[發明專利]靜電放電測試方法及測試系統

有效

• 申請號: 201210225084.X
• 申請日: 2012-06-29
• 公開（公告）號: CN103389420A
• 公開（公告）日: 2013-11-13
• 發明（設計）人: 段龍輝;張秋賢
• 申請（專利權）人: 緯創資通股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

技術領域

本發明涉及一種測試方法，特別是涉及一種靜電放電(Electrostatic?Discharge；ESD)測試方法。

背景技術

靜電放電(以下簡稱ESD)測試是模擬人體本身所帶的靜電在接觸電子產品時的放電情況。靜電放電所形成的電場變化會造成正在使用的電子產品的誤動作，也或者因電子產品吸收靜電放電的能量而造成設備損壞。因此，對于電子產品而言，靜電放電測試是相當重要的一環。

然而，在進行靜電放電測試時，若電子產品發生誤動作，很有可能是環境的耦合因素或電子產品的硬件結構(如外殼、電子零件或走線)所造成。由于無法立即得知故障的原因，因此，測試人員必需花費相當多的除錯時間，方能找到故障的真正原因。

發明內容

本發明提供一種靜電放電測試方法，包括啟動一待測物，其中該待測物與一水平板保持一預設距離；施加一第一放電電壓予該待測物的一外露金屬；每施加該第一放電電壓予該外露金屬后，判斷該待測物的運作是否發生異常；當該待測物的運作發生異常時，處理該待測物，用以解決該待測物的結構所造成的異常，并再次施加該第一放電電壓；當該待測物的運作未發生異常時，令該待測物接觸該水平板，并執行一特定動作。

本發明還提供一種測試系統，包括一水平板、一待測物、一夾具以及一靜電槍。待測物具有至少一外露金屬。夾具用以移動待測物。靜電槍產生一第一放電電壓。在一第一操作模式下，待測物與水平板保持一預設距離，并且靜電槍施加第一放電電壓予外露金屬。當待測物的運作未異常時，進入一第二操作模式。在第二操作模式下，待測物接觸水平板。

為使本發明的特征和優點能更明顯易懂，下文特舉出較佳實施例，并配合附圖詳細說明如下。

附圖說明

圖1A為本發明的ESD測試方法的一可能示意圖。

圖1B為本發明的測試系統操作在第一操作模式下的一可能示意圖。

圖2A為特定動作的一可能示意圖。

圖2B為本發明的測試系統操作在第二操作模式下的一可能示意圖。

圖3A為本發明的除錯程序的一可能示意圖。

圖3B~3D、圖4A~4C及圖5A~5C為待測物的移動可能示意圖。

附圖符號說明

110～待測物；

120～水平板；

121～絕緣層；

122～金屬層；

130～靜電槍；

111-114～外露金屬；

H_D～預設距離；

D₁~D₃～方向；

S101-S105、S201-S204、S301-S3?12～步驟。

具體實施方式

圖1A為本發明的ESD測試方法的一可能示意圖。圖1B為本發明的測試系統的一可能實施例。首先，啟動一待測物，并令待測物與一水平板保持一預設距離(步驟S101)。如圖1B所示，在第一操作模式下，待測物110與水平板120間具有一預設距離H_D。

本發明并不限定如何令待測物與水平板保持一預設距離。在一可能實施例中，利用一絕緣物體(如壓克力板或木板)架起待測物，使得待測物與水平板保持一預設距離。

在一可能實施例中，水平板120具有一絕緣層121以及一金屬層122。絕緣層121設置于金屬層122與待測物110之間。在另一可能實施例中，利用一電源供應裝置(未顯示)供電予待測物110，用以啟動待測物110。待測物110上的ESD電流可通過電源供應裝置釋放至地。

施加一第一放電電壓予待測物的一外露金屬(步驟S102)。如圖1B所示，在本實施例中，是利用一靜電槍130接觸待測物的外露金屬111~114，用以施加放電電壓予外露金屬111~114。本發明并不限定外露金屬的種類。在一可能實施例中，待測物110的外露金屬111~114均為輸入輸出端口，如USB、VGA、HDMI、RJ45…等。在其它實施例中，外露金屬為一裝飾物品。

另外，本發明并不限定待測物110與金屬板120間的預設距離H_D的大小。在本實施例中，預設距離H_D與第一放電電壓有關。舉例而言，若第一放電電壓的強度約為4KV時，則預設距離H_D約為50公分，但并非用以限制本發明。在其它實施例中，預設距離H_D可大于或小于50公分。