈均勻地纏繞在主電極環(huán)上,P為大于等于2的自然數(shù),各線圈之間采用絕緣材料分隔開,壓差測量模塊的輸入端與電極M0中的P個線圈連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高分辨率方位電阻率雙側(cè)向測井儀,其特征是:所述P為12,各線圈之間的間隔的寬度為每個線圈長度的一半。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高分辨率方位電阻率雙側(cè)向測井儀,其特征是:所述絕緣棒為橡膠棒或玻璃棒。
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