[發(fā)明專利]一種用于集成電路測試系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置中矩陣開關(guān)通道映射的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210221101.2
• 申請(qǐng)日: 2012-06-29
• 公開（公告）號(hào): CN103513207A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李軒冕;胡勇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國船舶重工集團(tuán)公司第七0九研究所
• 主分類號(hào): G01R35/00
• 分類號(hào): G01R35/00
• 代理公司: 武漢金堂專利事務(wù)所 42212
• 代理人: 胡清堂

技術(shù)領(lǐng)域

?本發(fā)明涉及微電子測試與計(jì)量技術(shù)領(lǐng)域，具體地說是一種用于集成電路測試系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置中矩陣開關(guān)通道映射的方法。

背景技術(shù)

無論集成電路測試系統(tǒng)屬于數(shù)字、模擬或混合型，均包含若干測試通道。傳統(tǒng)的校準(zhǔn)方式無法完成對(duì)全通道的自動(dòng)校準(zhǔn)，僅能用純手動(dòng)的方式進(jìn)行校準(zhǔn)，由于手動(dòng)校準(zhǔn)的諸多缺陷，在實(shí)際校準(zhǔn)工作中，并不能有效完成對(duì)測試系統(tǒng)全通道的校準(zhǔn)。目前新建的集成電路測試系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置，已可實(shí)現(xiàn)對(duì)測試系統(tǒng)全通道的自動(dòng)校準(zhǔn)。集成電路測試系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置的硬件設(shè)備一般都包含矩陣開關(guān)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)多通道校準(zhǔn)時(shí)的自動(dòng)切換。

然而，校準(zhǔn)裝置對(duì)矩陣開關(guān)的使用存在如下問題時(shí)：（1）對(duì)不同集成電路測試系統(tǒng)進(jìn)行適配時(shí)，被校準(zhǔn)資源的通道定義不一致；（2）某些矩陣開關(guān)通道由于損壞等原因需要跳過；（3）更換了新型號(hào)的矩陣開關(guān)，接線方式與原矩陣開關(guān)不一致。出現(xiàn)上述任一種情況，都需要利用矩陣開關(guān)驅(qū)動(dòng)程序?qū)ζ淝袚Q規(guī)則進(jìn)行更改。

由于集成電路測試系統(tǒng)型號(hào)多、被校準(zhǔn)資源類型多，矩陣開關(guān)又屬于易損耗設(shè)備，造成矩陣開關(guān)切換規(guī)則需要頻繁更改。而集成電路測試系統(tǒng)通道數(shù)量多（數(shù)字通道可達(dá)512個(gè)），矩陣開關(guān)需要使用的通道數(shù)量較多（一般為4×40規(guī)模以上），又造成每次矩陣開關(guān)切換規(guī)則更改的工作量都很大。此外，不同測試系統(tǒng)甚至同一測試系統(tǒng)的不同資源，其通道的定義并無規(guī)律，切換規(guī)則的更改必須依賴人工完成，這極大地限制了校準(zhǔn)裝置對(duì)集成電路測試系統(tǒng)的通用性。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是針對(duì)上述問題，提出一種集成電路測試系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置中矩陣開關(guān)通道映射方法：將矩陣開關(guān)的切換規(guī)則分層，并將被校準(zhǔn)資源的通道逐層映射至矩陣開關(guān)通道，進(jìn)而得到經(jīng)過通道映射的矩陣開關(guān)切換規(guī)則。

本發(fā)明一種集成電路測試系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置中矩陣開關(guān)通道映射方法，其步驟如下：

第一步：將矩陣開關(guān)的切換規(guī)則分層，分為邏輯序號(hào)層、物理序號(hào)層、矩陣開關(guān)序號(hào)層，其中，邏輯序號(hào)層由邏輯序號(hào)構(gòu)成，對(duì)應(yīng)被校準(zhǔn)資源的通道序號(hào)，物理序號(hào)層由物理序號(hào)構(gòu)成，對(duì)應(yīng)矩陣開關(guān)外部接線的序號(hào)，矩陣開關(guān)序號(hào)層由矩陣開關(guān)序號(hào)構(gòu)成，對(duì)應(yīng)矩陣開關(guān)通道的序號(hào)；

