[發(fā)明專利]用于使用依賴于生命周期的編碼方案在存儲(chǔ)設(shè)備上進(jìn)行操作的系統(tǒng)和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210199295.0 | 申請(qǐng)日: | 2012-06-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102915766B | 公開(公告)日: | 2017-05-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 姚恩齡;吳子寧 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 馬維爾國(guó)際貿(mào)易有限公司 |
| 主分類號(hào): | G11C29/42 | 分類號(hào): | G11C29/42 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所11256 | 代理人: | 酆迅 |
| 地址: | 巴巴多斯*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 使用 依賴于 生命周期 編碼 方案 存儲(chǔ) 設(shè)備 進(jìn)行 操作 系統(tǒng) 方法 | ||
相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用
本公開內(nèi)容要求2011年6月13日遞交的美國(guó)臨時(shí)專利申請(qǐng)?zhí)朜o.61/496,253的權(quán)益,通過(guò)引用的方式將該申請(qǐng)整體并入本文。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及用于自適應(yīng)地操作存儲(chǔ)設(shè)備的系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù)
這里提供的背景描述是為了一般性地給出本公開內(nèi)容的上下文的目的。就本背景技術(shù)部分中所描述的工作的程度而言的其發(fā)明人的工作以及在遞交時(shí)不以其他方式屬于現(xiàn)有技術(shù)的描述的方面,不被明確地或隱含地承認(rèn)為對(duì)于本公開內(nèi)容的現(xiàn)有技術(shù)。
傳統(tǒng)閃存設(shè)備中的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤率依賴于存儲(chǔ)器的生命周期。具體而言,存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)完整性依賴于數(shù)據(jù)保存在存儲(chǔ)器中的持續(xù)時(shí)間以及數(shù)據(jù)所位于的塊、頁(yè)面或位置的編程-擦除(PE)周期的數(shù)量以及許多其他因素。傳統(tǒng)系統(tǒng)使用糾錯(cuò)碼電路(ECC)和編碼/解碼引擎來(lái)檢測(cè)/糾正當(dāng)向/從閃存設(shè)備寫入/讀取數(shù)據(jù)時(shí)所遇到的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。傳統(tǒng)系統(tǒng)也可以重映射塊或存儲(chǔ)位置以跨設(shè)備擴(kuò)展寫操作或者將塊標(biāo)記為壞的以避免到那些塊的未來(lái)寫操作。雖然這些系統(tǒng)成功地處理閃存數(shù)據(jù)存儲(chǔ)完整性,但是通過(guò)在較不復(fù)雜的編碼方案將足夠滿足要求時(shí)使用復(fù)雜編碼方案,這些方法時(shí)常浪費(fèi)資源來(lái)解碼并且編碼數(shù)據(jù),并且因此缺乏效率(即浪費(fèi)資源、消耗大量功率并且通過(guò)花費(fèi)更多時(shí)間來(lái)解碼而增加解碼延遲)。
發(fā)明內(nèi)容
提供了用于自適應(yīng)地操作電子存儲(chǔ)設(shè)備的系統(tǒng)和方法。確定存儲(chǔ)設(shè)備中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的完整性等級(jí)。基于該存儲(chǔ)設(shè)備的所確定的生命周期選擇編碼方案。使用所選擇的編碼方案在該存儲(chǔ)設(shè)備上執(zhí)行操作。
在一些實(shí)現(xiàn)中,該完整性等級(jí)指示與該存儲(chǔ)設(shè)備相關(guān)聯(lián)的編程-擦除周期的數(shù)量。在一些實(shí)現(xiàn)中,該完整性等級(jí)指示該存儲(chǔ)設(shè)備上的操作所導(dǎo)致的錯(cuò)誤的數(shù)量。在一些實(shí)現(xiàn)中,該生命周期指示基于該存儲(chǔ)設(shè)備上的初始操作所導(dǎo)致的錯(cuò)誤數(shù)量所確定的值。
