[發明專利]磁鐵裝置和位置感測系統

有效

• 申請號: 201210223249.X
• 申請日: 2012-06-29
• 公開（公告）號: CN103376052A
• 公開（公告）日: 2013-10-30
• 發明（設計）人: 何賽德-奧利弗·薩爾瓦多;薛啟鑫;周遙
• 申請（專利權）人: 泰科電子（上海）有限公司;泰科電子公司
• 主分類號: G01B7/30
• 分類號: G01B7/30;H01F7/00
• 代理公司: 上海脫穎律師事務所 31259
• 代理人: 脫穎

1.一種磁鐵裝置，用于提供與探測位置相關的磁場強度變化/磁場變化，所述磁鐵裝置包括：

磁鐵部件(304A-C，404A-C)，適于被安裝在轉軸(108)上并且隨著所述轉軸一起轉動，當所述磁鐵部件繞轉軸轉動時，所述磁鐵部件產生與探測位置相關的磁場強度變化/磁場變化；以及

磁通密度集中器(308A1，308A2，308C1，308C2，309B，309C)，所述磁通密度集中器集中/聚集磁場強度變化/磁場變化的密度。

2.根據權利要求1所述的磁鐵裝置，其中：

所述磁鐵裝置與感測裝置(104A-C)一起使用，所述感測裝置(104A-C)具有探測位置，感測元件(302A-C)位于所述探測位置。

3.根據權利要求1所述的磁鐵裝置，其中：

所述感測裝置包括具有前側(301B-C)和后側(303B-C)的感測元件；

所述磁通密度集中器包括磁通密度集中元件(309B，309C)，鄰近所述感測元件的后側(303B-C)。

4.根據權利要求3所述的磁鐵裝置，其中：

磁鐵部件(304A，304C，404A，404C)具有位于磁鐵部件相對兩側的第一側面和第二側面，

磁通密度集中器進一步包括第一和第二磁通密度集中元件(308A1，308A2，308C1，308C2)，

第一磁通密度集中元件鄰近所述磁鐵部件的第一側面；以及

第二磁通密度集中元件鄰近所述磁鐵部件的第二側面。

5.根據權利要求1所述的磁鐵裝置，其中：

磁鐵部件(304A，304C，404A，404C)具有位于磁鐵部件相對兩側的第一側面和第二側面，

磁通密度集中器包括第一和第二磁通密度集中元件(308A1，308A2，308C1，308C2)，

第一磁通密度集中元件鄰近所述磁鐵部件的第一側面；以及

第二磁通密度集中元件鄰近所述磁鐵部件的第二側面。

6.根據權利要求1-5所述的磁鐵裝置，其中：

所述磁通密度集中器增大了所述磁鐵部件的磁場強度變化/磁場變化的輸出率。

7.根據權利要求1-5所述的磁鐵裝置，其中：

每個磁通密度集中元件由鐵磁材料制成。

8.根據權利要求1-5所述的磁鐵裝置，其中：

安裝所述磁鐵部件使得沿轉軸的徑向方向設置所述磁鐵部件的北極和南極。

9.根據權利要求8所述的磁鐵裝置，其中：

所述磁鐵部件和所述探測位置是在相同的平面上，該平面垂直于所述磁鐵部件轉動的軸向方向。

10.根據權利要求9所述的磁鐵裝置，其中：

所述磁鐵部件與第一和第二磁通密度集中元件(308A1，308A2，308C1，308C2)一起繞所述轉軸轉動。

11.根據權利要求10所述的磁鐵裝置，其中：

第一和第二磁通密度集中元件側面的中心線與所述磁鐵部件的側面的中心線對齊。

12.根據權利要求8所述的磁鐵裝置，其中：

磁通密度集中元件(309B，309C)的中心線和探測位置與經過磁鐵部件的南極和北極的中心線對齊。

13.根據權利要求1所述的磁鐵裝置，其中：

所述磁鐵裝置與感測裝置(104A-C)一起使用，所述感測裝置具有探測位置，感測元件(302A-C)位于所述探測位置；

感測裝置具有前側(305A-C)和后側(306A-C)，在磁鐵部件轉動過程中當所述磁鐵部件正面向所述感測裝置的前側時，所述探測感應裝置的前側面向所述磁鐵部件的北極或南極，所述感測裝置與所述磁鐵部件分開一段距離；以及

南極或北極被附接在轉軸上。

14.一種位置感測系統，用于產生兩狀態信號以表示轉軸角度位置范圍，所述位置感測系統包括：

權利要求1-13中任一項所述的磁鐵裝置，產生磁場強度變化/磁場變化；

感測裝置(104A-C)，用于響應磁場強度變化/磁場變化以產生電子信號；以及

處理電路(106，106’)，用于響應所述電子信號產生兩狀態信號。