[發明專利]低能耗檢測系統有效
| 申請號： | 201210219370.5 | 申請日： | 2012-06-28 |
| 公開（公告）號： | CN102854140A | 公開（公告）日： | 2013-01-02 |
| 發明（設計）人： | L.奇希;H.萊西格爾;G.查巴尼斯 | 申請（專利權）人： | 施耐德電器工業公司 |
| 主分類號： | G01N21/17 | 分類號： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人： | 王冉 |
| 地址： | 法國呂*** | 國省代碼： | 法國;FR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 能耗 檢測 系統 | ||
1.一種檢測系統，其包括：
發射器(1)，該發射器包含能夠發射發光信號的發光二極管(DEL)和為發光二極管(DEL)供能的供電電源(A)；
接收器(2)，該接收器旨在感知發光二極管發射的發光信號，并且設計為產生代表所測得的發光信號的第一輸入信號(Sin1)；
處理裝置(3)，該處理裝置（3）連接至所述接收器(2)，用來提供輸出信號(Sout)，
該系統的特征在于，
所述供電電源(A)是電壓電源，其用于給發光二極管(DEL)提供恒定的電壓(VDEL)，
所述系統包括用于測量通過發光二極管(DEL)的電流(IDEL)并且旨在產生代表所測得的電流(IDEL)的第二輸入信號(Sin2)的裝置，
所述處理裝置(3)包含用于確定作為第一輸入信號(Sin1)和第二輸入信號(Sin2)的函數的輸出信號(Sout)的裝置。
2.如權利要求1所述的檢測系統，其特征在于，
所述處理裝置(3)包括存儲溫度校正參數的微控制器(μC)，該溫度標定參數被采用來基于第一輸入信號(Sin1)和第二輸入信號(Sin2)確定輸出信號(Sout)。
3.如權利要求1所述的檢測系統，其特征在于，
所述測量裝置包括和發光二極管(DEL)串聯的測量電阻器(Rm)。
4.如權利要求1所述的檢測系統，其特征在于，
所述接收器(2)包括光電二極管(PHD)和電流放大器(AMP)，其用于產生第一輸入信號(Sin1)。
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