在一些實(shí)施方式中,通過(guò)識(shí)別具有第一復(fù)雜度的第一編碼方案和具有第二復(fù)雜度的第二編碼方案來(lái)選擇該編碼方案。做出關(guān)于該完整性等級(jí)是否超過(guò)閾值的確定。響應(yīng)于確定該完整性等級(jí)超過(guò)該閾值,選擇該第一編碼方案和該第二編碼方案作為所選擇的編碼方案。否則,選擇該第一編碼方案而不是該第二編碼方案作為所選擇的編碼方案。在一些實(shí)現(xiàn)中,該第二復(fù)雜度大于該第一復(fù)雜度。在一些實(shí)現(xiàn)中,該第一編碼方案是BCH編碼方案并且該第二編碼方案是LDPC編碼方案。
在一些實(shí)施方式中,操作該存儲(chǔ)設(shè)備包括使用所選擇的編碼方案來(lái)編碼數(shù)據(jù)。將經(jīng)編碼數(shù)據(jù)寫入該存儲(chǔ)設(shè)備。在一些實(shí)施方式中,在該存儲(chǔ)設(shè)備上進(jìn)行操作包括從該存儲(chǔ)設(shè)備讀取數(shù)據(jù)。使用所選擇的編碼方案來(lái)解碼所讀取的數(shù)據(jù)。
在一些實(shí)施方式中,將該經(jīng)編碼數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)位置與和存儲(chǔ)位置相關(guān)聯(lián)的編碼方案交叉引用以選擇解碼方案。在一些實(shí)現(xiàn)中,該存儲(chǔ)設(shè)備是固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備。在一些實(shí)現(xiàn)中,用于編碼該數(shù)據(jù)的所選擇的編碼方案包括多個(gè)編碼方案的組合并且用于解碼該數(shù)據(jù)的所選擇的編碼方案包括該多個(gè)編碼方案的子集。在一些實(shí)現(xiàn)中,該多個(gè)編碼方案的子集包括系統(tǒng)編碼方案。
附圖說(shuō)明
在結(jié)合附圖來(lái)考慮下文的詳細(xì)描述之后,本公開內(nèi)容的以上以及其他目的和優(yōu)點(diǎn)將變得顯而易見,其中在附圖中相似的附圖標(biāo)記始終指相似的部分,并且其中:
圖1示出了根據(jù)本公開內(nèi)容的一些實(shí)施方式的使用依賴于生命周期的編碼方案來(lái)在存儲(chǔ)設(shè)備上進(jìn)行操作的示例性系統(tǒng);
圖2示出了根據(jù)本公開內(nèi)容的一些實(shí)施方式的示例性的依賴于生命周期的編碼電路;
圖3示出了根據(jù)本公開內(nèi)容的一些實(shí)施方式的示例性編碼映射;以及
圖4示出了根據(jù)本公開內(nèi)容的一些實(shí)施方式的用于使用依賴于生命周期的編碼方案來(lái)在存儲(chǔ)設(shè)備上進(jìn)行操作的過(guò)程的示例性流程圖。
具體實(shí)施方式
本公開內(nèi)容一般性地涉及使用依賴于生命周期的編碼方案來(lái)在存儲(chǔ)設(shè)備上進(jìn)行操作(讀/寫)。出于示例性目的,在這樣一種電子存儲(chǔ)系統(tǒng)的上下文中描述本公開內(nèi)容,其中在該電子存儲(chǔ)系統(tǒng)中所使用的存儲(chǔ)器是固態(tài)存儲(chǔ)器設(shè)備(例如,閃存設(shè)備)。但是,應(yīng)當(dāng)理解本公開內(nèi)容的教導(dǎo)同樣適用于任意其他電子存儲(chǔ)系統(tǒng),其中在該任意電子存儲(chǔ)系統(tǒng)中寫入到該存儲(chǔ)系統(tǒng)的數(shù)據(jù)基于該存儲(chǔ)系統(tǒng)(例如,隨機(jī)存取存儲(chǔ)器設(shè)備、可編程邏輯器件、非易失性存儲(chǔ)器、易失性存儲(chǔ)器、FeRAM、CBRAM、PRAM、SONOS、RRAM、賽道(Racetrack)存儲(chǔ)器、NRAM和千足蟲(Millipede)存儲(chǔ)設(shè)備)的生命周期而易于有讀取錯(cuò)誤。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于馬維爾國(guó)際貿(mào)易有限公司,未經(jīng)馬維爾國(guó)際貿(mào)易有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 專利分類
G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn);備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位,例如,損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù);存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置,例如,可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置,例如,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
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