[發(fā)明專利]一種天線覆蓋性能評估方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210214491.0 | 申請日: | 2012-06-26 |
| 公開(公告)號: | CN103517285B | 公開(公告)日: | 2017-02-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 蔡漢才;黃志偉;周守義;尹小華;韓永佳;林玉輝;藍本;梁仲可 | 申請(專利權(quán))人: | 中國移動通信集團廣東有限公司;深圳市科虹通信有限公司 |
| 主分類號: | H04W16/18 | 分類號: | H04W16/18;H04W24/08 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11243 | 代理人: | 許靜,趙愛軍 |
| 地址: | 510623 廣東省廣州市珠*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 天線 覆蓋 性能 評估 方法 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及無線通信領(lǐng)域,特別涉及一種天線覆蓋性能評估方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
GSM網(wǎng)絡(luò)中運行有大量的天線,如果天線的覆蓋性能指標(biāo)不及格,將會對GSM網(wǎng)絡(luò)的信號質(zhì)量造成影響。
現(xiàn)有技術(shù)中,主要是使用天線空間暗室實驗室對天線的覆蓋性能進行評估,確定覆蓋性能指標(biāo)不及格的問題天線。使用天線空間暗室實驗室對天線的覆蓋性能進行評估的方法,是通過停止天線的運行,并拆卸下天線,然后將拆卸的天線一一送到天線空間暗室實驗室進行測試評估。
上述方法雖然可以檢查出天線的各種覆蓋性能,但是存在以下缺點:
可操作性不強:GSM網(wǎng)絡(luò)運行中的天線數(shù)量巨大,將天線一一送天線空間暗室實驗室進行評估,缺乏可操作性,因此只能抽樣測試。
成本高:在拆卸天線后,需要使用備用天線,拆卸與安裝、運輸?shù)瘸杀緲O高。
操作周期長:從停止天線運行,拆卸天線,將天線送至天線空間暗室實驗室進行檢測,然后到裝回天線,整體操作流程所需周期長,時效性差,若天線數(shù)量大則難以避免對現(xiàn)網(wǎng)運營造成影響。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明提供一種天線覆蓋性能評估方法及系統(tǒng),在不影響現(xiàn)網(wǎng)運行的基礎(chǔ)上,能夠準(zhǔn)確快捷地對天線的性能進行評估。
為解決上述問題,本發(fā)明提供一種天線覆蓋性能評估方法,包括:
獲取與目標(biāo)評估天線有關(guān)的測試采樣點的掃頻數(shù)據(jù);
根據(jù)所述掃頻數(shù)據(jù)將所述測試采樣點映射到天線評估坐標(biāo)系中;
獲取所述天線評估坐標(biāo)系中的采樣統(tǒng)計單位,其中,所述采樣統(tǒng)計單位中包含一個或多個所述測試采樣點;
獲取所述目標(biāo)評估天線在所述采樣統(tǒng)計單位的實測信號場強和理論信號場強;
根據(jù)所述目標(biāo)評估天線在所述采樣統(tǒng)計單位的實測信號場強和理論信號場強,對所述目標(biāo)評估天線的預(yù)定天線覆蓋性能參數(shù)進行評估。
優(yōu)選的,所述掃頻數(shù)據(jù)中包含所述測試采樣點的經(jīng)緯度信息,所述根據(jù)所述掃頻數(shù)據(jù)將所述測試采樣點映射到天線評估坐標(biāo)系中的步驟包括:
將所述測試采樣點的經(jīng)緯度信息映射成所述天線評估坐標(biāo)系中的一天線評估坐標(biāo),其中,所述天線評估坐標(biāo)中包含所述測試采樣點與所述目標(biāo)評估天線的球面距離,以及所述測試采樣點與所述目標(biāo)評估天線的連線順時針偏離所述目標(biāo)評估天線的方向角的角度。
優(yōu)選的,所述測試點的天線評估坐標(biāo)F(L1,γ1)的計算公式如下:
L1=R*{arc?cos[cosb*cosy*cos(a-x)+sinb*siny]}
其中,L1為所述測試采樣點與所述目標(biāo)評估天線的球面距離,R為地球半徑,a、b分別為所述測試采樣點的經(jīng)度和緯度,x、y分別為所述目標(biāo)評估天線的經(jīng)度和緯度,γ1為所述測試采樣點與所述目標(biāo)評估天線的連線順時針偏離所述目標(biāo)評估天線的方向角的角度,α為所述目標(biāo)評估天線的方向角,β為以所述目標(biāo)評估天線為原點,所述測試采樣點與所述目標(biāo)評估天線的連線與北極方向的順時針夾角,其中,β的計算公式為:
β=arcsin({arccos[cos(b-y)]}/arccos[cosb*cosy*cos(a-x)+sinb*siny])。
優(yōu)選的,所述掃頻數(shù)據(jù)中包含所述測試采樣點的信號場強,所述獲取所述目標(biāo)評估天線在所述采樣統(tǒng)計單位的實測信號場強的步驟包括:
獲取所述采樣統(tǒng)計單位中的所有所述測試采樣點的信號場強;
獲取所述所有所述測試采樣點的信號場強的平均值,作為所述目標(biāo)評估天線在所述采樣統(tǒng)計單位的實測信號場強。
優(yōu)選的,所述目標(biāo)評估天線在所述采樣統(tǒng)計單位的理論信號場強的計算公式如下:
理論RSSI(L,γ,Rxlev)=BSPWRB+G-Att(γ)-Att(Vert)-Pass(L)-P-P_oth
其中,理論RSSI(L,γ,Rxlev)為所述目標(biāo)評估天線在所述采樣統(tǒng)計單位的理論信號場強,L為所述采樣統(tǒng)計單位與所述目標(biāo)評估天線的球面距離,γ為所述采樣統(tǒng)計單位與所述目標(biāo)評估天線的連線順時針偏離所述目標(biāo)評估天線的方向角的角度,BSPWRB為所述目標(biāo)評估天線的發(fā)射功率,G為所述目標(biāo)評估天線在所述采樣統(tǒng)計單位的理論天線增益,Att(γ)為所述目標(biāo)評估天線在所述采樣統(tǒng)計單位的理論水平增益衰減值,Att(Vert)為所述目標(biāo)評估天線在所述采樣統(tǒng)計單位的理論垂直增益衰減值,Pass(L)為所述目標(biāo)評估天線在所述采樣統(tǒng)計單位的理論自由空間損耗,P為所述目標(biāo)評估天線的固定損耗,P_oth為其他預(yù)定損耗。
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