[發(fā)明專利]電池化成臺(tái)壞點(diǎn)檢測(cè)方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210216755.6 | 申請(qǐng)日: | 2012-06-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103513143A | 公開(公告)日: | 2014-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉金玉;李金錄 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 哈爾濱智木科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/02 | 分類號(hào): | G01R31/02;G01R31/36 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 150076 黑龍*** | 國(guó)省代碼: | 黑龍江;23 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電池 化成 臺(tái)壞點(diǎn) 檢測(cè) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
?本發(fā)明涉及一種電池化成臺(tái)壞點(diǎn)檢測(cè)方法,屬于電池檢測(cè)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
在電池生產(chǎn)過(guò)程中電池化成過(guò)程是比較漫長(zhǎng)的,待化成的電池是否好壞操作者是不清楚的,直到化成過(guò)程中才會(huì)發(fā)現(xiàn),而在這個(gè)過(guò)程中電池漏液、漏氣以及爆炸都有可能發(fā)生,嚴(yán)重時(shí)會(huì)使設(shè)備損壞及人身傷亡,由于化成時(shí)間長(zhǎng),為這些壞掉的電池進(jìn)行化成已經(jīng)沒有任何意義,針對(duì)這些問題本發(fā)明提出一種電池化成臺(tái)壞點(diǎn)檢測(cè)方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種電池化成臺(tái)壞點(diǎn)檢測(cè)方法,主要是為了在電池化成前挑選出有問題的電池,以避免在化成中電池出現(xiàn)意外的可能,因此有必要發(fā)明一種方法對(duì)化成前的電池進(jìn)行檢測(cè)。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提出如下技術(shù)方案:
電池化成臺(tái)壞點(diǎn)檢測(cè)方法,包含:AC-DC恒流源、電池、電池夾具正極點(diǎn)、電池夾具負(fù)極點(diǎn)、電池參數(shù)測(cè)量模塊,如是附圖1所示;
電池與電池夾具正極點(diǎn)和電池夾具負(fù)極點(diǎn)相連,AC-DC恒流源給電池小電流充電,電池測(cè)量模塊測(cè)得電池電壓V1,并且在有規(guī)律的慢慢上升,同時(shí)電流I1是恒定不變的,該電池是正常可化成電池;電池測(cè)量模塊測(cè)得電池電壓V1在快速上升、電池V1一直為0V或在回路中的電流I1為0時(shí),說(shuō)明該化成電池內(nèi)部有斷路、短路現(xiàn)象,停止對(duì)該電池繼續(xù)化成,更換新的待化成電池。
本發(fā)明的有益效果:
在電池進(jìn)行化成工藝前把有問題的電池剔除掉不再進(jìn)行化成,減少無(wú)功功率的消耗,提高化成臺(tái)的化成效率。
附圖說(shuō)明:
附圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式:
為了使發(fā)明的技術(shù)方案更加清楚明白,以下結(jié)合附圖和實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明,此處所描述的具體實(shí)例,僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限制本發(fā)明。
實(shí)施例:
1)??準(zhǔn)備待化成電池兩批各5000只命名為B1、B2,準(zhǔn)備相同的電池化成臺(tái)A、B,每臺(tái)點(diǎn)數(shù)為512點(diǎn);
2)??其中電池化成臺(tái)A使用電池化成臺(tái)化成前壞點(diǎn)檢測(cè)方法對(duì)B1批電池進(jìn)行化成,另一臺(tái)電池化成臺(tái)B對(duì)B2批電池進(jìn)行化成,A電池化成臺(tái)用了312小時(shí)完成化成,B化成臺(tái)用了363小時(shí)完成化化成化成過(guò)程中A化成臺(tái)只出現(xiàn)了個(gè)別電池的漏液現(xiàn)象,而B化成過(guò)程中電池漏液現(xiàn)象頻繁出現(xiàn)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于哈爾濱智木科技有限公司,未經(jīng)哈爾濱智木科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210216755.6/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 一種自動(dòng)標(biāo)記壞點(diǎn)的芯片測(cè)試機(jī)
- 一種圖像傳感器壞點(diǎn)檢測(cè)校正裝置及方法
- 一種圖像傳感器壞點(diǎn)檢測(cè)校正裝置
- 壞點(diǎn)檢測(cè)及校正裝置
- 一種自動(dòng)化果醬濃縮加工用果體壞點(diǎn)去除裝置
- 一種生成設(shè)計(jì)版圖壞點(diǎn)檢測(cè)模型的方法及檢測(cè)壞點(diǎn)的方法
- 屏幕壞點(diǎn)檢測(cè)設(shè)備
- 一種利用區(qū)域連通動(dòng)態(tài)去除偽壞點(diǎn)的方法
- 一種數(shù)字電視陰極射線管屏顯壞點(diǎn)檢測(cè)方法
- 一種顯示器面板用壞點(diǎn)檢測(cè)臺(tái)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





