[發明專利]一種觸控檢測方法、觸控面板及液晶顯示器

有效

• 申請號: 201210206035.1
• 申請日: 2012-06-18
• 公開（公告）號: CN102779082A
• 公開（公告）日: 2012-11-14
• 發明（設計）人: 張鄭欣;徐帥
• 申請（專利權）人: 北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

技術領域

本發明涉及液晶顯示技術領域，尤其涉及一種觸控檢測方法、觸控面板及液晶顯示器。

背景技術

觸摸屏液晶顯示器的觸控面板可以是單層自電容結構。單層自電容觸控面板只有一層ITO（Indium?Tin?Oxides，一種N型氧化物半導體），每個ITO觸控單元單獨通過一條數據線與控制芯片連接，因此可以對每個ITO觸控單元進行獨立檢測，從而能夠實現多點觸控。

目前的單層自電容觸控面板存在觸控檢測運算量大的缺陷。假如單層自電容觸控面板有M×N個ITO觸控單元（即M×N個電容），則有M×N條數據線連接到控制芯片，對于一個觸控動作，需要進行M×N次檢測操作，運算量較大，對控制芯片處理器要求較高,且自電容數量越多，觸控檢測的運算量越大。

發明內容

本發明的目的是提供一種觸控檢測方法、觸控面板及液晶顯示器，以解決現有單層自電容觸控面板觸控檢測運算量較大的問題。

本發明的目的是通過以下技術方案實現的：

一種觸控檢測方法，單層自電容觸控面板的所有觸控單元劃分為多個觸控單元組，該方法包括：

控制芯片向觸控單元組的X控制模塊發送脈沖檢測信號；

所述觸控單元組X的控制模塊將所述脈沖檢測信號發送給所述觸控單元組X中的所有觸控單元，并根據所述觸控單元組X中的所有觸控單元的電平信號確定所述觸控單元組X的電平信號，將所述觸控單元組X的電平信號返回給所述控制芯片；

僅當所述觸控單元組X的電平信號表征發生觸控動作時，所述控制芯片通過所述觸控單元組X的控制模塊依次向所述觸控單元組中的觸控單元發送脈沖檢測信號，確定產生表征發生觸控動作的電平信號的觸控單元。

一種觸控面板，包括控制芯片和觸控單元，單層自電容觸控面板的所有觸控單元劃分為多個觸控單元組，所述觸控面板還包括各個觸控單元組的控制模塊：

所述控制芯片用于，向觸控單元組X的控制模塊發送脈沖檢測信號；

觸控單元組X的控制模塊用于，當接收到脈沖檢測信號后，將所述脈沖檢測信號發送給所述觸控單元組X中的所有觸控單元，并根據所述觸控單元組X中的所有觸控單元的電平信號確定所述觸控單元組X的電平信號，將所述觸控單元組X的電平信號返回給所述控制芯片；

所述控制芯片還用于，僅當所述觸控單元組X的電平信號表征發生觸控動作時，通過所述觸控單元組X的控制模塊依次向所述觸控單元組中的觸控單元發送脈沖檢測信號，確定產生表征發生觸控動作的電平信號的觸控單元。

一種液晶顯示器，包括上述的觸控面板。

本發明提供的方法及產品，由于將單層自電容觸控面板中的所有觸控單元劃分為多個觸控單元組，首先判斷觸控單元組的電平信號是否表征發生觸控動作。僅針對檢測到表征發生觸控動作的電平信號的觸控單元組中的各個觸控單元進行逐個掃描，進行觸控檢測。較之現有的單層自電容觸控面板及其觸控檢測方法，降低了檢測的運算量，進而降低了對控制芯片的要求，在不影響反應速度的前提下，可以降低生產成本。

附圖說明

圖1為本發明實施例提供的觸控單元組劃分示意圖；

圖2為本發明實施例提供的一種方法流程圖；

圖3為本發明實施例提供的觸控面板結構示意圖；

圖4為本發明實施例提供的另一種方法流程圖；

圖5為本發明實施例提供的又一種方法流程圖。

具體實施方式

本發明將單層自電容觸控面板的所有觸控單元劃分為多個觸控單元組，每個觸控單元組對應一個控制模塊。以圖1所示為例，假如單層自電容觸控面板有16個觸控單元，則可以將這16個觸控單元劃分為圖1所示的4個觸控單元組，每個觸控單元組包含4個觸控單元。應當指出的是，一個單層自電容觸控面板中，觸控單元組的個數及具體劃分方法依據觸控面板的實際結構及使用需求確定，本發明不作限定。

基于本發明提出的觸控單元組，本發明提供了一種觸控檢測方法，其實現方式如圖2所示，具體包括如下操作：

步驟200、控制芯片向觸控單元組X的控制模塊發送脈沖檢測信號；

觸控單元組X表示觸控面板上的任一觸控單元組。

步驟210、觸控單元組X的控制模塊將脈沖檢測信號發送給該觸控單元組X中的所有觸控單元，并根據該觸控單元組X中的所有觸控單元的電平信號確定觸控單元組X的電平信號，將該觸控單元組X的電平信號返回給所述控制芯片；