[發明專利]相干類測深聲納正下方高精度測深方法及系統

有效

• 申請號: 201210211842.2
• 申請日: 2012-06-20
• 公開（公告）號: CN102721966A
• 公開（公告）日: 2012-10-10
• 發明（設計）人: 許高鳳;劉曉東;朱維慶;張東升;張方生;曹金亮
• 申請（專利權）人: 中國科學院聲學研究所
• 主分類號: G01S15/10
• 分類號: G01S15/10
• 代理公司: 北京億騰知識產權代理事務所 11309
• 代理人: 陳霽

1.一種相干類測深聲納正下方高精度測深方法，其特征在于，

計算正下方可信底平均深度

通過變閾值方法，利用所述正下方可信底平均深度規劃相干測深聲納獲得的原始相干測深序列。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述計算正下方可信底平均深度之前，包括：

對左右舷各多條接收通道獲得的正交采樣數據進行脈沖壓縮處理后，在正下方做波束形成；

在所述在正下方做波束形成的結果上應用逐步細化分段能量比較方法精確定位底回波的起始點，根據所述底回波的起始點分別計算左、右舷原始相干測深序列；

在所述在正下方做波束形成的結果上計算正下方區域可信底平均深度d‾.]]>

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過變閾值方法，利用所述正下方可信底平均深度規劃相干側深聲納獲得的原始相干測深序列，具體為，

從底回波起始點開始計算測深深度序列所述測深深度序列包括，左舷測深序列正下方區域可信底平均深度右舷測深序列其中，所述左舷測深序列和所述右舷測深序列為所述原始相干測深序列；

計算出水平方向波束主瓣覆蓋寬度w；

從所述測深深度序列中找出水平坐標位于[-w/2,w/2]范圍內的測深點D_x≤w/2；

設定滑動閾值T_x；

保留所述測深點D_x≤w/2中的點，去除超出對應閾值的點，形成新的測深序列D'_x≤w/2，與所述測深深度序列中水平坐標位于[-w/2,w/2]之外的測深點構成測深結果輸出。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述水平方向波束主瓣覆蓋寬度其中θ_-3dB為根據左右舷正下方波束形成的結果計算出的主瓣寬度。

5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述滑動閾值T_x＝x²+T₀，其中，x為所述測深點D_x≤w/2中各測深點對應的水平坐標，T₀為利用相干法和/或幅度法測量時的允許誤差。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據三次正下方底平均深度估計計算方差，根據所述方差采用加權求和計算均值的方法確定所述正下方可信底平均深度

7.一種相干類測深聲納正下方高精度測深系統，其特征在于，包括：

計算正下方可信底平均深度的模塊；

通過變閾值方法，利用所述正下方可信底平均深度規劃相干測深聲納獲得的原始相干測深序列的模塊。

8.根據權利要求7所述的系統，其特征在于，所述系統還包括：

在所述計算正下方可信底平均深度之前，對左右舷各多條接收通道獲得的正交采樣數據進行脈沖壓縮處理后在正下方做波束形成的模塊；

在所述在正下方做波束形成的結果上應用逐步細化分段能量比較方法精確定位底回波的起始點的模塊；

根據所述底回波的起始點分別計算左、右舷原始相干測深序列的模塊；

在所述在正下方做波束形成的結果上計算正下方可信底平均深度的模塊。

9.根據權利要求7所述的系統，其特征在于，所述通過變閾值方法，利用所述正下方可信平均深度規劃相干測深聲納獲得的原始相干測深序列，具體為，

從底回波起始點開始計算測深深度序列所述測深深度序列包括，左舷測深序列正下方可信底平均深度右舷測深序列其中，所述左舷測深序列和所述右舷測深序列為所述原始相干測深序列；

計算出水平方向波束主瓣覆蓋寬度w；

從所述測深深度序列中找出水平坐標位于[-w/2,w/2]范圍內的測深點D_x≤w/2；

設定滑動閾值T_x；

保留所述測深點D_x≤w/2中的點，去除超出對應閾值的點，形成新的測深序列D'_x≤w/2，與所述測深深度序列中水平坐標位于[-w/2,w/2]之外的測深點構成測深結果輸出。