[發明專利]測試治具

無效

• 申請號: 201210220983.0
• 申請日: 2012-06-29
• 公開（公告）號: CN103513065A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發明（設計）人: 王太誠;楊雷雷;李月姣
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業(武漢)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種測試治具，特別涉及一種用于測試內存條電氣特性的測試治具。

背景技術

現在對內存芯片的電氣特性進行測試時，需測試者手握著示波器的正極探棒以與一測試點相連，還需握著示波器的負極探棒以與一參考點相連。同時，還需將一電壓表的正極與負極分別連接至該測試點及參考點，以獲得該測試點與參考點的電壓。然而，若該測試點與參考點的距離較遠，用戶需雙手分別握著一探棒，當需要調試儀器時，用戶則無法空出手來調試，進而給測試帶來不便。另外，由于一個測試點需同時與該正極探棒及該電壓表的正極相連，一個參考點需同時與該負極探棒及該電壓表的負極相連，而一般的測試點或參考點的接觸面積較小，因而有可能在測試時因無法充分接觸而導致測試結果不準確。

發明內容

鑒于以上內容，有必要提供一種方便測試的測試治具。

一種測試治具包括：

一本體，該本體的第一表面上設有兩收容孔；

兩個插針，每個插針的第一端收容于一收容孔內；

兩根導線，每一根導線的第一端分別與一插針的第一端電性相連，兩根導線的另一端分別用于與待測裝置的測試點及參考點焊接，每一插針的第二端用于將待測裝置的測試點及參考點的信號導出。

上述測試治具通過將探棒的兩探針分別與該兩插針相連，同時將電壓表的兩接線端與該兩插針相連，避免了在該接觸面積較小的測試點上同時連接探棒及電壓表的接線端而致使測試結果不準確的不足。

附圖說明

圖1是本發明測試治具的較佳實施方式的結構圖。

圖2是本發明測試治具的使用狀態圖。

主要元件符號說明

測試治具10本體100卡腳102導線103收容孔104插針105螺紋107金屬件106內存條20導接部108彎折部109

如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本發明。

具體實施方式

請參考圖1，本發明測試治具10用于對一內存條的電氣特性進行測試，所述測試治具10的較佳實施方式包括一本體100、一導接部108、一對卡腳102及若干導線103。

該導接部108包括兩個插針105。每一插針105的形狀均為Z形，并在插針的中央形成彎折部109，每一插針105的第一端上設有螺紋107，第二端用于與探棒相連。