[發(fā)明專利]測(cè)試治具

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210220983.0
• 申請(qǐng)日: 2012-06-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103513065A
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-01-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王太誠(chéng);楊雷雷;李月姣
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)(武漢)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測(cè)試治具，特別涉及一種用于測(cè)試內(nèi)存條電氣特性的測(cè)試治具。

背景技術(shù)

現(xiàn)在對(duì)內(nèi)存芯片的電氣特性進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需測(cè)試者手握著示波器的正極探棒以與一測(cè)試點(diǎn)相連，還需握著示波器的負(fù)極探棒以與一參考點(diǎn)相連。同時(shí)，還需將一電壓表的正極與負(fù)極分別連接至該測(cè)試點(diǎn)及參考點(diǎn)，以獲得該測(cè)試點(diǎn)與參考點(diǎn)的電壓。然而，若該測(cè)試點(diǎn)與參考點(diǎn)的距離較遠(yuǎn)，用戶需雙手分別握著一探棒，當(dāng)需要調(diào)試儀器時(shí)，用戶則無(wú)法空出手來(lái)調(diào)試，進(jìn)而給測(cè)試帶來(lái)不便。另外，由于一個(gè)測(cè)試點(diǎn)需同時(shí)與該正極探棒及該電壓表的正極相連，一個(gè)參考點(diǎn)需同時(shí)與該負(fù)極探棒及該電壓表的負(fù)極相連，而一般的測(cè)試點(diǎn)或參考點(diǎn)的接觸面積較小，因而有可能在測(cè)試時(shí)因無(wú)法充分接觸而導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種方便測(cè)試的測(cè)試治具。

一種測(cè)試治具包括：

一本體，該本體的第一表面上設(shè)有兩收容孔；

兩個(gè)插針，每個(gè)插針的第一端收容于一收容孔內(nèi)；

兩根導(dǎo)線，每一根導(dǎo)線的第一端分別與一插針的第一端電性相連，兩根導(dǎo)線的另一端分別用于與待測(cè)裝置的測(cè)試點(diǎn)及參考點(diǎn)焊接，每一插針的第二端用于將待測(cè)裝置的測(cè)試點(diǎn)及參考點(diǎn)的信號(hào)導(dǎo)出。

上述測(cè)試治具通過(guò)將探棒的兩探針?lè)謩e與該兩插針相連，同時(shí)將電壓表的兩接線端與該兩插針相連，避免了在該接觸面積較小的測(cè)試點(diǎn)上同時(shí)連接探棒及電壓表的接線端而致使測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確的不足。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明測(cè)試治具的較佳實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)圖。

圖2是本發(fā)明測(cè)試治具的使用狀態(tài)圖。

主要元件符號(hào)說(shuō)明

測(cè)試治具10本體100卡腳102導(dǎo)線103收容孔104插針105螺紋107金屬件106內(nèi)存條20導(dǎo)接部108彎折部109

如下具體實(shí)施方式將結(jié)合上述附圖進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明。

具體實(shí)施方式

請(qǐng)參考圖1，本發(fā)明測(cè)試治具10用于對(duì)一內(nèi)存條的電氣特性進(jìn)行測(cè)試，所述測(cè)試治具10的較佳實(shí)施方式包括一本體100、一導(dǎo)接部108、一對(duì)卡腳102及若干導(dǎo)線103。

該導(dǎo)接部108包括兩個(gè)插針105。每一插針105的形狀均為Z形，并在插針的中央形成彎折部109，每一插針105的第一端上設(shè)有螺紋107，第二端用于與探棒相連。