[發明專利]內孔尖邊的精確測量裝置及測量方法

有效

• 申請號: 201210199281.9
• 申請日: 2012-06-16
• 公開（公告）號: CN102809339A
• 公開（公告）日: 2012-12-05
• 發明（設計）人: 馬永紅;賈少敏;呼延剛毅;曹彥榮;王家輝;趙文永
• 申請（專利權）人: 西安航空動力控制科技有限公司
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 西北工業大學專利中心 61204
• 代理人: 呂湘連

1.一種內孔尖邊的精確測量裝置，其特征在于：包括通過擋塊（2）和偏心螺釘（6）固定在底座（1）上的二維手動平臺（3）；二維手動平臺（3）通過兩個垂直方向上的微分驅動頭分別提供x方向和y方向的平移；所述二維手動平臺（3）上固定有V型塊Ⅰ（4）；表架（7）通過底座（1）上的鍵槽實現其在底座（1）上的x方向滑動；還有一個滑塊（10）通過底座（1）上的導向槽實現x方向的滑動且能通過梯形螺栓（12）固定在底座（1）上的T型槽中；滑塊（10）上固定有一個支座（9），支座（9）上有一個通過調節螺釘（11）固定的能實現水平面360°轉動的V型塊Ⅱ（8）；

一個帶十字刻線的90°內窺鏡通過壓板Ⅰ（5）固定在V型塊Ⅰ（4）上，同時，待測尖邊的零件通過壓板Ⅱ（14）固定在V型塊Ⅱ（8）上，調整V型塊Ⅱ（8），使內窺鏡軸線和零件內孔軸線一致；

或者上段話的技術特征替換為：帶十字刻線的90°內窺鏡通過壓板Ⅱ（14）固定在V型塊Ⅱ（8）上，同時，待測尖邊的零件通過壓板Ⅰ（5）固定在V型塊Ⅰ（4）上，調整V型塊Ⅱ（8），使內窺鏡軸線和零件內孔軸線一致。

2.一種如權利要求1所述的內孔尖邊的精確測量裝置，其特征在于：表架（7）上固定有一個千分表。

3.一種內孔尖邊的精確測量裝置，其特征在于：包括固定在底座（1）上的二維工具顯微鏡，一個帶十字刻線的90°內窺鏡通過壓板Ⅰ（5）固定在二維工具顯微鏡上的V型塊Ⅰ（4）上，同時，待測尖邊的零件通過壓板Ⅱ（14）固定在V型塊Ⅱ（8）上，調整V型塊Ⅱ（8），使內窺鏡軸線和零件內孔軸線一致；

或者，帶十字刻線的90°內窺鏡通過壓板Ⅱ（14）固定在V型塊Ⅱ（8）上，同時，待測尖邊的零件通過壓板Ⅰ（5）固定在二維工具顯微鏡V型塊Ⅰ（4）上，調整?V型塊Ⅱ（8），使內窺鏡軸線和零件內孔軸線一致。

4.一種如權利要求1～3任一所述的內孔尖邊的精確測量裝置，其特征在于：所有部件均經過熱處理和表面處理。

5.一種使用如權利要求1所述裝置進行內孔尖邊精確測量的方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟1：通過微分驅動頭調整二維手動平臺（3），使內窺鏡y向刻線與零件內孔尖邊的垂直邊重合，十字刻線的交叉點與零件內孔尖邊理論點重合；讀取二維手動平臺（3）上x方向微分驅動頭讀數a1；

步驟2：通過移動x方向微分驅動頭，使得內窺鏡十字刻線的的交點與尖邊倒角最大點重合；讀取二維手動平臺（3）上x方向微分驅動頭讀數a2；

步驟3：得到內孔尖邊值a：a＝|a2-a1|。

6.一種使用如權利要求2所述裝置進行內孔尖邊精確測量的方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟1：通過微分驅動頭調整二維手動平臺（3），使內窺鏡y向刻線與零件內孔尖邊的垂直邊重合，十字刻線的交叉點與零件內孔尖邊理論點重合；讀取表架（7）上千分表讀數b1；

步驟2：通過移動x方向微分驅動頭，使得內窺鏡十字刻線的的交點與尖邊倒角最大點重合；讀取表架（7）上千分表讀數b2；

步驟3：得到內孔尖邊值a：a＝|b2-b1|。

7.一種使用如權利要求3所述裝置進行內孔尖邊精確測量的方法，其特征在于：如下步驟：

步驟1：通過調整二維工具顯微鏡，，使內窺鏡y向刻線與零件內孔尖邊的垂直邊重合，十字刻線的交點與零件內孔尖邊理論點重合；直接讀取二維工具顯微鏡方向的?讀數c1；

步驟2：通過調整二維工具顯微鏡，使得內窺鏡十字刻線的交點與尖邊倒角最大點重合；直接讀取二維工具顯微鏡方向的讀數c2；

步驟3：得到內孔尖邊值a：a＝|c2-c1|。?