[發明專利]地線漏電保護機構有效
| 申請號: | 201210215201.4 | 申請日: | 2012-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN102904121A | 公開(公告)日: | 2013-01-30 |
| 發明(設計)人: | 錢加燦 | 申請(專利權)人: | 錢加燦 |
| 主分類號: | H01R13/66 | 分類號: | H01R13/66;H01R13/713 |
| 代理公司: | 寧波天一專利代理有限公司 33207 | 代理人: | 徐良江 |
| 地址: | 315463 浙江省寧波市余姚*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 地線 漏電 保護 機構 | ||
技術領域
本發明涉及一種地線漏電保護機構。
背景技術
現有的全能漏電保護插頭,包括相、零、地三極插銷和保護機構,保護機構包括外殼、設在相、零線之間的零序電流互感器、試驗回路、放大電路、直流電源、脫扣器,相、零、地線均設動彈性片和靜觸片連接點,地線帶電檢測器的次級輸出端與放大電路輸入端并聯。當零線或地線分別或同時出現故障時,序電流互感器、地線帶電檢測器分別或同時都會立即將相、零、地線動彈性片和靜觸片連接點全部斷開,即切斷電源,有效地保障了人身安全。但由于地線動彈性片經常斷開而容易疲勞造成彈性不足,從而產生正常情況時地線動彈性片的動靜觸點接觸不好而造成接觸電阻增加等安全隱患。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是針對上述現有技術現狀而提供一種地線漏電保護機構,以達到地線帶電時能迅速斷開的目的,同時排除故障后地線動彈性觸片迅速回到原位,與靜觸片緊密接觸。
本發明解決上述技術問題所采用的技術方案為:
地線漏電保護機構,包括相、零、地三極插銷和保護機構,保護機構包括外殼、復位按鈕、零序電流互感器、試驗回路、觸發電路、脫扣器,相、零、地線均設動彈性片和靜觸片,地線上設置帶電檢測器,其特征在于:所述脫扣器的脫扣桿上固定頂桿,頂桿正對地線的動彈性片,所述地線動彈性片與外殼之間設置彈簧,由彈簧復位地線動彈性片。
所述脫扣桿與復位按鈕之間設有助力彈簧,脫扣桿與復位按鈕未脫離時助力彈簧壓縮,這樣,當脫扣桿與復位按鈕脫離時,助力彈簧因受壓縮的助力彈簧彈力釋放而推動脫扣桿運動,更好地斷開相、零、地線三線。
所述頂桿與地線動彈性片之間間隔,這樣能夠更好地達到安全要求,防止安全插頭正常使用時存在安全隱患。
所述地線帶電檢測器為電流互感器,電流互感器的初級繞組為地線,電流互感器的次級繞組與放大電路輸入端并聯。
所述地線帶電檢測器為電流互感器,電流互感器的初級繞組連接在地線與零線之間,電流互感器的次級繞組與放大電路輸入端并聯。
所述插頭中還帶有溫度控制器。
所述的脫扣器固定器上帶有凸塊,頂住地線動性片的固定端。
所述的相、零、地三極插銷與保護機構分開設置,相、零、地三極插銷組成一個頭部,通過導線與保護機構連接。
與現有技術相比,本發明的優點在于:通過地線回復彈簧,可以防止因地線動彈性片經常動作而消失彈性造成與靜觸片的接觸不良,甚至脫離,從而確保安全機構一直保持正確狀態。同時充分利用現有的相、零線保護插頭機構,通過在地線中加入零序電流互感器和脫扣器中加上頂桿,在地線因意外帶電時,能立即把電源切斷,從而保障使用者的人身安全。把插頭與保護器分開,并在插頭中設置溫度控制器,即使插頭溫度過高也不會影響保護器,更不會燒壞保護器,從而更提高插頭的安全性。??
附圖說明
圖1為本發明實施例正常情況下的結構示意圖。
圖2為圖1的側面剖視圖。
圖3為本發明實施例漏電情況下的結構示意圖。
圖4為圖3的側面剖視圖。
圖5為本發明實施例的一種電路示意圖。
圖6為本發明實施例的另一種電路示意圖。
圖7為本發明實施例的又一種電路示意圖。
圖8為本發明實施例的再一種電路示意圖。
圖9為本發明另一實施例正常情況下的結構示意圖。
圖10為本發明另一實施例漏電情況下的結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖實施例對本發明作進一步詳細描述。
實施例1
如圖1、圖2、圖3、圖4所示,地線漏電保護機構,由相、零、地三極插銷組成的插頭1和保護機構2組成,保護機構2由外殼21、三相電源線的相線、零線、地線22、23、24、零序電流互感器25、電流互感器26、直流電源DC、放大電路、觸發電路SCR、試驗回路T、脫扣器28等組成,插頭1直接固定在外殼21上。
安全插頭的作用原理圖見圖5、圖6、圖7與圖8,相線22、零線23穿過零序電流互感器25,地線24穿過電流互感器26,電流互感器26的次級輸出端與放大電路輸入端并聯。
上述電流互感器2的初級繞組還可為地線24,其直接與電流互感器26的次級發生作用。
上述相線22、零線23、地線24漏電檢測還可采用其他方式,放大電路也可為單塊集成塊IC1,二塊集成塊IC1、IC2,也可由可控硅SCR直接觸發,見圖5、圖6、圖7與圖8。上述試驗回路T為常見結構,在此不再詳細描述。
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