[發(fā)明專利]一種厚多晶硅的制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210197858.2 | 申請(qǐng)日: | 2012-06-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103515200A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 荊二榮;周國(guó)平;夏長(zhǎng)奉;蘇巍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無(wú)錫華潤(rùn)上華半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/205 | 分類號(hào): | H01L21/205 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 高為;王忠忠 |
| 地址: | 214028 江蘇省無(wú)*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 多晶 制備 方法 | ||
1.一種厚多晶硅的制備方法,包括:
在硅片的正表面上淀積一層薄的多晶硅層作為種子層;以及
在所述種子層上,通過(guò)使用外延氣體,外延生長(zhǎng)出一層厚的多晶硅層。
2.如權(quán)利要求1所述的厚多晶硅的制備方法,其中,所述淀積一層薄的多晶硅層作為種子層的步驟通過(guò)低壓化學(xué)氣相淀積來(lái)實(shí)現(xiàn)。
3.如權(quán)利要求1所述的厚多晶硅的制備方法,其中,所述淀積一層薄的多晶硅層作為種子層的步驟通過(guò)固相晶化法或者金屬誘導(dǎo)法來(lái)實(shí)現(xiàn)。
4.如權(quán)利要求1所述的厚多晶硅的制備方法,其中,所述淀積一層薄的多晶硅層作為種子層的步驟通過(guò)脈沖快速熱燒結(jié)法或者準(zhǔn)分子激光晶化來(lái)實(shí)現(xiàn)。
5.如權(quán)利要求1所述的厚多晶硅的制備方法,其中,所述外延氣體是三氯氫硅。
6.如權(quán)利要求1所述的厚多晶硅的制備方法,其中,所述外延氣體是四氯化硅、硅烷、或者二氯硅烷。
7.如權(quán)利要求1所述的厚多晶硅的制備方法,其中,所述外延氣體的溫度是900至1200攝氏度。
8.如權(quán)利要求1至6中任意一項(xiàng)所述的厚多晶硅的制備方法,其中,所述種子層的厚度是50至1000nm。
9.如權(quán)利要求1所述的厚多晶硅的制備方法,其中,所述硅片是裸硅片或者表面沉積有介質(zhì)層的硅片。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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