[發明專利]使用多分段光電二極管和一個或更少的照明源檢測手勢的方法

有效

• 申請號: 201210225546.8
• 申請日: 2012-05-07
• 公開（公告）號: CN102981608B
• 公開（公告）日: 2018-02-16
• 發明（設計）人: D·斯庫爾尼克;N·A·凱斯特利;I·K·維格曼;A·查瑪庫拉;C·F·愛德華;N·克爾尼斯;P·帕爾瓦蘭德;徐魁森
• 申請（專利權）人: 馬克西姆綜合產品公司
• 主分類號: G06F3/01
• 分類號: G06F3/01
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司72002
• 代理人: 鄔少俊,王英

1.一種檢測手勢的設備，包括：

具有多個分段的分段光電傳感器；

光修改結構，所述光修改結構用于將反射光中繼到所述分段光電傳感器的不同分段上，所述分段光電傳感器的所述不同分段感測反射光并且輸出對應的感測電壓信號；以及

控制電路，所述控制電路用于接收并且處理所述感測電壓信號以確定相對于所述分段光電傳感器的目標移動，

其中所述光修改結構被配置為選擇性地阻擋反射光的一部分，并且

其中所述光修改結構包括通過按照梯級結構配置多個金屬層和多個通孔而形成的壁結構。

2.根據權利要求1所述的設備，還包括用于發射光的照明源。

3.根據權利要求1所述的設備，其中所述分段光電傳感器包括劃分為多個分段的單個光傳感器。

4.根據權利要求1所述的設備，其中所述分段光電傳感器包括多個單元結構，每個單元結構包括兩個光電二極管，此外其中所述光修改結構包括多個壁結構，每個單元具有一個壁結構，其中所述壁結構位于所述兩個光電二極管之間。

5.根據權利要求4所述的設備，其中所述光修改結構的所述壁結構的頂部金屬層覆蓋所述分段光電傳感器的內部而不覆蓋外部。

6.根據權利要求4所述的設備，其中所述光修改結構包括多個金屬層，每個金屬層由鈍化層分隔，所述鈍化層為其中形成有通孔的二氧化硅。

7.根據權利要求4所述的設備，其中每個壁結構與所述分段光電傳感器的頂表面呈不垂直的角度。

8.根據權利要求1所述的設備，其中每個光傳感器包括多個單元結構，每個單元結構包括一個或多個光電二極管，此外其中所述光修改結構包括多個壁結構，每個單元具有一個壁結構，其中所述壁結構與所述一個或多個光電二極管的頂表面呈不垂直的角度。

9.根據權利要求1所述的設備，其中所述分段光電傳感器包括光電傳感器陣列。