[發明專利]一種RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液

無效

• 申請號: 201210211192.1
• 申請日: 2012-06-26
• 公開（公告）號: CN102706891A
• 公開（公告）日: 2012-10-03
• 發明（設計）人: 徐敏;趙娟;李濤;蘇鵬飛;周文靜;馬燕;張皋;陳智群;畢富強
• 申請（專利權）人: 西安近代化學研究所
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 中國兵器工業集團公司專利中心 11011
• 代理人: 劉東升

技術領域

本發明涉及一種RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液。

背景技術

炸藥的晶體品質(如純度、晶體形態、晶體缺陷等)是影響炸藥易損性的主要因素之一，通過改善炸藥的晶體品質可以在保持炸藥原有做功能力的同時提高其安全性能，特別是降低沖擊波感度性能。近年來隨著提高炸藥晶體品質的結晶技術不斷發展，對于炸藥晶體品質的表征技術也逐漸成為研究的熱點。炸藥的晶體缺陷是判斷炸藥晶體品質的主要技術指標。

目前顯微成像是表征炸藥顆粒形貌、缺陷的主要方法。然而在空氣中，普通光學顯微鏡只能觀察到炸藥晶體的結晶形狀、晶體大小和均勻性，而無法觀察到炸藥晶體內部缺陷。

當前在醫學和冶金業，采用顯微成像技術，觀察放置在折光率浸油中細胞或透明礦物，可清晰地觀察細胞或透明礦物的形貌。目前在上述領域中通常所使用的折光率浸油為煤油或液體石蠟。但是將RDX或HMX晶體放置在煤油或液體石蠟折光率浸油中無法觀察到RDX或HMX炸藥晶體的內部缺陷。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是克服現有技術不足，提供一種RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液，用于RDX或HMX晶體顯微成像。

本發明的構思：根據折光匹配顯微原理，只有當炸藥晶體至于與其折光指數匹配的溶液中，才可以通過普通光學顯微鏡清晰地觀察到晶體內部缺陷。由于RDX或HMX晶體的理論折光指數在1.6左右，因此需要選擇折光指數為1.6的溶液作為折光匹配液，從而通過普通光學顯微鏡清晰地觀察到RDX或HMX晶體的內部缺陷。。

為了解決上述技術問題，本發明的RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液的組分為香柏油與α-溴代萘，香柏油與α-溴代萘的體積比為1∶1～1∶2。

本發明的RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液優選技術方案為香柏油與α-溴代萘的體積比為1∶1.4。

本發明的優點：

采用本發明的RDX或HMX晶體顯微成像用的折光匹配液，可清晰的觀察到RDX、HMX晶體的內部缺陷，而現有的折光率浸油無法清晰地觀察到RDX或HMX晶體的內部缺陷。

附圖說明

圖1為RDX晶體浸沒在折光匹配液顯微成像的成像圖。

圖2為HMX晶體浸沒在折光匹配液顯微成像的成像圖。

圖3為RDX晶體浸沒在煤油中顯微成像的成像圖。

圖4為HMX晶體浸沒在液體石蠟中顯微成像的成像圖。

具體實施方式

下列結合實施例對本發明進一步詳述說明，但并不限制本發明的范圍。

用于檢測折光指數儀器為WAY-2S型數字阿貝折射儀；

用于顯微成像的儀器為萊卡DM2500M型顯微鏡。

實施例1

折光匹配液的制備

在溫度為20℃～25℃，取兩支25mL的量筒，分別量取10mL香柏油和10mLα-溴代萘，然后將香柏油和α-溴代萘兩種液體倒入反應瓶中，攪拌5分鐘，再放置到超聲微波震蕩儀中，開啟超聲按鈕，超聲震蕩3分鐘后，關閉超聲微波震蕩儀，取出反應瓶靜置15分鐘，得到折光匹配液。

折光匹配液的折光指數測定

檢查阿貝折射儀上下棱鏡表面，并用酒精小心清潔其表面，用干凈滴管吸取1-2滴折光匹配液放在下棱鏡表面上，然后將上面的進光棱鏡蓋上。調整光路，使進光棱鏡的進光表面得到均勻照明。旋轉手輪，使明暗分界線準確對準交叉線的交點。讀取折光率數據，本實施例制備的折光匹配液的折光指數為1.59。

折光匹配液的應用

取數粒RDX晶體置于載玻片上，用干凈滴管吸取數滴折光匹配液滴加在晶體表面上，將晶體浸沒，調整焦距，使圖像清晰，選擇40倍放大物鏡，找準被檢物，并置于視野中央，清楚地觀察到炸藥RDX晶體內部缺陷。

取數粒HMX晶體置于載玻片上，用干凈滴管吸取數滴折光匹配液滴加在晶體表面上，將晶體浸沒，調整焦距，使圖像清晰，選擇40倍放大物鏡，找準被檢物，并置于視野中央，清楚地觀察到炸藥HMX晶體內部缺陷。

實施例2

折光匹配液的制備

在溫度為20℃～25℃，取兩支25mL的量筒，分別量取10mL香柏油和14mLα-溴代萘，然后將香柏油和α-溴代萘兩種液體倒入反應瓶中，攪拌5分鐘，再放置到超聲微波震蕩儀中，開啟超聲按鈕，超聲震蕩3分鐘后，關閉超聲微波震蕩儀，取出反應瓶靜置15分鐘，得到折光匹配液。

折光匹配液的折光指數測定