[發(fā)明專利]高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210199493.7 | 申請(qǐng)日: | 2012-06-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102721389A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-10-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 田偉;王汝冬;王平;王立朋;隋永新 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01B21/20 | 分類號(hào): | G01B21/20 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)春菁華專利商標(biāo)代理事務(wù)所 22210 | 代理人: | 張偉 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國(guó)省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高精度 光學(xué) 元件 檢測(cè) 工裝 夾具 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具,特別涉及于深紫外投影光刻物鏡系統(tǒng)光學(xué)元件納米級(jí)面形檢測(cè)的工裝夾具。
背景技術(shù)
光學(xué)儀器的成像質(zhì)量主要由光學(xué)元件的質(zhì)量決定,光學(xué)元件的質(zhì)量一般取決于其面形精度;而在目前大規(guī)模集成電路的制造過(guò)程中,光刻物鏡作為光刻系統(tǒng)的核心之一,其光學(xué)元件的面形精度要求已達(dá)到納米、亞納米級(jí)別。立式檢測(cè)工裝用于高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)光學(xué)元件的夾持。對(duì)于物鏡系統(tǒng)而言,機(jī)械支撐結(jié)構(gòu)極為重要,光刻系統(tǒng)對(duì)實(shí)際支撐條件下面形要求極端苛刻,重力環(huán)境等因素對(duì)面形影響非常嚴(yán)重,常用的解決方案是對(duì)帶實(shí)際支撐的光學(xué)元件進(jìn)行原位面形檢測(cè),為光學(xué)加工提供參考數(shù)據(jù),加工檢測(cè)不斷迭代收斂直至滿足面形要求,以此來(lái)消除重力等因素的影響。該過(guò)程中被檢測(cè)元件需要不斷與檢測(cè)工裝夾具支撐分離,所以由接觸、摩擦等因素引起的面形不確定性成為影響干涉儀檢測(cè)重復(fù)性的一個(gè)重要因素。因此,有必要設(shè)計(jì)一種高精度高重復(fù)性的光學(xué)元件面形檢測(cè)用工裝夾具,以滿足高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)的使用需求。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的在于解決深紫外投影光刻物鏡系統(tǒng)光學(xué)元件納米級(jí)面形檢測(cè)與光學(xué)加工中面形精修工藝迭代過(guò)程中的高精度重復(fù)裝卡問(wèn)題,提供一種高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具,包括:夾具框架、三個(gè)微分調(diào)節(jié)頭、三個(gè)主支撐單元和九個(gè)輔助支撐單元,三個(gè)主支撐單元呈120°分布,九個(gè)輔助支撐單元與三個(gè)主支撐單元呈30°分布,夾具框架通過(guò)線切割加工出三個(gè)撓性狹縫,撓性狹縫將夾具框架分割為外框和三個(gè)呈120°均布的撓性內(nèi)環(huán),三個(gè)微分頭調(diào)節(jié)器通過(guò)微分頭調(diào)節(jié)器鎖緊螺釘分別固定于夾具框架的三個(gè)撓性內(nèi)環(huán)上。
三個(gè)撓性內(nèi)環(huán)加工環(huán)形突出支撐體,主支撐單元由Hooke鉸鏈支撐腳和主支撐單元支撐板組成,Hooke鉸鏈支撐腳通過(guò)微過(guò)盈配合安裝到主支撐單元支撐板的安裝孔中,主支撐單元支撐板通過(guò)主支撐單元固定螺釘與支撐體上螺紋孔連接固緊。外框底部加工九個(gè)卡槽,輔助支撐單元置于卡槽內(nèi)通過(guò)電機(jī)座固定螺釘固定。
輔助支撐單元由直線調(diào)節(jié)電機(jī)、壓力彈簧、鋼球、電機(jī)座和電機(jī)座鎖緊螺釘組成,直線調(diào)節(jié)電機(jī)通過(guò)電機(jī)座鎖緊螺釘固定于電機(jī)座中,壓力彈簧一端與直線調(diào)節(jié)電機(jī)的直線輸出端連接,壓力彈簧另一端與鋼球連接。
本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,經(jīng)濟(jì)性好,并具有實(shí)時(shí)可控的優(yōu)點(diǎn),能夠在投影光刻物鏡的光學(xué)元件面形檢測(cè)過(guò)程中,實(shí)現(xiàn)光學(xué)元件高精度,高重復(fù)性的裝卡。
附圖說(shuō)明
圖1是高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具總體示意圖;
圖2是高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具A-A剖視圖;
圖3是高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具主示意圖;
圖4是高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具底部結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5是高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具的夾具框架示意圖;
圖6是高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具的主支撐單元的示意圖;
圖7是高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具的Hooke鉸鏈支撐腳示意圖;
圖8是高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具主支撐單元支撐板示意圖;
圖9和圖10是表示本發(fā)明中另外兩種形式的Hooke鉸鏈支撐腳的示意圖。
圖11是高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具輔助支撐單元的示意圖;
圖12是高精度光學(xué)元件面形檢測(cè)工裝夾具的微分調(diào)節(jié)頭徑向撓性約束結(jié)構(gòu)示意圖;
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步說(shuō)明:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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