[發明專利]定位目標的方法和裝置

有效

• 申請號: 201210199339.X
• 申請日: 2012-06-15
• 公開（公告）號: CN103513226A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發明（設計）人: 王悅
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G01S5/02
• 分類號: G01S5/02
• 代理公司: 北京龍雙利達知識產權代理有限公司 11329
• 代理人: 毛威;張亮

1.一種定位目標的方法，其特征在于，包括：

確定第1次定位的檢測節點；

根據所述第1次定位的檢測節點測量的定位數據，確定所述目標的第1次定位位置；

根據所述目標的第k-1次定位位置，確定第k次定位的檢測節點，k為正整數且k大于或等于2；

根據所述第k次定位的檢測節點測量的定位數據，確定所述目標的第k次定位位置；

根據所述目標的第k次定位位置，確定所述目標的最終位置。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述目標的第k次定位位置，確定所述目標的最終位置，包括：

若所述目標的第k次定位位置與所述目標的第k-1次定位位置相差不超過誤差門限，則將所述目標的第k次定位位置，確定為所述目標的最終位置；

若所述目標的第k次定位位置與所述目標的第k-1次定位位置相差超過誤差門限，則根據所述目標的第k+1次定位位置，確定所述目標的最終位置。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述目標的第k次定位位置，確定所述目標的最終位置，包括：

將所述目標的第k次定位位置，確定為所述目標的最終位置。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，所述根據所述目標的第k-1次定位位置，確定第k次定位的檢測節點，包括：

根據所述目標的第k-1次定位位置，確定第k次定位的新增檢測節點，所述新增檢測節點與所述目標的第k-1次定位位置之間的距離在預定范圍內；

將所述新增檢測節點，確定為所述第k次定位的檢測節點；或

將所述第k-1次定位的檢測節點中的至少一個檢測節點和所述新增檢測節點，確定為所述第k次定位的檢測節點。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述將所述第k-1次定位的檢測節點中的至少一個檢測節點和所述新增檢測節點，確定為所述第k次定位的檢測節點，包括：

將所述第k-1次定位的檢測節點和所述新增檢測節點，確定為所述第k次定位的檢測節點。

6.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，所述根據所述第1次或第k次定位的檢測節點測量的定位數據，確定所述目標的第1次或第k次定位位置，包括：

通過對所述第1次或第k次定位的檢測節點測量的定位數據進行去相關操作，然后進行信號重建，確定所述目標的第1次或第k次定位位置。

7.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，所述確定第1次定位的檢測節點，包括：

按照隨機選取或預先確定的方式，確定所述第1次定位的檢測節點。

8.一種定位目標的裝置，其特征在于，包括：

第一確定模塊，用于確定第1次定位的檢測節點；

第一處理模塊，用于根據所述第一確定模塊確定的所述第1次定位的檢測節點測量的定位數據，確定所述目標的第1次定位位置；

第二確定模塊，用于根據所述目標的第k-1次定位位置，確定第k次定位的檢測節點，k為正整數且k大于或等于2；

第二處理模塊，用于根據所述第二確定模塊確定的所述第k次定位的檢測節點測量的定位數據，確定所述目標的第k次定位位置；

第三處理模塊，用于根據所述第二處理模塊確定的所述目標的第k次定位位置，確定所述目標的最終位置。

9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述第三處理模塊具體用于，若所述目標的第k次定位位置與所述目標的第k-1次定位位置相差不超過誤差門限，則將所述目標的第k次定位位置，確定為所述目標的最終位置，并且，若所述目標的第k次定位位置與所述目標的第k-1次定位位置相差超過誤差門限，則根據所述目標的第k+1次定位位置，確定所述目標的最終位置。

10.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述第三處理模塊具體用于將所述目標的第k次定位位置，確定為所述目標的最終位置。