[發明專利]乳腺癌早期風險評估裝置

有效

• 申請號: 201210226022.0
• 申請日: 2012-06-29
• 公開（公告）號: CN102727198A
• 公開（公告）日: 2012-10-17
• 發明（設計）人: 趙偉杰;劉曉娟;厲力華
• 申請（專利權）人: 杭州電子科技大學
• 主分類號: A61B5/053
• 分類號: A61B5/053
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司 33200
• 代理人: 杜軍

1.?乳腺癌早期風險評估裝置，包括掃頻正弦波發生電路、電壓/電流轉換電路、阻抗匹配電路、測試電極陣列、幅值處理單元、下位機、上位機、第一電源和第二電源，其特征在于：

掃頻正弦波發生電路的輸出端與電壓/電流轉換電路輸入端連接，電壓/電流轉換電路的輸出端與阻抗匹配電路輸入端連接，阻抗匹配電路輸出端與測試電極陣列連接，測試電極陣列放在測試對象乳腺組織上；幅值處理單元輸入端連接到電壓/電流轉換電路的輸出端，幅值處理單元的輸出端連接到下位機的I/O口；第一電源連接掃頻正弦波電路、電壓/電流轉換電路、測試電極陣列和下位機；第二電源連接幅值處理單元；測試電極陣列的控制口與掃頻正弦波電路的控制口連接下位機的I/O口；下位機通過I/O口與上位機輸入端連接完成數據傳輸；

所述的掃頻正弦波發生電路由第一芯片IC1，第一晶振X1，第一電阻R1，第二電阻R2，第三電阻R3，第一電位器Re1，第一電容C1，第二電容C2，第三電容C3，第四電容C4，第五電容C5，第六電容C6，第七電容C7和第八電容C8組成；

在掃頻正弦波發生電路中，第一芯片IC1的5腳、10腳、19腳和24腳連接到地；第一芯片IC1的6腳、11腳、18腳和23腳連接到電源；第一芯片的4腳、3腳、2腳、1腳、28腳、27腳、26腳、25腳八個數據引腳依次連接下位機的8個I/O口；第一芯片IC1的7腳、8腳和22腳三個控制引腳分別連接下位機的3個I/O口；第一芯片的9腳連接第一晶振X1的第3引腳；第一晶振X1的第2引腳連接到地；第一晶振X1的第4引腳連接到電源；第一芯片IC1的12腳連接第一電阻R1的一端；第一電阻R1的另一端連接到地；第一芯片IC1的21腳連接第二電阻R2的一端、第二電容C2的一端、第五電容C5的一端和第一電感L1的一端；第二電容C2?另一端連接第一電感L1的另一端、第三電容C3的一端、第二電感L2的一端和第六電容C6的一端；第三電容C3的另一端連接第二電感L2的另一端、第四電容C4的一端、第三電感L3的一端和第七電容C7的一端；第四電容C4的另一端連接第三電感L3的另一端、第八電容C8的一端、第三電阻R3的一端和第一芯片IC1的16腳；第一芯片IC1的16腳為掃頻正弦波發生電路的輸出端SIA；第二電阻R2的另一端、第五電容C5的另一端、第六電容C6的另一端、第七電容C7的另一端、第八電容C8的另一端和第三電阻R3的另一端連接到地；第一芯片IC1的15腳連接第一電容C1的一端和第一電位器Re1的2端；第一電容C1的另一端連接到地；第一電位器Re1的1端連接電源，3端連接到地；第一芯片IC1的其它引腳懸空；所述的第一芯片IC1型號為AD9850；

電壓/電流轉換電路由第二芯片IC2，第一運放A1，第二運放A2，第四電阻R4，第五電阻R5，第六電阻R6，第七電阻R7和第九電容C9，第十電容C10，第十一電容C11，第十二電容C12組成；

