[發(fā)明專利]一種島動式單電子晶體管的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210228473.8 | 申請日: | 2012-07-04 |
| 公開(公告)號: | CN103531466A | 公開(公告)日: | 2014-01-22 |
| 發(fā)明(設計)人: | 方靖岳;秦石喬;張學驁;秦華;王飛;王廣;陳衛(wèi);羅威;邵錚錚;賈紅輝;常勝利 | 申請(專利權(quán))人: | 中國人民解放軍國防科學技術大學 |
| 主分類號: | H01L21/334 | 分類號: | H01L21/334;B82Y10/00 |
| 代理公司: | 長沙正奇專利事務所有限責任公司 43113 | 代理人: | 魏國先 |
| 地址: | 410073 湖南*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 島動式單 電子 晶體管 制備 方法 | ||
1.一種島動式單電子晶體管的制備方法,其特征在于,以硅基片、源極、漏極、柵極、島區(qū)和庫侖島為基本結(jié)構(gòu),將源極、漏極、柵極集成設置在硅基片表面形成的二氧化硅襯底上,在源極、漏極、柵極之間圍成的區(qū)域中刻蝕出作為庫侖島活動區(qū)域的島區(qū),將庫侖島組裝于島區(qū)中。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,具體包括如下步驟:
(1)熱氧化處理清洗后的硅基片,使硅基片表面形成二氧化硅襯底;
(2)在二氧化硅襯底上制備出源極、漏極、柵極;
(3)在源極、漏極和柵極之間圍成的區(qū)域刻蝕出作為島區(qū)的凹坑;
(4)通過熱氧化或雙束設備誘導沉積法使島區(qū)內(nèi)部四周及底面形成二氧化硅絕緣層;
(5)通過水相還原法制備粒徑為2~15?nm的金納米顆粒,作為庫侖島;
(6)將庫侖島組裝在島區(qū)內(nèi)。
3.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述步驟(2)是通過聚焦電子束誘導沉積法,或者利用電子束曝光及蒸發(fā)鍍膜法在二氧化硅襯底上制備出納米尺寸的源極、漏極和柵極;并可通過紫外光刻法或聚焦離子束沉積法等在襯底上制備出分別與源極、漏極、柵極相連的用于將島動式單電子晶體管器件過渡到宏觀電路的微米級引線電極。
4.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述二氧化硅襯底厚度為200~500?nm。
5.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述源極、漏極和柵極采用電子束曝光及蒸鍍法制備,其中,采用Ti為金屬粘附層,粘附層厚度為2~3?nm,采用Au為沉積材料,沉積材料厚度為5~25?nm。
6.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述源極、漏極和柵極采用聚焦電子束誘導沉積法制備,其中,采用Pt或W為沉積材料,沉積材料厚度為15~30?nm。
7.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述源極和漏極在二氧化硅襯底上的間距為30?nm;所述柵極與源極和漏極在襯底上的間距為50~500?nm。
8.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述的刻蝕島區(qū)是指通過聚焦離子束刻蝕法或者反應離子蝕刻法刻蝕出島區(qū)。
9.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述島區(qū)的大小為20×30×10?nm3。
10.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述的庫侖島組裝于島區(qū)是利用靜電自組裝法,以反饋式原子力顯微探針輔助,將庫侖島組裝在島區(qū)內(nèi)。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





