[發明專利]一種直流大電流比較儀的電流比例的串并聯自校準方法

無效

• 申請號: 201210199262.6
• 申請日: 2012-06-14
• 公開（公告）號: CN102736050A
• 公開（公告）日: 2012-10-17
• 發明（設計）人: 邵海明;林飛鵬;滑曉欣;梁波;賈凱
• 申請（專利權）人: 中國計量科學研究院
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 北京思創畢升專利事務所 11218
• 代理人: 郭韞

1.一種直流大電流比較儀的電流比例的串并聯自校準方法，其特征在于：設直流大電流比較儀的標稱電流比例為K＝n∶1，其一次繞組包括n個能夠串聯或并聯連接的同標稱值母線繞組，每個母線繞組與二次繞組的標稱匝數比N均為1∶n，所述n個母線繞組在鐵芯的圓周上均勻分布；

所述方法首先將該直流大電流比較儀的一次繞組的全部母線繞組同向串聯連接，使得該直流大電流比較儀的電流比例變成1∶1，然后對其進行1∶1自校準；1∶1自校準完成后將該直流大電流比較儀一次繞組的全部母線繞組并聯，并且使各個母線繞組均勻分流，這樣該直流大電流比較儀的一次繞組和二次繞組的標稱比例N變成1∶n，其電流比例K變成n∶1，將其作為標準比較儀對更大比例的直流大電流比較儀進行校準。

2.根據權利要求1所述的直流大電流比較儀的電流比例的串并聯自校準方法，其特征在于：所述1∶1自校準是這樣實現的：將一次繞組的一端與電流源的正極連接，另一端與微安表的負極連接，微安表的正極與電流源的負極連接，將二次繞組的一端與微安表的正極連接，另一端與微安表的負極連接，通過微安表測得一次電流和二次電流的偏差ΔI_串，然后通過下式得到一次繞組和二次繞組在比例為1∶1時電流比例相對偏差ε_X1，完成自校準：

式中，ε_串/s表示直流大電流比較儀串聯時一次繞組和二次繞組等效匝數比1∶1的相對偏差，I_串為一次電流。

3.根據權利要求2所述的直流大電流比較儀的電流比例的串并聯自校準方法，其特征在于：所述將該直流大電流比較儀的一次繞組的全部母線繞組并聯是這樣實現的：保持各個母線繞組的機械結構以及其相對于直流大電流比較儀的空間位置不變，將各個母線的首端連接到一起，將各個母線的尾端連接到一起，這樣就將串聯比例轉換成為并聯比例。

4.根據權利要求3所述的直流大電流比較儀的電流比例的串并聯自校準方法，其特征在于：所述將其作為標準比較儀對更大比例的直流大電流比較儀進行校準是這樣實現的：

(1)將經過1∶1自校準以及一次繞組的全部母線繞組并聯后電流比例K變成n∶1的所述直流大電流比較儀作為標準比較儀；設自然數m為2；

(2)測量所述標準比較儀的一次繞組的各個母線繞組通過的電流i_i，計算得到I_i相對于各母線繞組電流的平均值的最大電流偏差

(3)將被測比較儀的一次繞組設計為n個與二次繞組構成N＝1∶n^m的同標稱值母線繞組，所述n個母線繞組在鐵芯的圓周上均勻分布；將所有母線繞組同向串聯后，成為K＝n^m-1∶1的被測比較儀；

(4)將所述標準比較儀的一次繞組和所述被校比較儀的一次繞組同向或反向串聯連接，接入電流源；將標準比較儀的二次電流和被校比較儀的二次電流反向通過微安表，由微安表測得標準比較儀和被校比較儀的二次電流之差ΔI，通過下式得到被校比較儀的比例偏差，完成對被校比較儀的校準：

Wx1Wx2=Ws1Ws2+ΔIIs2]]>

ϵx=ϵs+ΔIIs2]]>

其中為被校比較儀的串聯比例，ε_x為其相對偏差；為標準比較儀的并聯比例，ε_s為其相對偏差；

(5)將校準后的被校比較儀的一次繞組的全部母線繞組并聯，并且使各個母線繞組均勻分流，其電流比例K則變為n^m∶1，將電流比例K變為n^m∶1的被校比較儀作為標準比較儀；

(6)使m＝m+1，然后重復步驟(2)至步驟(5)，完成對更大比例的直流大電流比較儀的校準。