[發明專利]一種基于地震資料的薄層自動解釋及厚度預測方法和裝置

有效

• 申請號: 201210217066.7
• 申請日: 2012-06-27
• 公開（公告）號: CN102721979A
• 公開（公告）日: 2012-10-10
• 發明（設計）人: 楊昊;鄭曉東;張研
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01V1/28
• 分類號: G01V1/28
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 戴云霓

1.一種基于地震資料的薄層自動解釋及厚度預測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取地震資料，對所述地震資料進行處理得到疊后地震數據，利用測井資料進行井震標定，確定與薄層對應的目的層段，以及提取地震子波；

對薄層的頂或底做初步解釋，并確定薄層自動追蹤時窗[t-T₁,t+T₂]，所述t為對薄層的頂或底做出的初步解釋時間，所述T₁是以所述t為基礎向上開的時窗大小，所述T₂是以所述t為基礎向下開的時窗大??；

對于疊后地震數據的每一道地震數據，根據當前地震道的所述薄層自動追蹤時窗，對當前地震道數據進行截取，將截取的地震道數據記為f，所述f為列向量；

設定N種反射系數位置模式，每種反射系數位置模式由矩陣i＝1,2,…N唯一確定，其中，M_i為第i種反射系數位置模式中非零反射系數的個數，列向量為反射系數位置模式里的任意一個單位反射系數向量與地震子波褶積的輸出；

根據所述矩陣H_i和所述截取的地震道數據f，獲取每種反射系數位置模式對應的最優反射系數幅值組合

根據所述最優反射系數幅值組合和所述矩陣H_i，獲取每種反射系數位置模式對應的最優合成地震記錄

根據所述最優合成地震記錄和所述截取的地震道數據f，獲取最優反射系數位置模式

根據所述自動追蹤時窗[t-T₁,t+T₂]和所述最優反射系數位置模式獲取薄層頂底的自動解釋時間t_up和t_down；

根據所述t_up和所述t_down，獲取薄層的時間厚度Δt。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述薄層自動追蹤時窗[t-T₁,t+T₂]包括解釋區域內的薄層發育范圍。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述列向量滿足：其中，為第p_j個分量為1、其余分量為0的列向量，W為所述地震子波對應的子波矩陣，p_j為發生薄層反射的采樣點位置。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述最優反射系數幅值組合由以下公式給出：

a~i=argmina∈RN||f-Hia||2=(HiTHi)-1HiTf,i=1,2,···N]]>

其中，R^N代表N維歐氏空間，a代表任意的反射系數幅值組合。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述最優合成地震記錄由以下公式給出：