第二步：定義邏輯序號(hào)至物理序號(hào)的映射表，將被校準(zhǔn)資源的通道序號(hào)逐項(xiàng)映射至矩陣開關(guān)外部接線的序號(hào)，該映射表是與被校準(zhǔn)資源對(duì)應(yīng)的，與矩陣開關(guān)的型號(hào)不相關(guān)；

第三步：定義物理序號(hào)至矩陣開關(guān)序號(hào)的映射表，將矩陣開關(guān)外部接線的序號(hào)逐項(xiàng)映射至矩陣開關(guān)通道序號(hào)，該映射表是與矩陣開關(guān)的型號(hào)和配置對(duì)應(yīng)的，與被校準(zhǔn)資源不相關(guān)；

第四步：矩陣開關(guān)切換規(guī)則通過上述映射表轉(zhuǎn)換得到，首先通過邏輯序號(hào)至物理序號(hào)的映射表轉(zhuǎn)換得到物理序號(hào)的序列，將該序列作為輸入，通過物理序號(hào)至矩陣開關(guān)序號(hào)的映射表再進(jìn)行一次轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)換的結(jié)果就是矩陣開關(guān)的切換規(guī)則；

第五步：通過編輯邏輯序號(hào)至物理序號(hào)的映射表、物理序號(hào)至矩陣開關(guān)序號(hào)的映射表，可以實(shí)現(xiàn)更改矩陣開關(guān)切換規(guī)則的目的。

本發(fā)明一種集成電路測試系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置中矩陣開關(guān)通道映射方法的優(yōu)點(diǎn)是將矩陣開關(guān)的切換規(guī)則分為3層，并通過2張映射表進(jìn)行轉(zhuǎn)換，切換規(guī)則的每一層都有明確的物理意義，與現(xiàn)有的矩陣開關(guān)切換規(guī)則相比，結(jié)構(gòu)清晰、意義明確。在需要更改矩陣開關(guān)的切換規(guī)則時(shí)，只需要根據(jù)情況編輯某一分層的內(nèi)容，增強(qiáng)了校準(zhǔn)裝置的通用性，具有運(yùn)行可靠、維護(hù)成本低等特點(diǎn)，尤其適合于通用型的集成電路測試系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置。實(shí)測表明，應(yīng)用本發(fā)明的映射方法對(duì)一種被校準(zhǔn)資源50通道規(guī)模的切換規(guī)則進(jìn)行更改可在5分鐘以內(nèi)完成，而使用矩陣開關(guān)的驅(qū)動(dòng)程序進(jìn)行同樣規(guī)模的更改至少需要60分鐘。

附圖說明

圖1為矩陣開關(guān)通道映射方法工作原理圖。

圖2為矩陣開關(guān)通道映射用法示意圖。

圖3為實(shí)施例對(duì)應(yīng)的通道映射關(guān)系詳解圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明，但本發(fā)明的實(shí)施方式不限于此。

以50校準(zhǔn)端口的集成電路測試系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置為例進(jìn)行說明：

根據(jù)圖2的示例，針對(duì)一個(gè)50校準(zhǔn)端口的集成電路測試系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置，選用4×92規(guī)模的矩陣開關(guān)，50個(gè)校準(zhǔn)端口通過50路標(biāo)準(zhǔn)IDC插頭引出，50路IDC插頭與矩陣開關(guān)之間通過50路排線建立連接，50個(gè)校準(zhǔn)端口占用了矩陣開關(guān)的50列，校準(zhǔn)裝置的設(shè)備與矩陣開關(guān)的其余行、列相連。

參照?qǐng)D1，本實(shí)施例的通道映射分為如下幾步：