[發明專利]用于檢測MCU電壓的檢測電路

有效

• 申請號: 201210200434.7
• 申請日: 2012-06-15
• 公開（公告）號: CN102692545A
• 公開（公告）日: 2012-09-26
• 發明（設計）人: 鄭尊標;朱蓉
• 申請（專利權）人: 杭州士蘭微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00
• 代理公司: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237
• 代理人: 鄭瑋

1.一種用于檢測MCU電壓的檢測電路，所述MCU包括第一I/O端口、第二I/O端口、定時裝置、被測電壓端口、連接電源電壓VDD的電壓輸入端和接地端，所述被測電壓端口的電壓跟隨電源電壓VDD，其特征在于，所述檢測電路包括電容、電阻和鉗位模塊,所述電阻的一端連接所述被測電壓端口，所述電阻的另一端連接所述電容的一端、所述鉗位模塊的一端以及所述第一I/O端口，所述鉗位模塊的另一端連接所述第二I/O端口，所述電容的另一端接地，所述電容放電時，電容放電電荷經由所述鉗位模塊放電，電容放電電壓達到鉗位模塊的鉗電壓時電容停止放電。

2.如權利要求1所述的用于檢測MCU電壓的檢測電路，其特征在于，所述被測電壓端口電壓為V1，所述鉗位模塊的鉗位電壓為VD，所述電容的容值為C，所述電阻的阻值為R，所述電容電壓為Vc，所述第一I/O端口的輸入高電平門限電壓為VH，所述第二I/O端口的輸出電壓由MCU控制。

3.如權利要求2所述的用于檢測MCU電壓的檢測電路，其特征在于，被測電壓端口電壓V1根據電阻的阻值R、電容的容值C、鉗位模塊的鉗位電壓VD、第一I/O端口的輸入高電平門限電壓VH以及電容從鉗位電壓VD充電到第一I/O端口的輸入高電平門限電壓VH的充電時間T得到，關系式為：

T=RC*ln(V1-VDV1-VH).]]>

4.如權利要求2或3所述的用于檢測MCU電壓的檢測電路，其特征在于，設置所述第一I/O端口為輸入端口，第二I/O端口輸出初始狀態為高電平，第一I/O端口輸入端口的電壓等于電容電壓Vc，設置所述第二I/O端口為輸出端口，所述電容電壓Vc的初始值Vc等于被測電壓端口電壓V1；將所述第二I/O端口輸出由初始的高電平狀態設置為低電平，所述電容開始放電，當電容電壓Vc由V1放電到鉗位電壓VD時，即Vc=VD時，電容放電結束；然后將所述第二I/O端口輸出設置為高電平，所述電容開始充電，電容電壓Vc由VD開始上升到被測電壓端口電壓V1，當電容電壓Vc大于第一I/O端口的輸入高電平門限電壓VH時，所述第一I/O端口變為高電平，所述定時裝置從所述第二I/O端口為高電平時開始計時，到所述第一I/O端口變為高電平時結束計時，在此期間內，所述定時裝置的計時即為所述檢測電路的充電時間T，所述檢測電路的充電時間T與MCU的被測電壓V1的關系為：

5.如權利要求1所述的用于檢測MCU電壓的檢測電路，其特征在于，所述鉗位模塊包括一個二極管或者多個串聯的二極管。

6.如權利要求2至5任意一項權利所述的用于檢測MCU電壓的檢測電路，其特征在于，所述鉗位模塊的鉗位電壓VD為二極管的正向壓降。