[發明專利]光拾取裝置有效
| 申請號: | 201210224137.6 | 申請日: | 2012-06-29 |
| 公開(公告)號: | CN102881298A | 公開(公告)日: | 2013-01-16 |
| 發明(設計)人: | 福本悟;村上晉三 | 申請(專利權)人: | 夏普株式會社 |
| 主分類號: | G11B7/126 | 分類號: | G11B7/126;G11B7/1353 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 張鑫 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 拾取 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種光拾取裝置,該光拾取裝置對光學記錄介質照射光,并接受來自光學記錄介質的反射光,以此來對光學記錄介質進行信息的記錄或重放。
背景技術
現有技術中,有如日本專利特開2007-287278號公報所記載的光拾取裝置。該光拾取裝置使用第1波長和第2波長這兩種波長的光來對兩種光學記錄介質進行信息的記錄和重放。圖11、圖12、圖13A、圖13B、及圖14A~圖14C中示出了上述現有技術所涉及的光拾取裝置的一個例子。
圖11是表示現有技術所涉及的光拾取裝置120的結構的一個示例圖。圖12是表示光拾取裝置120的衍射元件121和受光元件122的俯視圖。圖13A及圖13B是表示由衍射元件121和受光元件122得到的受光狀態的俯視圖。
圖13A表示第1波長的受光狀態,圖13B表示第2波長的受光狀態。在第1波長的情況下,經光學記錄介質11反射后的光的光斑136偏移到從發光點123射入光學記錄介質11的光的光斑135的位置的右側。在第2波長的情況下,經光學記錄介質11反射后的光的光斑137偏移到從發光點123射入光學記錄介質11的光的光斑135的位置的左側。
來自第1波長的光的發光點123的振蕩波長比來自第2波長的光的發光點124的振蕩波長要短。來自第1波長的光的發光點123的光束131因衍射元件121發生衍射的衍射角度、比來自第2波長的光的發光點124的光束132因衍射元件121發生衍射的衍射角度要小。根據這些衍射角度的差異,在受光元件122上,受光區域18a~18l并排地形成3列125a~125c。
來自第1波長的光的發光點123的光束131射入3列125a~125c受光區域中與較小的衍射角度相對應的列125a的受光區域18i、18k、和中央一列125b的受光區域18a~18h。若將從各受光區域18a~18l輸出的電信號分別記為Sa~Sl,則聚焦誤差信號(Focus?Error?Signal:以下稱之為“FES”)可由FES=(Sa+Sc)-(Sb+Sd)計算得到。
跟蹤誤差信號(Tracking?Error?Signal:以下稱之為“TES”)可通過使用三光束法、差動推挽(Differential?Push?Pull:以下稱之為“DPP”)法、或差動相位檢測(Differential?Phase?Detection:以下稱之為“DPD”)法檢測得到。
若將采用三光束法得到的跟蹤誤差信號記為TES1,采用DPP法得到的跟蹤誤差信號記為TES2,采用DPD法得到的跟蹤誤差信號記為TES3,則各跟蹤誤差信號可分別由下式計算得到:TES1=(Se+Sg)-(Sf+Sh);TES2=(Sa+Sb)-(Sc+Sd)-k((Se+Sf)-(Sg+Sh));TES3=ph((Sa+Sb)-(Sc+Sd))。k是用于對主光束與副光束之間的強度差進行修正的常數,ph()表示對括號內的各信號的相位分量進行計算。主光束是由分光元件130所生成的零級衍射光,副光束則是由分光元件130生成的±1級衍射光。
圖14A~圖14C是表示衍射元件121上的主光束及2道副光束的光斑的圖。圖14A~圖14C中,示出了在第2波長下使用三光束法時被光學記錄介質11反射的主光束及2道副光束的光斑。圖14A示出了其中一道副光束的光斑126,圖14B示出了主光束的光斑128,圖14C則示出了另一道副光束的光斑127。各個光斑126、127、128內的分割線是圖13B的衍射元件121的分割線投影得到的。透過圖13B的衍射元件121的被分割線所分割的區域中的區域19e、19g、19g、19h的副光束射入圖13B的各受光區域18e、18g、18g、18h,而透過區域19m、19n、19o、19p的副光束則射入受光區域以外的區域,不射入受光區域。
在現有技術中,當在第2波長下使用三光束法時,射入衍射元件121的三道光束中的副光束的光斑126、127分別沿切向Y向+方向和-方向偏移。而且,衍射元件121的區域17a與區域17b之間的邊界線、以及區域17c與區域17d之間的邊界線沿徑向X偏移。這是為了使射入光學記錄介質11的副光束的光斑的射入位置相對于主光束的光斑的射入位置偏移1/2磁道寬度,從而使副光束稍加旋轉而發生的偏移。若將衍射元件121的分割線投影到各光束的光斑上,則如圖14A~圖14C所示,衍射元件121對副光束的光斑126、127的外形的分割線相對于衍射元件121對主光束的光斑128的外形的分割線,在徑向X和切向Y上均發生了偏移。
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