[發明專利]不均檢查裝置及不均檢查方法有效
| 申請號: | 201210200100.X | 申請日: | 2012-06-14 |
| 公開(公告)號: | CN102842276B | 公開(公告)日: | 2017-07-28 |
| 發明(設計)人: | 長嶺邦彥;富岡聰 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00;G09G1/00;G01J3/50 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司11240 | 代理人: | 余剛,吳孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 不均 檢查 裝置 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種在彩色圖像等中進行不均檢查(顏色不均檢查以及亮度不均檢查)的不均檢查裝置及不均檢查方法。
背景技術
以前,采用可顯示彩色圖像的陰極射線管(CRT)、液晶顯示器(LCD)等的顯示單元在批量生產過程中的顏色不均或亮度不均的檢查,主要利用基于與極限樣本(limit sample)的比較的感官測試來進行。該技術通過這樣的方式實現:由人直接查看作為檢查目標的顯示單元上的顯示畫面,該技術提供了類似于實際使用狀態的檢查,以及簡單的測試方法。
然而,該技術主要依賴于各個檢查者的能力,因此檢查的質量受各個檢查者之間的不同或檢查者的疲勞度影響,難以確保穩定的檢查。
為了解決這個問題,提出了不依賴于檢查者的能力客觀地檢查顏色不均的一些技術。這樣的技術的實例包括以下技術:其通過在整個顯示畫面被設置為白色顯示的狀態下,使用彩色圖像拾取裝置等測量顯示畫面內的多個點中的色調(hue),以根據與白色顯示部之間的最大色差(ΔEuv*或ΔEab*)的值的大小關系進行顏色不均檢查。
具體而言,例如,在公開號為1989-225296、1998-2800及2003-57146的日本未審查專利申請中測量顯示畫面內多個點處的顏色和亮度,并且標準化最大值和最小值之間的變化或差,用于顏色不均檢查。進一步地,例如,在公開號為1998-96681的日本未審查專利申請中,關注顏色不均區域或變色區域的空間尺寸,并將其量化用于顏色不均檢查。此外,例如,公開號為2007-198850的日本未審查專利申請提出了一種評價紅色(R)、綠色(G)及藍色(B)的每個亮度數據的亮度不均的技術。
發明內容
然而,在公開號為1989-225296、1998-2800及2003-57146的日本未審查專利申請提出的技術中,預計通過使用標準化參數的客觀顏色不均檢查可以實現穩定的檢查,但是這些技術的缺點在于人們所感覺到的顏色不均度可能會隨著顏色不均的不同分布而變化。此外,在公開號為1998-96681的日本未審查專利申請提出的技術中,也存在人們所感覺到的顏色不均度可能會根據色調而變化的問題。此外,在公開號為2007-198850的日本未審查專利申請中提出的技術試圖在同時發生亮度不均和顏色不均的情況下評價不均性,但是沒有對亮度不均和顏色不均的人的感知進行考慮。因此,該技術沒有獲得準確評價顯示單元的質量的綜合性不均評價方法。
換而言之,對于現有技術,由于人們對顏色不均或亮度不均的可見度(visibility)的原因,所以難以進行適當的不均檢查(顏色不均檢查和亮度不均檢查),因此,尚有提高的空間。
希望提供一種與現有技術相比能夠進行更適當的不均檢查的不均檢查裝置及不均檢查方法。
根據本公開實施方式的不均檢查裝置包括:圖像拾取部,獲取測試對象的拾取圖像;圖像生成部,基于拾取圖像生成各個顏色不均檢查圖像以及亮度不均檢查圖像;計算部,利用顏色不均檢查圖像以及亮度不均檢查圖像兩者計算評價參數;以及檢查部,利用計算出的評價參數進行不均檢查。計算部根據顏色和亮度兩者的不均可見度計算評價參數。
根據本公開實施方式的不均檢查方法包括:獲取測試對象的拾取圖像;基于拾取圖像生成各個顏色不均檢查圖像以及亮度不均檢查圖像;利用顏色不均檢查圖像以及亮度不均檢查圖像兩者計算評價參數;以及利用計算出的評價參數進行不均檢查。根據顏色和亮度兩者的不均可見度來計算評價參數。
根據本公開實施方式的不均檢查裝置和不均檢查方法基于測試對象的拾取圖像生成各個顏色不均檢查圖像以及亮度不均檢查圖像,并利用顏色不均檢查圖像以及亮度不均檢查圖像兩者計算評價參數。考慮到顏色和亮度兩者的不均可見度來計算評價參數。因此,與沒有考慮可見度的情況下進行不均檢查的現有技術不同,實現了與人們感知更加一致的客觀的不均檢查(顏色不均檢查和亮度不均檢查)。
根據本公開實施方式的不均檢查裝置和不均檢查方法考慮到顏色和亮度的不均可見度使用顏色不均檢查圖像以及亮度不均檢查圖像來計算評價參數。因此,與現有技術不同,允許實現與人們感知更加一致的客觀的不均檢查。因此,與現有技術相比可以進行更恰當的不均檢查。
應理解,以上整體描述和下列詳細描述都是示例性的,旨在對所要求保護的技術做出進一步解釋。
附圖說明
包含有附圖以用于本發明的進一步地理解,并且被并入本說明書并構成本說明書的一部分。附圖示出了實施方式,并且與說明書一起共同用于解釋本技術的原理。
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