[發明專利]用于監測芯片內部電路信號的電路及方法

無效

• 申請號: 201210227220.9
• 申請日: 2012-06-29
• 公開（公告）號: CN102768335A
• 公開（公告）日: 2012-11-07
• 發明（設計）人: 廖裕民
• 申請（專利權）人: 福州瑞芯微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 福州市鼓樓區京華專利事務所(普通合伙) 35212
• 代理人: 宋連梅

【技術領域】

本發明涉及芯片設計技術領域，尤其涉及一種用于監測芯片內部電路信號的電路及方法。

【背景技術】

當芯片在生產和封裝后，除了整個IO芯片的管腳上的信號之外，其他所有的芯片內部電路信號都成為了不可觀測信號，整個芯片成為一個不可見不可測的黑盒子。在芯片工作異常或者測試異常時，由于無法觀察任何的內部信號，給測試人員排除bug造成了巨大的困難。如圖1所示，芯片內部電路A、內部電路B、內部電路C、內部電路D、內部電路E，其整個電路是封裝的，只能觀測到電路A的輸入和電路E的輸出，觀測不到任何其他電路A到E之間的其他電路的信號情況。如果能有一個手段可以在芯片工作或者測試過程中觀察到芯片內部的一些關鍵信號，這將大大降低測試人員排除bug過程的難度。

【發明內容】

本發明要解決的技術問題之一，在于提供一種用于監測芯片內部電路信號的電路，可以在芯片工作或者測試過程中觀察到芯片內部的一些關鍵信號。

本發明的技術問題之一是這樣實現的：一種用于監測芯片內部電路信號的電路，包括：復數個待測的芯片內部電路，所述各芯片內部電路為要測試的目標電路；各芯片內部電路的輸出端均與一多路選擇器連接；

多路選擇器，負責將各芯片內部電路輸出的信號進行選擇后，將選擇的某一芯片內部電路的信號傳輸給一分頻電路；

分頻電路，與所述多路選擇器連接，負責根據芯片外部輸入的直通控制信號將多路選擇器傳輸來的信號進行分頻或者直通處理后輸出。

本發明要解決的技術問題之二，在于提供一種用于監測芯片內部電路信號的方法。

本發明的技術問題之二是這樣實現的：一種用于監測芯片內部電路信號的方法，包括如下步驟：

步驟1、將各個待測的芯片內部電路的輸出端連接至多路選擇器；

步驟2、當各個待測的芯片內部電路處于工作或者測試狀態時，在多路選擇器上輸入需要控制的通路選擇I/O控制信號來選擇要監測的某一芯片內部電路的信號，并將信號傳輸給一分頻電路；

步驟3、判斷該信號是否為高頻時鐘信號，是，則在分頻電路上輸入為0的直通控制信號，此時分頻電路工作，將芯片內部電路輸出的信號進行分頻處理后輸出；否，則在分頻電路上輸入為1的直通控制信號，此時分頻電路工作，將芯片內部電路輸出的信號進行直接輸出；

步驟4、測試人員觀察從分頻電路處理后輸出的信號便能得知對應的芯片內部電路的信號情況。

本發明具有如下優點：本發明的電路包括：復數個待測的芯片內部電路，各芯片內部電路的輸出端均與一多路選擇器連接；多路選擇器，負責將各芯片內部電路輸出的信號進行選擇后，將選擇的某一芯片內部電路的信號傳輸給一分頻電路；分頻電路，與所述多路選擇器連接，負責根據芯片外部輸入的直通控制信號將多路選擇器傳輸來的信號進行分頻或者直通處理后輸出。由于普通的IO芯片有一定的頻率傳輸范圍，當頻率過高時，高頻信號經過IO后信號質量會變得很差，這樣就無法得知芯片內部電路的真實信號，因此通過分頻電路進行分頻操作。本發明電路結構簡單，電路面積損耗功率低，操作方便；可以在芯片工作或者測試過程中觀察到芯片內部的一些關鍵信號。

【附圖說明】

圖1為現在技術中芯片各個內部電路連接的示意圖。

圖2為本發明電路結構的框架示意圖。

圖3為本發明方法流程示意圖。

【具體實施方式】

請參閱圖2所示，本發明的一種用于監測芯片內部電路信號的電路，包括

復數個待測的芯片內部電路（如圖1中的芯片內部電路A、內部電路B、內部電路C、內部電路D、內部電路E），所述各芯片內部電路為要測試的目標電路；各芯片內部電路的輸出端均與一多路選擇器連接；

多路選擇器，負責將各芯片內部電路輸出的信號進行選擇后，將選擇的某一芯片內部電路的信號傳輸給一分頻電路；

分頻電路，與所述多路選擇器連接，負責根據芯片外部輸入的直通控制信號（在芯片測試廠對芯片進行測試階段,該直通控制信號可以是芯片測試機的測試臺中的測試探針輸入的信號；在芯片焊接到電路板后進行測試，該直通控制信號可以是一組撥碼開關輸入的,撥碼開關的位數等于需要控制的I/O位數,每個輸入位對應一個撥碼開關位）將多路選擇器傳輸來的信號進行分頻或者直通處理后輸出；由于普通的IO芯片有一定的頻率傳輸范圍，當頻率過高時，高頻信號經過IO后信號質量會變得很差，這樣就無法得知芯片內部電路的真實信號，因此通過分頻電路進行分頻操作。