[發明專利]一種磁共振成像中K空間數據的軌跡校正方法和裝置

有效

• 申請號: 201210220184.3
• 申請日: 2012-06-29
• 公開（公告）號: CN103513204A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發明（設計）人: 張瓊;翁得河
• 申請（專利權）人: 西門子(深圳)磁共振有限公司
• 主分類號: G01R33/565
• 分類號: G01R33/565
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種磁共振成像中K空間數據點的軌跡校正方法，該方法包括：

運行采樣序列，得到待校正的K空間；

選擇經驗點，利用所述經驗點將所述待校正的K空間劃分為中心區域和外圍區域；

分別對所述中心區域和所述外圍區域中的數據點的軌跡進行校正；以及

再次運行所述采樣序列，得到校正后的K空間。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述選擇經驗點，包括：

選擇所述讀出梯度的斜坡采樣期結束后延遲一個經驗時間值后的采樣點作為所述經驗點。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述分別對所述中心區域和所述外圍區域中的數據點的軌跡進行校正，包括：

當讀出梯度分別施加于x軸、y軸和z軸時，測量所述待校正的K空間中的數據點的軌跡，分別計算所述待校正的K空間中的數據點在所述x軸、y軸和z軸上的實際填充位置；

根據所述經驗點在所述x軸、y軸和z軸上的實際填充位置分別計算所述經驗點在所述x軸、y軸和z軸上的梯度延遲時間；

在所述x軸、y軸和z軸上分別施加所述計算得到的所述經驗點在所述x軸、y軸和z軸上的梯度延遲時間，然后重新測量所述待校正的K空間中的數據點的軌跡，分別得到經過所述梯度延遲時間校正后的K空間中的數據點在所述x軸、y軸和z軸上的校正后的填充位置；將所述外圍區域中的數據點在所述x軸、y軸和z軸上的所述校正后的填充位置作為所述外圍區域中的數據點在所述x軸、y軸和z軸上的最終填充位置；以及

根據所述中心區域中的數據點在所述x軸、y軸和z軸上的校正后的填充位置，計算得到所述中心區域中的數據點在所述待校正的K空間中的最終填充位置。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述分別計算待校正的K空間中的數據點在所述x軸、y軸和z軸上的實際填充位置包括：

獲取所述數據點在其所在激發層面的相位ΔΦ₁，以及獲取所述數據點在其沿磁體中心對稱的另一激發層面中的對稱點的相位ΔΦ₂；

按照如下公式分別計算所述待校正的K空間中的數據點在所述x軸、y軸和z軸上的實際填充位置：

K′(t)=(ΔΦ1-ΔΦ2)*FOVDr*2π]]>

其中，K'(t)為該數據點在x軸、y軸或z軸上的實際填充位置，ΔΦ₁為所述數據點在其所在激發層面中的相位，ΔΦ₂為所述數據點在其沿磁體中心對稱的另一激發層面中的對稱點的相位，FOV為成像范圍，D_r為所述數據點所在的激發層面與磁體中心的距離。