[發(fā)明專利]一種液晶顯示面板檢測裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210226864.6
• 申請日: 2012-06-29
• 公開（公告）號: CN102749735A
• 公開（公告）日: 2012-10-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭棟;金用燮;張鐘石
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;合肥京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/13357
• 代理公司: 北京同達(dá)信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種液晶顯示面板檢測裝置。

背景技術(shù)

在液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，液晶顯示器件的不良現(xiàn)象經(jīng)常發(fā)生，不良現(xiàn)象多種多樣。減少不良的發(fā)生，提高產(chǎn)品的良品率，從而節(jié)約成本是每個(gè)廠家一直追求的目標(biāo)。

在TFT-LCD制造過程中，液晶顯示器件產(chǎn)生不良的現(xiàn)象是不可以避免的。所述不良主要分兩大類別：光學(xué)不良和電學(xué)不良。光學(xué)不良產(chǎn)生的因素包括：液晶、金屬電極、絕緣層、取向?qū)雍头饪蚰z等出現(xiàn)問題，并且以上任何一個(gè)因素都會導(dǎo)致如水平黑線、白線、黑點(diǎn)等光學(xué)不良。電學(xué)不良產(chǎn)生的因素主要是陣列工藝上的各種缺陷，如電路線短路、斷路或存在污漬顆粒等現(xiàn)象。

相應(yīng)地，在制作產(chǎn)品的過程中，有光學(xué)檢測設(shè)備和電學(xué)檢測設(shè)備，液晶顯示面板的不良可以通過光學(xué)檢測設(shè)備和電學(xué)檢測設(shè)備檢測相應(yīng)的不良現(xiàn)象，如通過光學(xué)檢測設(shè)備檢測液晶是否具有缺陷、或通過電學(xué)檢測設(shè)備檢測TFT是否有壞損的情況。

現(xiàn)有技術(shù)檢測液晶顯示面板是否存在光學(xué)不良的方法為，通過光學(xué)對位，將與數(shù)據(jù)線對應(yīng)的探針和與掃描線對應(yīng)的探針分別精確接觸液晶顯示面板的信號輸入端口，當(dāng)給液晶顯示面板施加信號電壓時(shí)，實(shí)現(xiàn)畫面的顯示，從而檢測液晶顯示面板上是否存在不良。但是現(xiàn)有的不良檢測設(shè)備，只能在一張較大的玻璃基板經(jīng)切割工藝之后，針對每一個(gè)經(jīng)切割工藝后得到的面板去測量，但是存在以下缺陷：

第一、工程不良反饋時(shí)間較長，只有在制作出大量的包括有多個(gè)面板的玻璃基板后，并對每一張玻璃基板進(jìn)行切割得到液晶顯示面板，才能測量面板的不良，無法同時(shí)針對一張玻璃基板上的所有面板進(jìn)行測量。當(dāng)某一不良存在一張玻璃基板上的所有面板中時(shí)，一一測試面板的不良，明顯帶來較大的工作量。并且，現(xiàn)有無法在切割工藝之前反應(yīng)面板的不良，會導(dǎo)致產(chǎn)品的報(bào)廢率較高。

第二、檢測出的不良無法判斷是電學(xué)不良還是光學(xué)不良。在不良分析的過程中，如果能夠準(zhǔn)確識別不良屬于電學(xué)不良還是光學(xué)不良，可以幫助工程師更快速地定位不良的原因。

第三、檢測設(shè)備的工作精度要求很高。例如，檢測過程中，調(diào)整Block的位置，使Block的Blade與Panel?Pad部位置一一對應(yīng)，對設(shè)備移動需要精確到1um。

第四、檢測設(shè)備必須使用印刷電路板,低壓差分信號線，信號發(fā)生器，探針單元等硬件。

第五、當(dāng)液晶顯示器件的型號發(fā)生改變時(shí)，必須更換印刷電路板，低壓差分信號線探針單元等硬件設(shè)備。即每個(gè)尺寸的液晶盒需要相應(yīng)的一套檢測設(shè)備，檢測設(shè)備的成本較高。

綜上，現(xiàn)有技術(shù)檢測面板的不良現(xiàn)象的效率太低，目前還沒有一種檢測設(shè)備，能夠在液晶顯示面板切割工藝之前就能夠檢測產(chǎn)品的某些電學(xué)不良或光學(xué)不良，也沒有針對所有規(guī)格的產(chǎn)品通用的檢測設(shè)備。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提供一種液晶顯示面板檢測裝置，用以及時(shí)高效地檢測出面板的不良現(xiàn)象。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的液晶顯示面板檢測裝置，包括：

底座；

第一透明基板，位于所述底座上垂直于底座放置；

第二基板，位于所述底座上垂直于底座放置，且與所述第一透明基板相對平行放置，其中，所述第一透明基板和第二基板之間的垂直距離不小于被檢測的液晶顯示面板的厚度；

第一透明金屬膜層，形成在所述第一透明基板上；

第二金屬膜層，形成在所述第二基板上；

為第一透明金屬膜層和第二金屬膜層提供電壓信號的信號發(fā)生器，與所述第一透明金屬膜層和第二金屬膜層電連接；

為被檢測的液晶顯示面板提供背光的背光源。

本發(fā)明通過將待檢測物（包含有多個(gè)液晶顯示面板的玻璃基板）放置于所述第一透明基板和第二基板之間，通過信號發(fā)生器為位于第一透明基板上的第一透明金屬膜層和位于第二基板上的第二金屬膜層施加電壓信號，以及通過背光源為液晶顯示面板提供光源，實(shí)現(xiàn)不同灰階圖像的顯示，測試切割之前的液晶顯示面板的不良現(xiàn)象。提高檢測液晶顯示面板不良的效率。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的液晶顯示面板檢測裝置結(jié)構(gòu)側(cè)視示意圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的液晶顯示面板檢測裝置結(jié)構(gòu)正視示意圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一液晶顯示面板檢測裝置結(jié)構(gòu)側(cè)視示意圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一液晶顯示面板檢測裝置結(jié)構(gòu)正視示意圖；

圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的液晶顯示面板上不良的形狀和區(qū)域示意圖。

具體實(shí)施方式