[發明專利]光拾取器裝置和具備它的光盤裝置

無效

• 申請號: 201210217034.7
• 申請日: 2012-06-27
• 公開（公告）號: CN102855890A
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發明（設計）人: 山崎和良
• 申請（專利權）人: 日立視聽媒體股份有限公司
• 主分類號: G11B7/09
• 分類號: G11B7/09;G11B7/131;G11B7/1353
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳

技術領域

本發明涉及光拾取器裝置和具備它的光盤裝置。

背景技術

在現有技術中，人們已知在3層以上的多層光盤的記錄再現中實現穩定的跟蹤控制的各種光拾取器裝置。例如，已知一種光學頭裝置（光拾取器裝置），其具有使在信息記錄介質上反射衍射的光束的一部分衍射的衍射光學系統，和接收被上述衍射光學系統衍射的光束和不在上述衍射光學系統中衍射而是直接透射的光束的光檢測器，上述衍射光學系統，被在第一方向上延伸的第一分割線和第二分割線，和在與上述第一方向相交的第二方向上延伸的第三分割線和第四分割線分割為多個區域，設上述第一分割線和上述第二分割線的外側的區域為第一副區域和第二副區域，上述第三分割線和上述第四分割線的外側的區域為第一主區域和第二主區域，上述光檢測器，具有接收不在所述衍射光學系統中衍射而是直接透射的光束的0級光受光部組、接收被上述第一主區域和上述第二主區域衍射的光束的主區域受光部組、接收被上述第一副區域和上述第二副區域衍射的光束的副區域受光部組，上述信息記錄介質具有多個信息層，上述主區域受光部組的各受光部，配置在上述第三分割線和上述第四分割線因來自上述多個信息層中與上述光束所聚焦的信息層鄰接的信息層的雜散光而投影在上述光檢測器上的各投影線之間，上述副區域受光部組的各受光部，配置在上述第一分割線和上述第二分割線因來自上述多個信息層中與上述光束所聚焦的信息層鄰接的信息層的雜散光而投影在上述光檢測器上的各投影線之間。（例如參照專利文獻1）

此外，作為在多層光盤的記錄再現中聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號均不受到來自其它層的雜散光影響，能夠得到穩定的伺服信號的光學拾取器裝置，例如已知一種光拾取器裝置（例如參照專利文獻2），將來自多層光盤的反射光分割為多個區域，使分割后的光束在光檢測器上的不同位置上聚焦，并且，使用多束分割后的光束通過刀口法檢測聚焦誤差信號，使用多束分割后的光束檢測跟蹤誤差信號，進而將光束的分割區域和受光面配置成使得當焦點聚焦在目標層時來自其它層的雜散光不會進入光檢測器的伺服信號用的受光面。

專利文獻1：日本特開2008-135151號公報

專利文獻2：日本特開2009-170060號公報

發明內容

此處，光拾取器裝置中，一般為了使光斑準確地照射在光盤內的規定軌道上，通過檢測聚焦誤差信號而使物鏡在聚焦方向上位移以進行聚焦控制，此外還檢測跟蹤誤差信號而使物鏡在光盤半徑方向（Rad方向）上位移以進行跟蹤控制。即，使用這些信號進行物鏡的位置控制。

上述信號中，關于跟蹤誤差信號，會因光盤成為由2層以上的記錄層構成的多層光盤而出現重大的需要解決的問題。即，多層光盤中，除了在目標記錄層上反射的信號光之外，在非目標的多個記錄層上反射的雜散光也入射到相同的受光部，當信號光和雜散光入射到受光部上時，2束以上的光束發生干涉，其變動成分會被檢測為跟蹤誤差信號。

對于這個要解決的問題，專利文獻1中，對于在聚焦誤差信號檢測用光受光部的周圍產生的來自多層的雜散光，在其外側配置跟蹤誤差信號檢測用受光部。并且，入射到全息元件的光束中，光盤半徑方向（Rad方向）上的區域在光盤切線方向（Tan方向）上衍射，Tan方向上的區域在Rad方向上衍射。由此，專利文獻1中能夠避開雜散光，檢測穩定的跟蹤誤差信號。但是，若像專利文獻1那樣在來自多層的雜散光的外側且在Tan方向和Rad方向上配置受光部，則光檢測器的尺寸會增大，所以對于光檢測器的成本和光拾取器裝置的小型化仍然殘留有要解決的問題。

此外，專利文獻2中與專利文獻1不同，采用了使雜散光回避到跟蹤誤差信號檢測用受光部的外側的結構，所以與專利文獻1相比具有能夠大幅縮小檢測器的特征。但是，專利文獻2中也存在問題，即對于使從激光器出射的光束到達光盤的去路和在光盤上反射而到達光檢測器的歸路分束的分束元件，難以低成本化。

此處，使用棱鏡或反射鏡作為一般的分束元件，從節省成本的觀點出發優選使用反射鏡，但會聚光透過傾斜的平板（反射鏡）時，存在會產生像散和彗差的問題。

專利文獻1的情況下，因為僅檢測0級衍射光和+1級衍射光（或-1級衍射光），所以能夠用全息元件來修正像散和彗差。但是，專利文獻2的情況下，因為檢測±1級衍射光雙方，所以用專利文獻1的修正方法僅能夠對+1級衍射光和-1級衍射光中某一者的衍射光進行修正，至少一者的衍射光中像差會增大。因此，從檢測穩定的信號的觀點出發，專利文獻2的情況下的分束元件優選使用棱鏡，在專利文獻2中也存在難以低成本化的問題。