[發(fā)明專利]一種具有量化電磁干擾的電磁兼容快速測(cè)試診斷系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210217966.1 | 申請(qǐng)日: | 2012-06-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102749539A | 公開(公告)日: | 2012-10-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 謝樹果;劉亞奇;李圓圓;杜威;張宇;陳曦 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京航空航天大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京永創(chuàng)新實(shí)專利事務(wù)所 11121 | 代理人: | 李有浩 |
| 地址: | 100191*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 具有 量化 電磁 干擾 兼容 快速 測(cè)試 診斷 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及的是一種具有量化電磁干擾的電磁兼容快速測(cè)試診斷系統(tǒng),屬于電磁兼容技術(shù)中的電磁干擾測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。?
背景技術(shù)
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,越來越多的電子、電氣設(shè)備進(jìn)入社會(huì)的各個(gè)角落。在有限的空間內(nèi),電子設(shè)備、電氣設(shè)備密度增加,設(shè)備的功率越來越大,無線電頻譜日益擁擠,致使有限空間的電磁環(huán)境日益惡化。如何在時(shí)間、空間、頻譜資源有限的情況下,使處于同一電磁環(huán)境中的電子設(shè)備、電氣設(shè)備互不干擾,并正常運(yùn)行,成為一個(gè)重要的問題,即電磁兼容(EMC—Electromagnetic?Compatibility)所需要解決的問題。?
人民郵電出版社于2006年9月14日出版的《工程電磁兼容》(作者:V.Prasad?Kodali,譯者:陳淑鳳,高攸綱,蘇東林,周璧華)一書中指出電磁兼容是指器件、設(shè)備或者系統(tǒng)既能夠在它所處的電磁環(huán)境中滿意地發(fā)揮其功能,而與此同時(shí)又沒有把超過容限的電磁騷擾引入此環(huán)境中的任何其他的器件、設(shè)備或者系統(tǒng)的能力。器件、設(shè)備或者系統(tǒng)在工作時(shí),不可避免的產(chǎn)生對(duì)外的電磁發(fā)射。當(dāng)這種發(fā)射超過一定容限時(shí),就可能造成環(huán)境內(nèi)的其他器件、設(shè)備或者系統(tǒng)性能下降,即出現(xiàn)了電磁干擾現(xiàn)象。?
為了檢驗(yàn)被試品的電磁發(fā)射是否超標(biāo),需要進(jìn)行電磁干擾測(cè)試。目前,電磁干擾測(cè)試最常用的實(shí)驗(yàn)室方法是使用微波暗室。微波暗室是一種室內(nèi)測(cè)試設(shè)施,對(duì)外部電磁環(huán)境具有較高的隔離度,因此微波暗室尤其適合涉及微弱信號(hào)的高靈敏度測(cè)試。然而,微波暗室的建造成本一般是非常高的。?
電磁干擾從它的源到達(dá)被干擾設(shè)備的機(jī)制很多,主要是輻射和傳導(dǎo)。對(duì)被試品的輻射發(fā)射進(jìn)行測(cè)試,將被試品置于屏蔽暗室中,接收天線置于距被試品固定的測(cè)試距離(1m、3m或10m),并通過精確校準(zhǔn)過的電纜接至測(cè)試輻射發(fā)射的接收機(jī),將測(cè)試輻射發(fā)射的接收機(jī)獲得的被試品發(fā)射電平輸入計(jì)算機(jī),在計(jì)算機(jī)內(nèi)與相應(yīng)的極限值進(jìn)行比較,從而判斷被試品輻射發(fā)射是否超標(biāo)。傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試包括電纜傳導(dǎo)發(fā)射和端口傳導(dǎo)發(fā)射等,測(cè)試思路與輻射發(fā)射測(cè)試類似。不同的是,電纜傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試不使用接收天線而是使用電流探頭檢測(cè)電纜傳導(dǎo),端口傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試使用直連方式檢測(cè)端口傳導(dǎo)。(見?文獻(xiàn):工程電磁兼容,V.Prasad?Kodali,人民郵電出版社,Page(s):116-120)。?
這些測(cè)試均在暗室內(nèi)完成,測(cè)試過程比較復(fù)雜。?
發(fā)明內(nèi)容
隨著電子、電氣設(shè)備日益增多,設(shè)備間的電磁兼容問題日益突出,如何判定一臺(tái)設(shè)備(被試品)是否對(duì)外界產(chǎn)生電磁干擾成為一個(gè)重要問題。為了克服微波暗室方法成本高、操作實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的不足,本發(fā)明提供一種具有量化電磁干擾的電磁兼容快速測(cè)試診斷系統(tǒng)。該系統(tǒng)基于Labview搭建的軟件平臺(tái)結(jié)合硬件設(shè)備,用以現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)被試品的電磁發(fā)射頻譜,并對(duì)其電磁發(fā)射頻譜進(jìn)行分析診斷,判斷其電磁發(fā)射特性是否發(fā)生異常或超出極限值標(biāo)準(zhǔn)。本發(fā)明系統(tǒng)可以方便快捷的對(duì)被試品進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)電磁干擾測(cè)試、分析、診斷。?
本發(fā)明的一種具有量化電磁干擾的電磁兼容快速測(cè)試診斷系統(tǒng),該系統(tǒng)通過計(jì)算機(jī)交互界面控制檢測(cè)測(cè)試的進(jìn)行,獲取頻譜相關(guān)信息。在檢測(cè)測(cè)試界面下選擇測(cè)試所用的測(cè)量天線或電流探頭以及測(cè)試所用的射頻線纜,設(shè)置測(cè)試類型。當(dāng)線路匹配良好時(shí),頻譜測(cè)量模塊讀取的電平值是儀表輸入端口所取得的射頻電壓。設(shè)備將測(cè)量天線、電流探頭系數(shù)及線纜損耗保存至數(shù)據(jù)庫(kù)中,在進(jìn)行檢測(cè)測(cè)試時(shí),根據(jù)選擇的測(cè)試設(shè)備,對(duì)頻譜測(cè)試儀獲得的數(shù)據(jù)進(jìn)行相應(yīng)的自動(dòng)修正。試驗(yàn)測(cè)試開始后,錄入被試品等試驗(yàn)測(cè)試信息,設(shè)置頻譜測(cè)試儀的工作參數(shù),包括起始終止頻率、參考電平、衰減、RBW、掃描時(shí)間等,頻譜測(cè)試儀儀器開始工作,電磁兼容快速測(cè)試診斷單元軟件采集數(shù)據(jù)并進(jìn)行修正顯示,結(jié)果保存至計(jì)算機(jī)中生成快速診斷比對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)。通過檢測(cè)測(cè)試,可以獲得被試品的輻射發(fā)射頻譜、電纜源線傳導(dǎo)發(fā)射頻譜、端口天線端子傳導(dǎo)發(fā)射頻譜以及電磁環(huán)境電磁頻譜信息。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





