[發(fā)明專利]表面等離子體諧振圖像檢測芯片、系統(tǒng)及其使用方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210210534.8 | 申請日: | 2012-06-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103512861A | 公開(公告)日: | 2014-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔡浩原;崔大付;李輝;陳興;張璐璐;孫建海;任艷飛 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院電子學(xué)研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/41 | 分類號(hào): | G01N21/41;G01N21/55 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 100080 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 表面 等離子體 諧振 圖像 檢測 芯片 系統(tǒng) 及其 使用方法 | ||
1.一種表面等離子體諧振圖像檢測芯片,包括:
透明基底;
敏感膜陣列,包含至少兩個(gè)分離的敏感膜單元,所述至少兩分離的敏感膜單元中的每一敏感膜單元包括:
金屬膜,沉積在所述透明基底上;
敏感材料,通過物理吸附或者化學(xué)鍵共價(jià)連接的方式結(jié)合到所述金屬膜上;
檢測池陣列,為具有厚度的材料,包含貫穿檢測池陣列的、與所述至少兩個(gè)分離的敏感膜單元分別對(duì)應(yīng)的至少兩個(gè)分離的檢測池單元,其中:
檢測池陣列上除所述至少兩個(gè)分離的檢測池單元之外的區(qū)域與所述透明基底緊密結(jié)合,形成密封;
所述至少兩個(gè)分離的檢測池單元中的每一檢測池單元,其面積大于或等于對(duì)應(yīng)敏感膜單元的面積,從而將該敏感膜單元圍設(shè)于其底部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述檢測池陣列的材料選自以下材料中的一種:樹脂、硅膠和塑料。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述檢測池陣列的材料為固化的聚二甲基硅氧烷。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述檢測池陣列中檢測池單元的的截面形狀為以下形狀中的一種:圓形、正方形、矩形和橢圓形。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述檢測池陣列中檢測池單元的的截面形狀為圓形。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述檢測池陣列中檢測池單元的直徑為5mm,深度為1mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述敏感膜陣列敏感膜單元中:
金屬膜的材料選自于以下材料中的一種:金、銀、鋁和銅;
敏感材料選自于以下材料中的一種:蛋白質(zhì)、抗體、DNA、多肽和配體。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述金屬膜的材料為金,其厚度為50nm。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述至少兩個(gè)分離的敏感膜單元中至少一敏感膜單元被對(duì)被測物質(zhì)不敏感的鈍化材料所修飾,將該敏感膜單元作為參比單元。
10.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述透明基底由光學(xué)玻璃材料制備。
11.一種包括權(quán)利要求1至10中任一項(xiàng)所述表面等離子體諧振圖像檢測芯片的表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng),還包括:
棱鏡;放置于所述表面等離子體諧振圖像檢測芯片的下方,其上表面與所述表面等離子體諧振圖像檢測芯片透明基底的下表面通過耦合液耦合;
光源,位于棱鏡的一側(cè),用于發(fā)出準(zhǔn)直的光束經(jīng)過棱鏡照射在表面等離子體諧振圖像檢測芯片的下表面;
圖像接收裝置,位于棱鏡的另一側(cè),用于接收光束經(jīng)過所述表面等離子體諧振圖像檢測芯片的下表面后反射的經(jīng)過棱鏡的出射光。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng),其中,所述光源為激光器或發(fā)光二極管。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng),其中,所述棱鏡為三角棱鏡或圓珠棱鏡。
14.一種采用權(quán)利要求1至10中任一項(xiàng)所述表面等離子體諧振圖像檢測芯片進(jìn)行檢測的方法,包括:
在所述至少兩個(gè)檢測池單元中滴加待測樣品;
并行記錄所述至少兩個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的表面等離子體諧振信號(hào)的變化,以特定的截止時(shí)間對(duì)應(yīng)的信號(hào)值,作為每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的表面等離子體諧振信號(hào)值;
對(duì)于每個(gè)敏感膜單元,根據(jù)該敏感膜單元對(duì)應(yīng)的表面等離子體諧振信號(hào)值,計(jì)算得到該敏感膜單元對(duì)應(yīng)的待測物質(zhì)的濃度。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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