[發明專利]一種壓敏電阻超快電脈沖響應的測試裝置及測試方法

有效

• 申請號: 201210224814.4
• 申請日: 2012-07-02
• 公開（公告）號: CN102854413A
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發明（設計）人: 施衛;解光勇;李孟霞
• 申請（專利權）人: 西安理工大學
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 西安弘理專利事務所 61214
• 代理人: 李娜

1.一種壓敏電阻超快電脈沖響應的測試裝置，其特征在于：包括直流電源（1）、激光器（6）、光電導開關（4）和壓敏電阻（5），所述光電導開關（4）與所述壓敏電阻（5）串聯，所述直流電源（1）串聯保護電阻（2）為儲能裝置（3）供電，且所述儲能裝置（3）與所述保護電阻（2）的接點與所述光電導開關（4）連接，所述壓敏電阻（5）與取樣電阻（7）連接且其接點通過衰減器（8）與存儲示波器（9）連接；所述激光器（6）為納秒或皮秒脈沖激光器。

2.如權利要求1所述的壓敏電阻超快電脈沖響應的測試裝置，其特征在于：所述光電導開關（4）并聯分壓電阻（10）。

3.如權利要求1或2所述的壓敏電阻超快電脈沖響應的測試裝置，其特征在于：所述儲能裝置（3）為容性儲能元件，能儲存足夠電能滿足光電導開關的完整導通放電。

4.如權利要求3所述的壓敏電阻超快電脈沖響應的測試裝置，其特征在于：所述取樣電阻（7）為同軸傳輸線50歐姆匹配電阻或純阻性電阻，所述衰減器（8）為同軸衰減器，通過同軸線傳輸線與所述存儲示波器（9）相連。

5.如權利要求1-4任一項所述的壓敏電阻超快電脈沖響應的測試方法，其特征在于：用直流電源（1）供電，用脈沖激光器（6）照射光電導開關（4）激勵壓敏電阻（5），通過取樣電阻（7）和存儲示波器（9）測量所述壓敏電阻（5）的輸出特性。

6.如權利要求5所述的壓敏電阻超快電脈沖響應的測試方法，其特征在于：通過光電導開關（4）并聯分壓電阻（10）調節超快電脈沖激勵前所述壓敏電阻（5）的直流分壓。

7.如權利要求5或6所述的壓敏電阻超快電脈沖響應的測試方法，其特征在于：具體包括如下步驟：

1）在取樣電阻（7）上串聯電流表，在光電導開關（4）暗態下測量電路的直流伏安特性，得到電脈沖激勵前壓敏電阻（5）直流偏置電壓的定標曲線；

2）移除所述電流表，控制激光器（6）輸出激光脈沖觸發光電導開關（4）產生超快電脈沖激勵壓敏電阻（5），壓敏電阻（5）輸出上升沿和脈沖寬度均為納秒量級的超快電脈沖信號，通過示波器（9）記錄電脈沖波形，得到壓敏電阻（5）超快電脈沖響應特性表征。