在電壓/電流轉換電路中，輸入端SIA連接第二芯片IC2的1腳和第九電容C9的一端；第九電容C9的另一端連接第二芯片IC2的3腳、第一運放A1的同相輸入端、第十一電容C11的一端和第六電阻R6的一端；第一芯片IC1的2腳連接第一運放A1的輸出端、第十電容C10的一端、第七電阻R7的一端；第一運放A1的反向輸入端連接第十電容C10的另一端、第七電阻R7的另一端和第五電阻R5的一端；第五電阻R5的另一端、第十一電容C11的另一端連接到地；第六電阻R6的另一端同時連接第二運放A2的反相輸入端和輸出端；第二芯片IC2的5腳和4腳短接并連接第四電阻R4的一端，第四電阻R4的另一端連接第二運放A2的同相輸入端和第十二電容C12的一端，第十二電容C12的另一端為電壓/電流轉換電路的輸出端Iout，第二芯片IC2的其它腳懸空；所述的第二芯片IC2型號為AD830；

阻抗匹配電路由第四電感L4，第五電感L5，第六電感L6，第七電感L7，第八電感L8和第九電感L9組成；

在阻抗匹配電路中，第四電感L4的一端為阻抗匹配電路輸入端；第四電感L4的另一端連接第五電感L5的一端；第五電感L5的另一端連接第六電感L6的一端；第六電感L6的另一端連接第七電感L7的一端；第七電感L7的另一端連接第八電感L8的一端；第八電感L8的另一端連接第九電感L9的一端；第九電感L9的另一端為阻抗匹配電路的輸出端；

幅值處理單元由第三芯片IC3，第八電阻R8，第九電阻R9，第十電阻R10，第十三電容C13組成；

在幅值處理單元中，電路輸入端PeakIn連接第八電阻R8的一端；第八電阻R8的另一端連接第三芯片IC3的5腳、第九電阻R9的一端；第九電阻R9的另一端連接第三芯片IC3的9腳和3腳；第十電阻R10的一端連接第三芯片IC3的6腳；第十電阻R10的另一端連接到地；第三芯片IC3的4腳連接第十三電容C13的一端；第十三電容C13的另一端連接到地；第三芯片IC3的8腳接地；第三芯片IC3的1腳和14腳分別連接到下位機的兩個I/O口；第三芯片IC3的3腳為幅值處理單元的輸出端；所述的第三芯片IC3的型號為PKD01；

測試電極陣列包括第四芯片IC4、第五芯片IC5、第十一電阻R11，第十二電阻R12、第十三電阻R13、第十四電阻R14、第十五電阻R15、第十六電阻R16、第十七電阻R17、第十四電容C14、第十五電容C15、第十六電容C16、第十七電容C17、第十八電容C18、第十九電容C19、第二十電容C20、中心電極P0和均勻分布在其外側的六個銅電極P1，P2，P3，P4，P5，P6；

在測試電極陣列電路中，阻抗匹配電路的輸出端Lout連接第四芯片IC4的6腳、第五芯片IC5的1腳、3腳、5腳、9腳、11腳、13腳和第十一電阻R11的一端；第十一電阻R11的另一端接地；第四芯片IC4的14腳連接第十二電阻R12的一端、第十四電容C14的一端、第一電極P1；第四芯片IC4的15腳連接第十三電阻R13的一端、第十五電容C15的一端、第二電極P2；第四芯片IC4的12腳連接第十四電阻R14的一端、第十六電容C16的一端、第三電極P3；第四芯片IC4的1腳連接第十五電阻R15的一端、第十七電容C17的一端、第四電極P4；第四芯片IC4的5腳連接第十六電阻R16的一端、第十八電容C18的一端、第五電極P5；第四芯片IC4的2腳連接第十七電阻R17的一端、第十九電容C19的一端、第六電極P6；第十二電阻R12的另一端連接第五芯片IC5的12腳；第十三電阻R13的另一端連接第五芯片IC5的10腳；第十四電阻R14的另一端連接第五芯片IC5的8腳；第十五電阻R15的另一端連接第五芯片IC5的6腳；第十六電阻R16的另一端連接第五芯片IC5的4腳；第十七電阻R17的另一端連接第五芯片IC5的2腳；第四芯片IC4的三個通道選擇控制引腳11腳、10腳、9腳分別連接下位機的3個I/O口；第十四電容C14的另一端、第十五電容C15的另一端、第十六電容C16的另一端、第十七電容C17的另一端、第十八電容C18的另一端、第十九電容C19的另一端相連到地；所述的第四芯片IC4型號為CD4051，第五芯片IC5的型號為CD4069。