[發明專利]積分式接觸電阻測量系統及測量方法無效
| 申請號： | 201210218362.9 | 申請日： | 2012-06-28 |
| 公開（公告）號： | CN102707149A | 公開（公告）日： | 2012-10-03 |
| 發明（設計）人： | 任萬濱;曹晟;周志凱;陳宇;武劍 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號： | G01R27/08 | 分類號： | G01R27/08 |
| 代理公司： | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109 | 代理人： | 張宏威 |
| 地址： | 150001 黑龍*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 積分 接觸 電阻 測量 系統 測量方法 | ||
1.積分式接觸電阻測量系統，其特征是：它包括可控恒流源（1）、標準檢流電阻（3）、高阻低倍率電壓放大器（4）、模擬積分器（5）、量程切換開關（6）、電壓跟隨器（7）、多路AD轉換器（8）和單片機（9）；
可控電流源（1）的電源輸出端與待測部件（2）的一端連接；所述待測部件（2）的另一端與標準檢流電阻（3）的一端連接；所述標準檢流電阻（3）的另一端連接電源地；
高阻低倍率電壓放大器（4）采集待測部件（2）兩端的電壓；所述高阻低倍率電壓放大器（4）的電壓信號輸出端與模擬積分器（5）的電壓信號輸入端連接；所述模擬積分器（5）的積分數據輸出端與多路AD轉換器（8）的一路模擬信號輸入端連接；模擬積分器（5）的調整信號輸入端與量程切換開關（6）連接；
電壓跟隨器（7）采集標準檢流電阻（3）與電源地之間的電壓；所述電壓跟隨器（7）的電壓信號輸出端與多路AD轉換器（8）的一路模擬信號輸入端連接；
多路AD轉換器（8）的AD轉換信號輸出端與單片機（9）的AD轉換信號輸入端連接；所述單片機（9）的電流控制信號輸出端與可控恒流源（1）的電流控制信號輸入端連接；所述單片機（9）的積分器控制信號輸出端與模擬積分器（5）的復位信號輸入端連接。
2.根據權利要求1所述的積分式接觸電阻測量系統，其特征在于它還包括液晶顯示模塊（10），所述液晶顯示模塊（10）的顯示信號輸入端與單片機（9）的顯示信號輸出端連接。
3.根據權利要求1所述的積分式接觸電阻測量系統，其特征在于它還包括鍵盤（11），所述鍵盤（11）的鍵盤信號輸出端與單片機（11）的鍵盤信號輸入端連接。
4.根據權利要求1所述的積分式接觸電阻測量系統，其特征在于高阻低倍率電壓放大器（4）的阻值大于1MΩ；倍率的范圍是：1-100。
5.基于權利要求1的積分式接觸電阻測量方法，其特征是：它由以下步驟實現：
步驟一、通過單片機（9）控制可控電流源（1）輸出恒流信號施加給待測部件（2），采用高阻低倍率電壓放大器（4）采集待測部件（2）兩端的端電壓，并將采集的電壓信號放大后輸出給模擬積分器（5）；
采用電壓跟隨器（7）采集標準檢流電阻（3）與電源地之間的電壓獲得低阻抗輸出電壓UI，并將該電壓UI輸入至多路AD轉換器（8）；
步驟二、采用量程切換開關（6）設定模擬積分器（5）的積分常數，采用模擬積分器（5）對步驟一中放大后電壓進行模擬積分，并將積分結果發送至多路AD轉換器（8）；
步驟三、采用單片機（9）接收多路AD轉換器（8）中的低阻抗輸出電壓UI和模擬積分值UT，并根據公式：
計算待測部件（2）的兩端電壓Ux；
式中：τn是模擬積分器（5）的積分常數；A是高阻低倍率電壓放大器（4）的增益倍數；T是積分時間；
并根據公式：
計算通過待測部件（2）的激勵電流I；
式中：Rref是標準檢流電阻（3）的阻值；
步驟四、將步驟三獲得的待測部件（2）的兩端電壓Ux和通過待測部件（2）的激勵電流I相除，從而獲得待測部件（2）的電阻值；從而實現積分式接觸電阻的測量。
5、根據權利要求4所述的積分式接觸電阻測量方法，其特征在于采用液晶顯示模塊（10）對獲得的待測部件（2）的阻值進行顯示。
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