[發明專利]母線自沖鉚接制造設備及母線自沖鉚接制造方法

有效

• 申請號: 201210231115.2
• 申請日: 2012-07-04
• 公開（公告）號: CN102717022A
• 公開（公告）日: 2012-10-10
• 發明（設計）人: 成方泳;顧健
• 申請（專利權）人: 成方泳
• 主分類號: B21J15/14
• 分類號: B21J15/14;G01B11/02;G01B11/06;G01B17/00;G01B17/02
• 代理公司: 北京市磐華律師事務所 11336
• 代理人: 徐丁峰;付偉佳

1.一種母線自沖鉚接制造設備，其特征在于，所述母線自沖鉚接制造設備包括監測裝置和自沖鉚接裝置，所述監測裝置用于對已裝配母線的幾何參數進行測量，且將測量的幾何參數與標準幾何參數進行比對，并根據比對結果控制所述自沖鉚接裝置，所述自沖鉚接裝置用于通過自沖鉚釘將所述已裝配母線自沖鉚接為一體。

2.根據權利要求1所述的母線自沖鉚接制造設備，其特征在于，所述母線自沖鉚接制造設備還包括裝配裝置，所述裝配裝置用于裝配母線組件以形成所述已裝配母線。

3.根據權利要求1所述的母線自沖鉚接制造設備，其特征在于，所述監測裝置包括：

檢測裝置，所述檢測裝置用于對所述已裝配母線的幾何參數進行測量；和

比對裝置，所述比對裝置用于將所述測量的幾何參數與所述標準幾何參數進行比對。

4.根據權利要求3所述的母線自沖鉚接制造設備，其特征在于，所述檢測裝置包括長度檢測裝置，用于測量所述已裝配母線的長度，優選地，所述長度檢測裝置包括激光測距儀、紅外測距儀或超聲波測距儀。

5.根據權利要求4所述的母線自沖鉚接制造設備，其特征在于，所述監測裝置還包括支撐裝置，所述支撐裝置用于承載所述已裝配母線，所述長度檢測裝置設置在所述支撐裝置的第一端部，且與所述支撐裝置的第二端部之間具有預定距離。

6.根據權利要求3所述的母線自沖鉚接制造設備，其特征在于，所述檢測裝置包括厚度檢測裝置，用于測量所述已裝配母線的導電排的總厚度，優選地，所述厚度檢測裝置包括線性電位計、激光測距儀、紅外測距儀或超聲波測距儀。

7.根據權利要求3所述的母線自沖鉚接制造設備，其特征在于，所述檢測裝置包括寬度檢測裝置，用于測量所述已裝配母線的導電排的寬度，優選地，所述寬度檢測裝置包括線性電位計、激光測距儀、紅外測距儀或超聲波測距儀。

8.根據權利要求3所述的母線自沖鉚接制造設備，其特征在于，所述檢測裝置包括高度檢測裝置，用于測量所述已裝配母線的下U型材的上表面與H型材的下端之間的高度差，優選地，所述高度檢測裝置包括線性電位計、激光測距儀、紅外測距儀或超聲波測距儀。

9.根據權利要求1所述的母線自沖鉚接制造設備，其特征在于，所述監測裝置構造為當所述比對結果小于或等于預定閾值時，驅動所述自沖鉚接裝置工作。

10.根據權利要求1所述的母線自沖鉚接制造設備，其特征在于，所述監測裝置構造為當所述比對結果大于預定閾值時，發出報警信息。

11.根據權利要求10所述的母線自沖鉚接制造設備，其特征在于，所述監測裝置包括報警裝置，所述報警裝置用于當所述比對結果大于所述預定閾值時，發出報警信息。

12.根據權利要求1所述的母線自沖鉚接制造設備，其特征在于，所述比對結果為所述測量的幾何參數與所述標準幾何參數的差值，或所述測量的幾何參數與所述標準幾何參數的比值。

13.一種母線自沖鉚接制造方法，其特征在于，所述方法包括：

a）對已裝配母線的幾何參數進行測量；

b）將測量的幾何參數與標準幾何參數進行比對；以及

c）根據比對結果控制對所述已裝配母線的自沖鉚接。

14.根據權利要求1?3所述的方法，其特征在于，所述幾何參數包括母線的長度、導電排的厚度、導電排的寬度和下U型材的上表面與H型材的下端之間的高度差中的一個或多個。

15.根據權利要求13所述的方法，其特征在于，所述c）步驟包括：

當所述比對結果小于或等于預定閾值時，對所述已裝配母線進行自沖鉚接。

16.根據權利要求13所述的方法，其特征在于，所述c）步驟包括：

當所述比對結果大于預定閾值時，發出報警信息。

17.根據權利要求1?3所述的方法，其特征在于，所述比對結果為測量的幾何參數與所述標準幾何參數的差值，或所述測量的幾何參數與所述標準幾何參數的比值。